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公开(公告)号：CN108871223B
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN201810957472.4
申请日：2018-08-22
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开的一种卫星天线热变形自动测量系统及方法，包括测量相机、相机温度控制系统、悬臂及自旋机构、数据传输控制分析系统，测量相机，用于获得被测卫星天线在不同工作环境下的图片，所述图片中包含摄影单点靶标、编码点和基准尺；相机温度控制系统，用于在不同高、低温工作环境下保护测量相机，使其工作在可承受的温度范围内；悬臂及自旋机构，用于驱动测量相机绕被测天线的旋转和相机自身的旋转；数据传输控制分析系统，用于控制测量相机、温度控制系统及悬臂及自旋机构的工作，并根据测量图片及基准尺给出的长度基准，计算得到摄影单点靶标、编码点的空间坐标，再根据摄影单点靶标、编码点的空间坐标计算得到天线热变形。该发明大幅提高了天线热变形测量的能力、精度和效率。
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公开(公告)号：CN113513977B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110559852.4
申请日：2021-05-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种高精度天线反射镜位姿和形状的测量方法：采用点坐标激光干涉测量技术测量天线安装板基准孔空间坐标并通过基准转换建立安装坐标系，在安装坐标系上，利用点坐标激光测量配合直径12.7mm球棱镜分别接触测量反射镜基准孔周边镜面任意位置，获得与基准孔数量对应的任意球棱镜中心坐标，将所测球棱镜中心坐标沿安装坐标系下反射镜面理论模型的法向负方向偏移球棱镜半径偏差6.35mm形成一组反射镜表面实测点，同时沿反射镜面的法向负方向向镜面投影形成一组表面理论点即虚拟基准点。将实测点与理论点进行基准转换，获得反射镜实际安装位置的位姿参数，即为反射镜的位姿装配精度测量结果，同时，通过反射镜表面大量测点与理论模型的直接对比，获得反射镜型面参数，即为反射镜在对应位姿下的形状精度。
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公开(公告)号：CN115372721A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210907500.8
申请日：2022-07-29
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种太赫兹紧缩场场地来波方向的标定方法，基于主反射器实际面型整体寻优确定紧缩场场地来波方向，基于大地水平的场地来波方向调平，实现场地来波方向变化的随时监测，标定场地来波方向。在太赫兹紧缩场进行星载天线电性能测量时，可以快速、非接触、高精度获得场地来波方向，实现待测天线场地校准。
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公开(公告)号：CN113513977A
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202110559852.4
申请日：2021-05-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种高精度天线反射镜位姿和形状的测量方法：采用点坐标激光干涉测量技术测量天线安装板基准孔空间坐标并通过基准转换建立安装坐标系，在安装坐标系上，利用点坐标激光测量配合直径12.7mm球棱镜分别接触测量反射镜基准孔周边镜面任意位置，获得与基准孔数量对应的任意球棱镜中心坐标，将所测球棱镜中心坐标沿安装坐标系下反射镜面理论模型的法向负方向偏移球棱镜半径偏差6.35mm形成一组反射镜表面实测点，同时沿反射镜面的法向负方向向镜面投影形成一组表面理论点即虚拟基准点。将实测点与理论点进行基准转换，获得反射镜实际安装位置的位姿参数，即为反射镜的位姿装配精度测量结果，同时，通过反射镜表面大量测点与理论模型的直接对比，获得反射镜型面参数，即为反射镜在对应位姿下的形状精度。
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公开(公告)号：CN107883855B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201710983817.9
申请日：2017-10-20
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于摄影测量的高低温环境微变形测试方法，包括如下步骤：安装天线肋、底座和平台；调节温箱；设置测站和测点；调整相机；建模计算。本发明通过非接触摄影测量方法，采用倾斜安装方式及大理石平台辅助测量，优化了被测点的测量角度，提高了测量系统的稳定性，同时采用一种分层拍摄的方法结合一种三点式测量方式，在层数不少于两层的测量状态下，优化了测量网型、交会角度及图像匹配过程，在增大测量范围的情况下提高了测量的精度，实现了大尺寸工件高低温微变形测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106643582B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201611039567.5
