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公开(公告)号：CN108303387B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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公开(公告)号：CN110207820A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910146089.5
申请日：2019-02-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行光谱仪（100）的方法，其中所述光谱仪（100）具有用于照射试样（104）的光源（102）、用于检测由试样（104）反射和/或透射的光的强度的检测器（108）以及连接在所述检测器（108）之前的、能够调节的光学滤波器（106）。在所述方法中首先确定用于在检测器（108）处生成恒定的信号（110）所必需的光功率谱，其中所述光功率谱代表了光源（102）的、根据从光学滤波器（106）所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源（102）的实际光功率，以便这样再调节实际光功率，即在检测器（108）处生成对于在光学滤波器（106）处透射的波长来说恒定的信号（110）。
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公开(公告)号：CN109387483A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201810897400.5
申请日：2018-08-08
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/12 , G01N21/031 , G01N21/31 , G01N21/90 , G01N2021/0314 , G01N2201/0634 , G01N21/255 , G01N21/27
Abstract: 光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪-包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且-包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，-将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，-将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。
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公开(公告)号：CN108303387A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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