电子设备及其制造方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100495754C

    公开(公告)日:2009-06-03

    申请号:CN200610058368.9

    申请日:2006-03-03

    Abstract: 本发明提供一种能提高性能的电子设备及其制造方法。在电子设备(压电设备)(74)的制造方法中,在层积体(60)的电极膜(46A)上形成的压电体膜(52A)的外缘(R1)与电极膜(46A)的外缘(R2)相比为内侧。因此在从层积基板(61)去除单晶硅基板(14)时,在蚀刻液浸入聚酰亚胺(72)与层积体(60)之间的情况下,该蚀刻液到达压电体膜(52A)前会绕电极膜(46A)迂回。即,蚀刻液到达压电体膜(52A)的路径(A)因电极膜(46A)而有意延长。所以,在压电设备(74)的制造方法中,蚀刻液难以到达压电体膜(52A)。由此能够有意抑制压电体膜(52A)溶解,提高制作的压电设备(74)的性能。

    角速度传感器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105318866A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201510274848.8

    申请日:2015-05-26

    CPC classification number: H01L41/047 G01C19/56 G01C19/5607

    Abstract: 本发明所涉及角速度传感器,其中,在压电元件中,压电体膜、设置在压电体膜的一个面的第1电极膜以及设置在压电体膜的另一个面的第2电极膜成为层叠结构,第1电极膜的外轮廓和第2电极膜的外轮廓位于从层叠方向看比压电体膜的外轮廓更靠外侧的位置,有机树脂膜接触于压电体膜,抑制了噪声的产生。

    压电体元件和陀螺仪传感器

    公开(公告)号:CN101853916A

    公开(公告)日:2010-10-06

    申请号:CN201010155013.8

    申请日:2010-03-31

    CPC classification number: G01C19/5607 H01L41/0815 H01L41/1876 H01L41/316

    Abstract: 本发明的技术问题是提供具有在无应力状态下能够对压电体膜进行成膜的压电体元件和陀螺仪传感器。压电体膜包含a轴取向晶体和c轴取向晶体,a轴取向晶体的晶格常数和c轴取向晶体的晶格常数之差为0.06以内。本发明人新发现了:在满足a轴取向晶体的晶格常数和c轴取向晶体的晶格常数之差为0.06以内的条件的时候,能够将压电特性维持在良好的特性值,并且能够减少积蓄在压电体膜内部的应力。可以认为:在满足上述条件的情况下,由于对c轴取向晶体和a轴取向晶体作适度平衡,因而压电体膜的晶体颗粒在理想的状态下被最密地填充于基底上,这有助于应力的降低。

    法拉第转子及用其的光部件

    公开(公告)号:CN100399111C

    公开(公告)日:2008-07-02

    申请号:CN200610019815.X

    申请日:2003-01-24

    Abstract: 本发明涉及如同光衰减器和光开关或极化波控制器等使法拉第旋转角变化,控制光的偏振面的光部件,其目的在于提供可采用小型的耗电低的磁路,而且可把法拉第转子的插入损失抑制至较低程度的光部件。按照具有由石榴石单晶形成的法拉第转子、把小于法拉第转子的饱和磁场Hs的外部磁场H施加到法拉第转子的磁路的原则构成。

    电子设备及其制造方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1881639A

    公开(公告)日:2006-12-20

    申请号:CN200610058368.9

    申请日:2006-03-03

    Abstract: 本发明提供一种能提高性能的电子设备及其制造方法。在电子设备(压电设备)(74)的制造方法中,在层积体(60)的电极膜(46A)上形成的压电体膜(52A)的外缘(R1)与电极膜(46A)的外缘(R2)相比为内侧。因此在从层积基板(61)去除单晶硅基板(14)时,在蚀刻液浸入聚酰亚胺(72)与层积体(60)之间的情况下,该蚀刻液到达压电体膜(52A)前会绕电极膜(46A)迂回。即,蚀刻液到达压电体膜(52A)的路径(A)因电极膜(46A)而有意延长。所以,在压电设备(74)的制造方法中,蚀刻液难以到达压电体膜(52A)。由此能够有意抑制压电体膜(52A)溶解,提高制作的压电设备(74)的性能。

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