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公开(公告)号：CN110207820A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910146089.5
申请日：2019-02-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行光谱仪（100）的方法，其中所述光谱仪（100）具有用于照射试样（104）的光源（102）、用于检测由试样（104）反射和/或透射的光的强度的检测器（108）以及连接在所述检测器（108）之前的、能够调节的光学滤波器（106）。在所述方法中首先确定用于在检测器（108）处生成恒定的信号（110）所必需的光功率谱，其中所述光功率谱代表了光源（102）的、根据从光学滤波器（106）所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源（102）的实际光功率，以便这样再调节实际光功率，即在检测器（108）处生成对于在光学滤波器（106）处透射的波长来说恒定的信号（110）。
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公开(公告)号：CN108303387A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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公开(公告)号：CN107576394B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201710533700.0
申请日：2017-07-03
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明涉及一种用于限定对于光谱仪的入射角（102）的装置（100），其中，所述装置（100）具有：调焦的元件（104），以用于把入射到被设置在所述装置（100）后面的光谱的元件上的光线（116）调焦到焦点（112）上；遮挡元件（108）；和转向的元件（106），以用于把在遮挡元件（108）的遮挡口（110）内的聚焦的光线（116）进行转向，其中，所述遮挡元件（108）在所述焦点（112）的区域中布置在聚焦的元件（104）和转向的元件（106）之间的光学的轴线（114）上。
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公开(公告)号：CN108303387B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108344506A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810067997.0
申请日：2018-01-24
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/26 , G01J1/06 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G02B5/003 , G02B2207/123 , G01J3/00
Abstract: 本发明涉及限制光的入射角的器件，制造该器件的方法和显微光谱仪。本发明涉及一种用于限制光的入射角的器件（100），其中所述器件（100）在所述器件（100）的衬底（106）的第一侧面上具有横向于光的入射方向（108）来取向的第一光圈结构（102），而且在所述衬底（106）的与所述第一侧面对置的第二侧面上具有横向于所述入射方向（108）来取向的第二光圈结构（104），其中所述光圈结构（102、104）各具有光圈孔（114）的图案（110、112）。
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公开(公告)号：CN110274692A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910189465.9
申请日：2019-03-13
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种傅立叶变换光谱仪（100），所述傅立叶变换光谱仪具有用于使光散射的扩散器元件（102）、用于光谱式过滤光的过滤元件（104）、偏转元件（106）和用于探测从所述过滤元件（104）出射的光的探测器元件（108），所述偏转元件用于将从所述扩散器元件（102）出射的光偏转到过滤元件（104）上。
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公开(公告)号：CN110031963A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910022738.0
申请日：2019-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G02B26/00
Abstract: 本发明涉及用于运行可调的光学谐振器的方法和设备以及光学谐振器。本发明涉及一种用于运行可调的光学谐振器（100）的方法（300），其中光学谐振器具有：第一镜面元件（102）；在镜面距离方面能相对于第一镜面元件移动地布置的第二镜面元件（104）；被分配给第一镜面元件的第一电极（106）；和被分配给第二镜面元件的第二电极（112）。第二电极与第一电极对置地来布置，其中通过向第一电极施加交变电位，第二镜面元件能偏移。在该方法中，首先将用于改变镜面距离的驱动交变电位与用于探测镜面距离的探测交变电位叠加，以便获得交变电位。量取附在第二电极上的电极电位。最后，在使用交变电位和电极电位的情况下产生表示镜面距离的距离信号。
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公开(公告)号：CN109387483A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201810897400.5
申请日：2018-08-08
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/12 , G01N21/031 , G01N21/31 , G01N21/90 , G01N2021/0314 , G01N2201/0634 , G01N21/255 , G01N21/27
Abstract: 光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪-包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且-包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，-将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，-将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。
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公开(公告)号：CN107576394A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201710533700.0
申请日：2017-07-03
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/45
Abstract: 本发明涉及一种用于限定对于光谱仪的入射角（102）的装置（100），其中，所述装置（100）具有：调焦的元件（104），以用于把入射到被设置在所述装置（100）后面的光谱的元件上的光线（116）调焦到焦点（112）上；遮挡元件（108）；和转向的元件（106），以用于把在遮挡元件（108）的遮挡口（110）内的聚焦的光线（116）进行转向，其中，所述遮挡元件（108）在所述焦点（112）的区域中布置在聚焦的元件（104）和转向的元件（106）之间的光学的轴线（114）上。
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