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公开(公告)号：CN117912922A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202410164729.6
申请日：2024-02-05
申请人： 西安工业大学
摘要： 本发明属于等离子体技术领域，具体涉及一种无栅聚焦束离子源，包括底板、底板上的筒状外壳、筒状外壳中间设置的阳极、上磁靴和下磁靴，所述筒状外壳为中空的水冷外壳，所述阳极和上磁靴均为异形圆环，中间穿设置有异形中心磁靴，中心磁靴的下部设置有工作气体导入装置，阳极的下方设置有环状的水冷装置，水冷装置外周设置有圆环形的永磁铁，永磁铁的下方、外壳内设置有起支撑和导磁作用的下磁靴，水冷外壳、工作气体导入装置和水冷装置的下部经下磁靴穿出底板，所述阳极上方设置有上磁靴。本发明能长期稳定工作，有效提升工作气体利用率和离子束引出均匀性，同时结构简单，适用广泛。
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公开(公告)号：CN109682795B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN201811022571.X
申请日：2018-09-03
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： G01N21/73
摘要： 本发明公开了一种基于等离子体点燃时间判别薄膜损伤的方法及装置。解决了等离子体闪光法对薄膜损伤识别的误判问题，技术方案是：用至少三个探测器分别获取空气和薄膜等离子体闪光信号及入射激光信号，以后者为基准，得到空气和薄膜等离子体闪光点燃时间，准确分辨出空气和薄膜等离子体闪光，消除误判。实现步骤是分别采集基准和闪光信号；获取基准和闪光信号起始时刻；以基准和闪光信号起始时刻之差作为闪光点燃时间；建模计算闪光点燃时间；比较并得出损伤识别判据。本发明建立的点燃时间计算模型，可针对任意单层薄膜；装置结构简单，测量精度达0.1ns，能准确进行薄膜损伤识别，可靠性好。本发明应用于强激光作用下的光学薄膜损伤判别。
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公开(公告)号：CN116448000A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202211206077.5
申请日：2022-09-30
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本发明涉及一种非球面面形误差检测与数据处理方法。用以克服现有技术存在的算法复杂且产生误差较大、成本高、检测光路复杂、不具备通用性的问题。具体方法包括以下步骤：步骤一、利用激光干涉仪结合非零位检测法对浅度非球面进行检测，获得非球面的面形检测数据E总；步骤二、去除E总中包含的调整误差E调整，将E总进行N项Zernike多项式拟合，减去其中对应的离焦误差项与彗差项；步骤三、根据检测光路参数与被测非球面参数建立回程误差计算模型，用光线追迹的方法计算由非球面度引起的回程误差E回程；步骤四、利用非零位法检测得到的数据去除调整误差E调整与回程误差E回程，得到非球面的自身面形误差。
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公开(公告)号：CN114360364A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202210032424.0
申请日：2022-01-12
申请人： 西安工业大学
摘要： 本申请提供一种多光谱成像模组及便携显示设备，涉及成像光谱探测仪器技术领域，包括：沿光路依次设置的用于矫正像差的主镜、微透镜阵列、阵列滤光片和探测器，微透镜阵列的通道数和阵列滤光片的通道数对应以形成多个成像通道，由主镜出射的光束依次经微透镜阵列和阵列滤光片，以使光束不同波段的光通过对应的成像通道成像于探测器的对应位置，实现多光谱成像。采用微透镜阵列的方式，一次采集就能得到物体的数据立方体，可以对运动物体和瞬间现象光谱成像，实现一次成像，实现对于场景目标的复制成像，获取整个场景目标经过微透镜阵列对应的阵列滤光片的光谱信息；体积小，重量低，结构简单，容易加工、装配，经济便捷，实现产品化。
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公开(公告)号：CN113960573A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111234444.8
申请日：2021-10-22
申请人： 西安工业大学
摘要： 本发明涉及激光雷达干扰技术领域，具体涉及一种表面具有微结构的光学诱饵元件及其制作方法。本发明包括：（1）设计并制备微结构模板，诱饵表面具有可使激光原向返回的阵列结构，微结构的单元结构是立方角锥结构，每个微结构内部相邻的表面相互垂直；（2）纳米压印，其中压印温度为160℃，压印时间为1h;（3）室温下脱模，将微结构模板表面图形转移到样片上；（4）镀膜，为所有微结构内部表面均镀有金属膜层；通过相邻内表面均为相互垂直且镀有金属膜层的微结构阵列，使得激光入射光发生原向返回，从而使探测器检测到光学诱饵，整体呈现一个激光原向返回的反射状态，起到诱饵作用。
