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公开(公告)号：CN111189540B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN201911105933.6
申请日：2019-11-13
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
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公开(公告)号：CN108496066B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：‑探测单元（7），用于检测光学参量；和‑光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，‑在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且‑其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且‑在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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公开(公告)号：CN111094918B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201880061180.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
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公开(公告)号：CN109891204B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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公开(公告)号：CN108225562A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711317348.3
申请日：2017-12-12
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/28 , G01J3/447 , G01J3/45 , G01J3/4531 , G01J3/2823 , G01J2003/1291 , G01N21/23
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及一种具有偏振镜单元（210）的傅里叶变换光谱仪（200），所述傅里叶变换光谱仪由至少两个进行双折射的晶体、一个用于探测光线的探测单元（202）和一个布置在偏振镜单元（210）与探测单元（202）之间的透镜单元（204）构成，所述透镜单元由至少一个用于使光线转向到探测单元（202）上的透镜元件（206）构成。在此，透镜单元（204）具有能借助于透镜元件（206）改变的焦距，以便可以使傅里叶变换光谱仪（200）在不同的运行模式之间转接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111094918A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880061180.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
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公开(公告)号：CN110031963A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910022738.0
申请日：2019-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G02B26/00
Abstract: 本发明涉及用于运行可调的光学谐振器的方法和设备以及光学谐振器。本发明涉及一种用于运行可调的光学谐振器（100）的方法（300），其中光学谐振器具有：第一镜面元件（102）；在镜面距离方面能相对于第一镜面元件移动地布置的第二镜面元件（104）；被分配给第一镜面元件的第一电极（106）；和被分配给第二镜面元件的第二电极（112）。第二电极与第一电极对置地来布置，其中通过向第一电极施加交变电位，第二镜面元件能偏移。在该方法中，首先将用于改变镜面距离的驱动交变电位与用于探测镜面距离的探测交变电位叠加，以便获得交变电位。量取附在第二电极上的电极电位。最后，在使用交变电位和电极电位的情况下产生表示镜面距离的距离信号。
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公开(公告)号：CN109891204A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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公开(公告)号：CN108627247B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201810239146.X
申请日：2018-03-22
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
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公开(公告)号：CN108496066A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：-探测单元（7），用于检测光学参量；和-光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，-在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且-其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且-在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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