申请日：2016-11-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 一种大型网状天线反射器型面高精度测试方法，采用高精度工业数字化摄影测量技术，利用单个相机从不同位置和方向分别记录空间同一场景的图像，通过图像处理并根据已知的相机参数，计算得到其相对于空间中某个坐标系的三维坐标，将这些坐标值与理论型面进行拟合得到天线的型面精度。为了提高大口径、小基准、高精度大型柔性网状天线反射器的型面测量精度，通过设计的一套基准转换装置和高精度长基准尺，采用摄影测量系统最优工艺参数，对大型柔性网状天线反射器型面开展高精度测试。
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公开(公告)号：CN107806853A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201710865062.2
申请日：2017-09-22
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种远距离双天线指向校准的方法和系统，属于工程测量技术领域。本发明首先采用多经纬仪测量系统测量近距离天线上标志点的坐标值，采用全站仪测量系统测量远距离天线上标志点的坐标值；然后根据经纬仪系统和全站仪系统的相对定向和绝对定向将两系统的坐标系统一；再通过测量的标志点得到天线的指向；最后在统一的坐标系下计算两天线指向的夹角，对天线指向进行调整；由于指向夹角为空间夹角，调整时要将空间角分别在水平和竖直方向进行投影，以便对天线进行姿态的调整。本发明通过多经纬仪和全站仪联合测量系统，将相距较远的两个天线的指向统一到一个坐标系下，直接计算、调整两天线的指向，该方法简单易行。
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公开(公告)号：CN107478210A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710580622.X
申请日：2017-07-17
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01C15/00
Abstract: 本发明涉及一种环形可展开天线的场地校准方法，该方法主要通过激光跟踪测试系统和工业摄影测量系统相结合的方式完成环形可展开天线电测场地校准，属于天线机械测量技术领域。本发明的方法是针对大型网状环形可展开天线场地校准,有效解决了大口径天线场地校准困难、效率低下问题。本发明采用激光跟踪测量和摄影测量进行场地校准，两种测量均为单机测量，不像经纬仪系统，无需联机使用，可大大缩短测量系统准备时间，提高天线场地校准效率。
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公开(公告)号：CN109115123A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201810957479.6
申请日：2018-08-22
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种镀膜表面型面精度测试方法：测量经纬仪靶球中心和镀膜表面基准孔在双经纬仪交会测量坐标系下的坐标值；采用基准转换方法，得到经纬仪靶球中心在镀膜表面基准坐标系下的空间坐标值；将双经纬仪靶球置换成跟踪仪靶球，采用激光跟踪测量方法，测量跟踪仪靶球中心在跟踪仪测量坐标系下的空间坐标值；使用跟踪仪以空间扫描测量方式，扫描测量跟踪仪靶球中心点在跟踪仪测量坐标系的轨迹和空间坐标值；采用基准转换方法，得到扫描跟踪仪靶球中心点轨迹在镀膜表面基准坐标系的坐标值；对比扫描跟踪仪靶球中心点轨迹上的点在基准坐标系的空间坐标值与镀膜表面在基准坐标系下的理论模型在法向的偏差得到被测镀膜表面型面精度。
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公开(公告)号：CN109059805A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810957477.7
申请日：2018-08-22
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B11/245
CPC classification number: G01B11/245
Abstract: 本发明公开的一种天线型面精度快速测量方法，通过测量控制器控制M个测量相机对被测天线进行图像同步采集获得M幅照片，并自动对M副天线型面照片进行扫描、定向、匹配及光束法平差处理，得到天线型面上的标志点在测量坐标系下的空间点坐标，并通过坐标系转换将测量坐标系变换成天线坐标系，最终在天线坐标系下通过与理论模型进行对比得到被测天线的型面精度。本发明成功的解决了天线型面高精度高效率测量的问题。
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