一种自由曲面光学系统的设计方法

    公开(公告)号:CN117891067A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410071456.0

    申请日:2024-01-18

    IPC分类号: G02B27/00

    摘要: 一种自由曲面光学系统设计的方法,包括选择非球面系统,非球面方程为基础,利用光学设计软件,导出非球面面形数据;将得到的非球面面形数据导入到数据处理软件中;引入自由曲面的数学描述表达式;将非球面高次项所构成的面形分布作为转化自由曲面面形部分,进行自由曲面面形的拟合;利用优化拟合算法将非球面面形分布转换为自由曲面面形分布,得到自由曲面数学表达式中各项的拟合系数;将转化得到的自由曲面光学系统,本发明得到的自由曲面光学系能够有效提升传统光学系统的成像质量,无需改变原有光学系统性能,直接将非球面面形替换为自由曲面面形,此方法在MTF调制传递函数与畸变方面有着明显的提升,满足光学系统更高成像质量的发展方向。

    一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法

    公开(公告)号:CN114858090A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210451951.5

    申请日:2022-04-27

    IPC分类号: G01B11/24 G06F30/20

    摘要: 本发明涉及光学测量技术领域,具体涉及一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法。用于解决阵列结构光学元件面形的测量和评价问题。本发明采用方法步骤为:1)利用三维表面形貌检测装置对阵列结构光学元件进行检测,获得阵列结构光学元件表面形貌点云数据;2)将测量得到的阵列结构光学元件表面形貌点云数据通过六维自由度的平移旋转,使之与理论设计形状最佳匹配;3)采用最邻近插值算法,使匹配后的测量数据与理论数据的横向坐标完全匹配,然后对纵向坐标进行点对点相减,使之与理论设计形状最佳匹配,即可获得该被测阵列光学元件的面形误差。

    一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法

    公开(公告)号:CN114858090B

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202210451951.5

    申请日:2022-04-27

    IPC分类号: G01B11/24 G06F30/20

    摘要: 本发明涉及光学测量技术领域,具体涉及一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法。用于解决阵列结构光学元件面形的测量和评价问题。本发明采用方法步骤为:1)利用三维表面形貌检测装置对阵列结构光学元件进行检测,获得阵列结构光学元件表面形貌点云数据;2)将测量得到的阵列结构光学元件表面形貌点云数据通过六维自由度的平移旋转,使之与理论设计形状最佳匹配;3)采用最邻近插值算法,使匹配后的测量数据与理论数据的横向坐标完全匹配,然后对纵向坐标进行点对点相减,使之与理论设计形状最佳匹配,即可获得该被测阵列光学元件的面形误差。