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公开(公告)号：CN113412047A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110763037.X
申请日：2021-07-06
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： H05K9/00 , C01B32/186
摘要： 本发明涉及铜基石墨烯包覆结构及其制备方法，本发明方法通过退火过程对铜基结构的晶体结构和表面成分调控改善，为后续石墨烯包覆提供催化基底，本发明方法以铜基结构作为基底，采用表面生长机制严格控制分解速率和成核密度，将石墨烯立体的包覆于铜基结构表面，完成双面叠加铜基石墨烯包覆结构的制备。本发明包覆结构能够在保持相同光学透过率的条件下提高电磁屏蔽性能，本发明制备的包覆结构表面均匀，具备透明电磁屏蔽功能，并且氧化腐蚀稳定性良好。
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公开(公告)号：CN109384218B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201811518846.9
申请日：2018-12-12
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： C01B32/186 , H01B13/00 , H01B5/12
摘要： 本发明涉及一种石墨烯网栅薄膜的制备方法，该方法的主要思路是在石墨烯薄膜制备过程中，将旋涂有PMMA保护层的石墨烯薄膜吸附于具有光刻胶图案的石英板上，之后去除光刻胶图案及其表面的石墨烯薄膜得到石墨烯网栅薄膜。该方法制备的石墨烯网栅薄膜为准单层石墨烯结构，在网栅交织区域厚度均匀统一，保持了与未图形化制备的石墨烯薄膜相同的属性，同时解决石墨烯导电薄膜不易制备成矩阵结构的问题，简单易行。
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公开(公告)号：CN109186958A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811095388.2
申请日：2018-09-19
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种多光共轴激光损伤阈值测试装置及实现方法。所述测量装置采用4台高能脉冲激光器，分别经对应棱镜转折后进入共轴光学系统，4光束共用一套系统，以及计算机控制处理系统，利用可变间距的正-负透镜组成扩束系统，对扩束系统的光学间隔进行调整，可实现不同波长激光束的准直扩束；采用步进电机精确控制聚焦透镜的位置，对不同激光波长的焦距进行补偿，从而保证激光传输到测试表面，其光斑的大小及离焦量恒定。该装置实现了测试系统的集成化、自动化、智能化，能够在线、实时、快速、准确判别薄膜损伤，同一测试装置，可以测量多种不同波长的激光损伤阈值。
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公开(公告)号：CN106908948A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710210514.3
申请日：2017-03-31
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： G02B26/04
CPC分类号： G02B26/04
摘要： 本发明提供了一种可用于双波长的激光能量衰减装置及方法，解决了多波长激光损伤测试中同一衰减器对不同波长激光能量衰减不同的技术问题。本发明在衰减装置中采用一套或者多套衰减运动执行机构组合形成衰减装置，每个衰减盘上可选取安装多个衰减片，每个衰减片均沉积有用于修正不同波长透射率的光学薄膜。采用532nm和1064nm两个波长的激光束输入，经过本发明的可用于双波长的激光能量衰减装置进行能量衰减，无需更换衰减片及衰减片组合可获得严格一致的衰减率。本发明装置结构简单，使用一套可用于双波长的激光能量衰减装置实现了两套衰减器的功能；衰减精度高，可提高激光损伤阈值测试精度；适用于连续激光和脉冲激光，在工业生产中有广泛应用前景。
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公开(公告)号：CN102226764A
公开(公告)日：2011-10-26
申请号：CN201110083959.2
申请日：2011-04-02
申请人： 西安工业大学
IPC分类号： G01N21/63
摘要： 本发明涉及薄膜或光学元件表面激光损伤的判别方法及其判定装置。现有技术主观性强，工作强度大，测试效率低。本发明提供一种薄膜或光学元件表面激光损伤的判别方法，作用激光对样片进行单脉冲的激光辐照，如果样品表面没有发生损伤，其表面不发生等离子体闪光；如果样品表面发生了损伤，在损伤瞬间会发生强烈的等离子体闪光，分析闪光光谱，如果出现了N、O、H、C以外元素的发光峰，则判定出现损伤，和一种实现上述判别方法的装置，包括激光发生器和测试台，其特征在于：还包括会聚透镜和位于会聚透镜成像面上的光纤探头，光纤探头、光纤光谱仪和计算机依次相接。本发明判别精度高；判别速度快；判别薄膜的种类范围宽；装置结构简单。
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