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公开(公告)号：CN1192022A
公开(公告)日：1998-09-02
申请号：CN98100183.1
申请日：1998-01-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G11B5/58
CPC classification number: G11B5/4806 , G11B5/48 , G11B5/56 , G11B5/58 , G11B5/6011 , G11B33/10
Abstract: 本发明的磁头检查方法及检查装置,用支承体12支承磁头单元H的板簧1的固定部1a,用推压销22a推压臂部1d,对滑块4赋与与实际安装时的Z高度相同的变位。在该状态,测定滑块4的倾斜量,再用工具30扭转臂部1d,矫正转动方向的变形。以与安装在装置上同样的状态进行板簧的矫正,可进行正确的矫正动作。
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公开(公告)号：CN1282953A
公开(公告)日：2001-02-07
申请号：CN00120910.8
申请日：2000-08-01
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: G11B5/3903 , G11B5/3103 , G11B5/40 , G11B5/4833 , G11B5/486 , H05K1/0259 , H05K1/0293 , H05K3/3457 , H05K2201/0305 , H05K2203/0195 , H05K2203/0278 , H05K2203/173
Abstract: 本发明提供一种可防止MR磁头元件受静电破坏的磁头及其制造方法。该磁头采用这样的电路基板,即该电路基板至少具备构成电路的一对导线15a、15b,分别与导线15a、15b连接的连接区23、24,分别形成在连接区23、24上的软凸焊点25、26,软凸焊点25、26是这样相邻地配置,在各软凸焊点25、26受挤压时,被压扁的周边部25a、26a重合。本发明采用具备该电路基板4的磁头。
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公开(公告)号：CN1227380A
公开(公告)日：1999-09-01
申请号：CN99100777.8
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G11B5/39
Abstract: 在用配线材料连接滑块和闸板的工序，和使承载梁和滑块位置对准并接合起来的工序中，利用半导电性材料制造配线材料的闸板有可能接触的滑块夹具。又，关闭开关SW1，使用半导电体(表面电阻=1×106～1×1012欧姆/平方)制成的座与地面连接,同时,打开开关SW2,使端子与DCR检测装置断开之后，将磁头装置和引线安装在设置部分内。经过规定的时间之后，在打开开关SW1，同时关闭开关SW2的状态下，测定磁头装置的特性。
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公开(公告)号：CN1326707C
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN200510009089.9
申请日：2005-02-18
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: H01L24/85 , B41J2/14072 , B41J2/1601 , B41J2/1623 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/78 , H01L2224/02166 , H01L2224/05554 , H01L2224/05624 , H01L2224/45015 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48455 , H01L2224/4847 , H01L2224/48624 , H01L2224/49175 , H01L2224/49431 , H01L2224/78301 , H01L2224/85148 , H01L2224/85205 , H01L2924/00011 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01024 , H01L2924/01028 , H01L2924/01033 , H01L2924/01073 , H01L2924/01074 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01322 , H01L2924/014 , H01L2924/09701 , H01L2924/10161 , H01L2924/14 , H01L2924/15787 , H01L2924/19043 , H01L2924/20752 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种即使以窄间距间隔也能准确地结合连接分立电极和IC电极焊片，从而得到廉价且高性能的热敏头及其结合连接方法。所述热敏头具有头基板和驱动IC基板，所述头基板具有：多个发热电阻器；公用电极；多个分立电极，所述驱动IC基板具有：多个驱动IC；多个IC电极焊片，通过接合线连接了对应的分立电极和IC电极焊片，在上述热敏头中，接合线的线径在23μm以下，具有接合部和上升部，所述接合部的宽度比线径宽，与分立电极或上述IC电极焊片接合，所述上升部是从该接合部上升后从分立电极和IC电极焊片浮上来的状态，IC电极焊片的间距间隔在60μm以下，接合线的接合部的表面积在0.0015mm2以上，并且，接合线的上升部的截面积在0.00025mm2以上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1657298A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN200510009089.9
申请日：2005-02-18
