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公开(公告)号：CN111189540A
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201911105933.6
申请日：2019-11-13
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
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公开(公告)号：CN108629956A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810229269.5
申请日：2018-03-20
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: H04Q9/00 , G08C17/02 , H04B5/0062 , H04Q2209/40 , H04Q2209/43 , H04Q2209/50 , H04Q2209/75 , H04W52/0216 , H04W52/0229 , Y02D70/00 , Y02D70/10 , Y02D70/164 , Y02D70/166 , Y02D70/42 , H04B5/0031 , H04B5/0037 , H04W52/0225
Abstract: 本发明提供监视系统和监视方法。本发明涉及一种监视系统（1），其具有用于查询传感器（3）的测量值的监视单元（2），其中监视单元（2）具有用于从传感器无线地查询测量值的接口单元（6）、用于分析所检测的测量值的计算单元（10）、用于确定时间说明的时钟（11）和用于与由时钟（11）确定的时间说明相结合地保存被处理的测量值的存储单元（12）以及用于输出相应的与时间说明相结合的所存储的测量值的输出接口（15），并且所述监视系统具有至少一个传感器单元（3），所述至少一个传感器单元具有传感器（4）并且具有用于将测量值传输给监视单元（2）的传输单元（5），其中传输单元（5）仅应监视单元（2）的请求才传输测量值。
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公开(公告)号：CN108627247A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810239146.X
申请日：2018-03-22
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
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公开(公告)号：CN108627247B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201810239146.X
申请日：2018-03-22
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
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公开(公告)号：CN110207820A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910146089.5
申请日：2019-02-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行光谱仪（100）的方法，其中所述光谱仪（100）具有用于照射试样（104）的光源（102）、用于检测由试样（104）反射和/或透射的光的强度的检测器（108）以及连接在所述检测器（108）之前的、能够调节的光学滤波器（106）。在所述方法中首先确定用于在检测器（108）处生成恒定的信号（110）所必需的光功率谱，其中所述光功率谱代表了光源（102）的、根据从光学滤波器（106）所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源（102）的实际光功率，以便这样再调节实际光功率，即在检测器（108）处生成对于在光学滤波器（106）处透射的波长来说恒定的信号（110）。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108496066A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：-探测单元（7），用于检测光学参量；和-光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，-在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且-其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且-在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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公开(公告)号：CN111094918B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201880061180.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
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公开(公告)号：CN109891204B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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公开(公告)号：CN109564344A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780049013.X
申请日：2017-07-25
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种干涉仪（200），其具有第一镜元件（202）和通过可调节的谐振腔间隙（204）与该第一镜元件（202）间隔开的第二镜元件（206），其中，干涉仪（200）具有第一驱动装置（100）和第二驱动装置（102），其中，第一驱动装置（100）构造用于调节谐振腔间隙（204）的间隙高度（104），其中，第一驱动装置（100）具有第一调节范围（208），其中，第二驱动装置（102）同样构造用于调节间隙高度（104），其中，第二驱动装置（102）具有补充第一调节范围（208）的第二调节范围（210）。
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公开(公告)号：CN108303387A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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