用于光学相干断层摄影的成像技术

    公开(公告)号:CN104394756B

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201280072880.2

    申请日:2012-05-03

    CPC classification number: G01B9/02035 A61B3/102 A61B3/117 G01B9/02091

    Abstract: 提供一种用于光学相干断层摄影的技术。关于该技术的设备方面,一种成像设备(28)包括用于限定旋转轴(32)的基部(30);用于围绕旋转轴(32)旋转的、安装到基部(30)的扫描和聚焦组件(34);以及用于围绕旋转轴(32)旋转地驱动扫描和聚焦组件(34)的驱动单元(50)。扫描和聚焦组件(34)包括用于聚焦成像辐射束(36)以产生具有焦点(42、42a、42b)的聚焦的成像辐射束(44、44a、44b)的聚焦设备(40)、用于扫描成像辐射束(36)的扫描构件(38),以及控制器(45),其耦合到驱动单元(50)和扫描构件(38)并且被配置为控制扫描构件(38)以引起焦点(42、42a、42b)相对于扫描和聚焦组件(34)沿着预定轨迹(46、46a、46b)的移动。

    用于光学相干断层摄影的成像技术

    公开(公告)号:CN104394756A

    公开(公告)日:2015-03-04

    申请号:CN201280072880.2

    申请日:2012-05-03

    CPC classification number: G01B9/02035 A61B3/102 A61B3/117 G01B9/02091

    Abstract: 本发明提供一种用于光学相干断层摄影的技术。关于该技术的设备方面,一种成像设备(28)包括用于限定旋转轴(32)的基部(30);用于围绕旋转轴(32)旋转的、安装到基部(30)的扫描和聚焦组件(34);以及用于围绕旋转轴(32)旋转地驱动扫描和聚焦组件(34)的驱动单元(50)。扫描和聚焦组件(34)包括用于聚焦成像辐射束(36)以产生具有焦点(42、42a、42b)的聚焦的成像辐射束(44、44a、44b)的聚焦设备(40)、用于扫描成像辐射束(36)的扫描构件(38),以及控制器(45),其耦合到驱动单元(50)和扫描构件(38)并且被配置为控制扫描构件(38)以引起焦点(42、42a、42b)相对于扫描和聚焦组件(34)沿着预定轨迹(46、46a、46b)的移动。

    用于干扰式测量距离的装置

    公开(公告)号:CN105143813B

    公开(公告)日:2018-01-23

    申请号:CN201480021342.X

    申请日:2014-03-11

    Abstract: 本发明涉及一种用于在两个物体之间干扰式测量距离的装置,两个物体相互间沿着至少一移动方向活动地设置。设有至少一光源以及至少一分裂元件,它将由光源发射的射束在分裂位置上分裂成至少两个分射束,它们以不同的角度继续传播。此外所述装置包括至少一偏转元件,它引起入射到其上的分射束偏转到汇合位置方向,在汇合位置分裂的分射束出现干扰的叠加,并且所述分射束在分裂位置与汇合位置之间的光程这样构成,使分射束在分裂位置与汇合位置之间经过的光学路程长度在两个物体之间的距离变化的情况下是一致的。此外设有至少一检测装置用于由干扰的分射束的叠加副中检测与距离有关的信号。

    短相干干涉仪
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101878410B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN200880118045.1

    申请日:2008-09-26

    Inventor: M·哈克

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量样品(P)的彼此轴向间隔设置的多个区域(T1,T2)的短相干干涉仪,所述样品(P)特别地为眼睛(A),所述干涉仪包括至少一个测量束路径和一个参考束路径(R),多个单独的测量束通过所述至少一个测量束路径而入射在所述样品(P)上,参考束通过所述参考束路径(R)而被导引,单独的测量束(M1,M2)与所述参考束路径叠加且引起干涉,其中所述单独的测量束(M1,M2)在被入射到所述样品(P)上时相对于彼此轴向偏移,偏移量适应于轴向间隔(d),并且所述干涉仪设备(I)使每个单独的测量束(M1,M2)以干涉的方式与所述参考束叠加且将所述束导引到与各自的测量束相关联的检测器(D1,D2,…,DN),其中所述单独的测量束(M1,M2,…,MN)被组合成与所述参考束叠加的混合束,在所述混合束中,所述测量束具有不同的相位。

    短相干干涉仪
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101878410A

    公开(公告)日:2010-11-03

    申请号:CN200880118045.1

    申请日:2008-09-26

    Inventor: M·哈克

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量样品(P)的彼此轴向间隔设置的多个区域(T1,T2)的短相干干涉仪,所述样品(P)特别地为眼睛(A),所述干涉仪包括至少一个测量束路径和一个参考束路径(R),多个单独的测量束通过所述至少一个测量束路径而入射在所述样品(P)上,参考束通过所述参考束路径(R)而被导引,单独的测量束(M1,M2)与所述参考束路径叠加且引起干涉,其中所述单独的测量束(M1,M2)在被入射到所述样品(P)上时相对于彼此轴向偏移,偏移量适应于轴向间隔(d),并且所述干涉仪设备(I)使每个单独的测量束(M1,M2)以干涉的方式与所述参考束叠加且将所述束导引到与各自的测量束相关联的检测器(D1,D2,…DN),其中所述单独的测量束(M1,M2,…MN)被组合成与所述参考束叠加的混合束,在所述混合束中,所述测量束具有不同的相位。

    一种白光干涉仪Z轴宏微精密调焦装置及其调焦方法

    公开(公告)号:CN106500587A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201610903674.1

    申请日:2016-10-17

    CPC classification number: G01B9/02035

    Abstract: 本发明公开了一种白光干涉仪Z轴宏微精密调焦装置,包括直线导轨、刚性框架、核心运动工作平台、柔性铰链、传感器、直线驱动器和光栅尺;如此设置,本发明公开的白光干涉仪Z轴宏微精密调焦装置,其能够有效实现大范围运动同时保证精密进给,并通过宏微复合测量获得精密运动平台在经过调焦后的精确位移读数;本发明还公开了一种用于上述白光干涉仪Z轴宏微精密调焦装置的调焦方法。

Patent Agency Ranking