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公开(公告)号：CN109891204B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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公开(公告)号：CN109891204A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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