一种紧缩场极化校准方法

    公开(公告)号:CN115327462B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202210818969.4

    申请日:2022-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种紧缩场极化校准方法,包括:建立紧缩场测试环境;对待测天线进行第一极化第一次测试、第二次测试及第二极化测试,分别得到远场幅度方向图和相位方向图;通过分析第一极化的两次测试结果,得到幅度修正因子和相位修正因子,对第二极化测试结果进行修正,得到待测天线的幅度方向图与相位方向图。通过本方法,提高了紧缩场测试天线的精度,特别是针对太赫兹频段的紧缩场,由于波长更短,位置偏差影响更加剧烈,本修正方法的效果更加明显。

    一种天线测试双极化探头的通道平衡方法和系统

    公开(公告)号:CN112269070A

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN202010899978.1

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种天线测试双极化探头的通道平衡方法和系统,该方法包括:根据待测天线的极化类型,确定双极化通道探头的通道平衡初始位置;获取双极化通道探头在通道平衡初始位置时的两个极化对应的幅度和相位;按照预设转动规则,对双极化通道探头进行多次转动,直至双极化通道探头重新回到通道平衡初始位置;同时获取每次转动过程中两个极化对应的幅度和相位;根据获取的幅度和相位,进行通道平衡,得到通道平衡数据。本发明消除了传统通道平衡方法中由于旋转关节和电缆扭动影响,通过数学算法利用误差对消得到祛除旋转关节和电缆扭动影响后的通道平衡数据,在不添加额外硬件设备的基础上利用天线测试系统自身完成通道平衡。

    一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法

    公开(公告)号:CN106338655B

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201610710111.0

    申请日:2016-08-23

    Abstract: 一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法,包括步骤如下:一、按照平面近场测试方法将待测天线进行安装,场地校准;二、在探头初始位置,设定扫描范围、测试距离,进行第一个极化分量数据的采集,得到近场数据D0,探头旋转90度得到近场数据D90,探头继续旋转90度得到近场数据D180,探头继续旋转90度得到近场数据D270;三、进行近远场变换与数据修正,得到最终修正后的待测天线方向图数据。本发明避免了探头安装的机械调整工作,通过数学算法对探头安装精度引起的测量误差进行修正,得到修正探头安装精度后的方向图测试数据,极大的降低平面近场对于探头安装的机械精度要求。

    一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法

    公开(公告)号:CN107219410A

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201710478259.0

    申请日:2017-06-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法,包括如下步骤:(1)、对待测天线进行安装和场地校准,建立平面近场测试环境;(2)、对天线进行平面近场测量,得到N个频率的远场方向图i=1~N;(3)、移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据(4)、计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyi;(5)、对远场方向图进行修正,得到修正本发明在保证扫描架连续运动的高效测量模式下,修正了由于扫描架连续运动导致的探头位移引起的天线辐射特性测试误差,提高了天线的测试精度。

    一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法

    公开(公告)号:CN106338655A

    公开(公告)日:2017-01-18

    申请号:CN201610710111.0

    申请日:2016-08-23

    Abstract: 一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法,包括步骤如下:一、按照平面近场测试方法将待测天线进行安装,场地校准;二、在探头初始位置,设定扫描范围、测试距离,进行第一个极化分量数据的采集,得到近场数据D0,探头旋转90度得到近场数据D90,探头继续旋转90度得到近场数据D180,探头继续旋转90度得到近场数据D270;三、进行近远场变换与数据修正,得到最终修正后的待测天线方向图数据。本发明避免了探头安装的机械调整工作,通过数学算法对探头安装精度引起的测量误差进行修正,得到修正探头安装精度后的方向图测试数据,极大的降低平面近场对于探头安装的机械精度要求。

    一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法

    公开(公告)号:CN117129770A

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202310944638.X

    申请日:2023-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法,包括如下步骤:进行第一次安装和场地校准,建立太赫兹紧缩场测试环境;得到天线第一状态下的远场方向图 进行第二次安装和场地校准,得到天线第二状态下的远场方向图 进行坐标变换,得到第一状态坐标系下的第二状态方向图 得到去除紧缩场自身场地耦合的方向图 本发明降低了由于太赫兹频段紧缩场反射面加工所形成的栅网效应对于待测天线方向图结果的影响,提高了太赫兹紧缩场测试天线的精度。

    一种大型无源互调暗室测试方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116068284A

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202211321301.5

    申请日:2022-10-26

    Abstract: 一种大型无源互调暗室测试方法,属于微波天线测试技术领域。根据大型无源互调暗室(20m(L)x20m(W)x20mm(H)以上)区别于小型PIM暗室的测试方法独特之处,需要综合考虑测试系统校准,天线辐射功率覆盖,天线辐射覆盖面积等问题。针对PIM暗室中存在的以上问题,设计了一种网格法覆盖测试方法,在此分割网格后的基础上,提出了通过采用低互调光滑金属铝板模拟天线全反射状态的系统自校准方法,通过标校天线和吸波材料之间的距离补偿天线最大增益,实现可实现的天线增益和合适的发射功率,采用建立在天线的3dB带宽基础上,采用天线的辐射面积布局网格划分,实现大型暗室测试功率全面覆盖。

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