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: H01L24/85 , B41J2/14072 , B41J2/1601 , B41J2/1623 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/78 , H01L2224/02166 , H01L2224/05554 , H01L2224/05624 , H01L2224/45015 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48455 , H01L2224/4847 , H01L2224/48624 , H01L2224/49175 , H01L2224/49431 , H01L2224/78301 , H01L2224/85148 , H01L2224/85205 , H01L2924/00011 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01024 , H01L2924/01028 , H01L2924/01033 , H01L2924/01073 , H01L2924/01074 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01322 , H01L2924/014 , H01L2924/09701 , H01L2924/10161 , H01L2924/14 , H01L2924/15787 , H01L2924/19043 , H01L2924/20752 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种即使以窄间距间隔也能准确地结合连接分立电极和IC电极焊片，从而得到廉价且高性能的热敏头及其结合连接方法。所述热敏头具有头基板和驱动IC基板，所述头基板具有：多个发热电阻器；公用电极；多个分立电极，所述驱动IC基板具有：多个驱动IC；多个IC电极焊片，通过接合线连接了对应的分立电极和IC电极焊片，在上述热敏头中，接合线的线径在23μm以下，具有接合部和上升部，所述接合部的宽度比线径宽，与分立电极或上述IC电极焊片接合，所述上升部是从该接合部上升后从分立电极和IC电极焊片浮上来的状态，IC电极焊片的间距间隔在60μm以下，接合线的接合部的表面积在0.0015mm2以上，并且，接合线的上升部的截面积在0.00025mm2以上。
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公开(公告)号：CN1208756C
公开(公告)日：2005-06-29
申请号：CN02122206.1
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置，该磁头具有薄膜元件，并且设有与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时，不会烧毁MR头。
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公开(公告)号：CN1204544C
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN99100777.8
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G11B5/39
Abstract: 本发明涉及一种薄膜磁头的制造方法和制造装置，可防止由静电引起的薄膜元件的破损。薄膜磁头装置将装有薄膜元件的滑块安装在弹性支承构件上，并设有与薄膜元件导通的导电引线，和覆盖导电引线的绝缘体构成的配线材料。薄膜磁头的制造方法包括如下工序：使配线材料的导电引线与固定在夹具上的滑块的薄膜元件连接的工序，将弹性支承构件与滑块接合的工序，将配线材料的基体端部上形成的台阶部分固定在夹具上的工序，和通过在配线材料的台阶部分检测薄膜元件的磁特性的工序中，将形成夹具的台阶部分的那一部分和/或固定滑块的部分，设置或固定在由表面电阻在1×106欧姆/平方以上、1×1012欧姆/平方以下的半导电性材料制成的区域中。
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公开(公告)号：CN1193348C
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN00120910.8
申请日：2000-08-01
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: G11B5/3903 , G11B5/3103 , G11B5/40 , G11B5/4833 , G11B5/486 , H05K1/0259 , H05K1/0293 , H05K3/3457 , H05K2201/0305 , H05K2203/0195 , H05K2203/0278 , H05K2203/173
Abstract: 本发明提供一种可防止MR磁头元件受静电破坏的磁头及其制造方法。该磁头采用这样的电路基板，即该电路基板至少具备构成电路的一对导线(15a、15b)，分别与导线(15a、15b)连接的连接区(23、24)，分别形成在连接区(23、24)上的软凸焊点(25、26)，软凸焊点(25、26)是这样相邻地配置，在各软凸焊点(25、26)受挤压时，被压扁的周边部(25a、26a)重合。本发明采用具备该电路基板(4)的磁头。
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公开(公告)号：CN1389856A
公开(公告)日：2003-01-08
申请号：CN02122206.1
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置,该磁头具有薄膜元件,并且设有与上述薄膜元件连接的引线,该检查方法由下列几个工序组成:将设在一个基座上的座接地的工序;将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序;在将上述磁头固定在上述基座上的同时,将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序;在经过规定的时间后,将该座与地面分离的工序;和将上述端子与DCR检测装置连接,进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时,不会烧毁MR头。
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