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公开(公告)号：CN119695772A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411608883.4
申请日：2024-11-12
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种隔离变压模块的控制装置以及电控系统，涉及电源隔离技术领域，控制装置包括保护开关单元，切换开关单元以及控制模块，隔离变压模块的输入级连接保护开关单元，隔离变压模块的输出级连接切换开关单元，控制模块连接切换开关单元和保护开关单元；控制模块用于在保护开关单元导通的情况下，控制切换开关单元导通。本申请解决了解决因保护开关不必要断开导致的电控系统运行不稳定的技术问题。
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公开(公告)号：CN112114238A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910528999.X
申请日：2019-06-19
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种晶圆片测试系统。所述晶圆片测试系统包括，探针台，用于放置待测试晶圆片；测试部，用于测试晶圆片的电参数；工控机，控制探针台调节晶圆片的位置，使晶圆片的位置满足测试部的测试要求；所述工控机设置有数据采集卡，所述工控机通过数据采集卡与测试部信号传输连接，所述工控机能够控制所述测试部；探针台、测试部和工控机构成晶圆片测试系统，工控机能够控制探针台的工作和测试部工作，提升了晶圆片测试系统的集成度，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN112053969A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010944132.5
申请日：2020-09-10
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
IPC: H01L21/66 , H01L23/544
Abstract: 本发明提出一种外延片测试方法。所述外延片测试方法为，形成贯通至N层的缺口，测试电信号连接于P层并通过所述缺口连接于N层形成测试回路。外延片测试选取的多个测试点，采用所述技术方案能够保证选取的测试点靠近相应的缺口和P层电接触点，从而增加对测试点测试的准确度。
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公开(公告)号：CN112113965B
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN201910529061.X
申请日：2019-06-19
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明公开了一种LED芯粒光参数测试方法。一种LED芯粒光参数测试方法，用收光组件分别检测第一组LED芯粒的第一光参数，将收光组件移动至第一参考位置并测试第一组LED芯粒的第二光参数；将收光组件放置于第二参考位置并分别测试第二组LED芯粒的第三光参数，在第一组LED芯粒中选择一颗相对第一参考位置距离等于第二组LED芯粒中待测LED芯粒相对于第二参考位置距离的LED芯粒为参考芯粒，参考芯粒的第二光参数与第一光参数的对应关系应用于第三光参数从而得出第四光参数的数值，所述第四光参数为第二组中待测LED芯粒的准确值；减少收光组件的运动，提升LED芯粒测试效率。
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公开(公告)号：CN112113965A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910529061.X
申请日：2019-06-19
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明公开了一种LED芯粒光参数测试方法。一种LED芯粒光参数测试方法，用收光组件分别检测第一组LED芯粒的第一光参数，将收光组件移动至第一参考位置并测试第一组LED芯粒的第二光参数；将收光组件放置于第二参考位置并分别测试第二组LED芯粒的第三光参数，在第一组LED芯粒中选择一颗相对第一参考位置距离等于第二组LED芯粒中待测LED芯粒相对于第二参考位置距离的LED芯粒为参考芯粒，参考芯粒的第二光参数与第一光参数的对应关系应用于第三光参数从而得出第四光参数的数值，所述第四光参数为第二组中待测LED芯粒的准确值；减少收光组件的运动，提升LED芯粒测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118174669A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410155923.8
申请日：2024-02-02
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 徐仲亮
Abstract: 本申请公开了一种差动放大器，包括第一电压信号输入端子、第二电压信号输入端子、差动放大电路、误差补偿电路和加法电路、差动放大电路用于根据第一电压信号和第二电压信号生成过渡差模信号，过渡差模信号通过第一信号输出端输出，误差补偿电路分别连接第一电压信号输入端子和第二电压信号输入端子，误差补偿电路用于根据第一电压信号和第二电压信号生成共模电压信号，并利用共模电压信号生成共模误差补偿信号，共模误差补偿信号与过渡差模信号大小相等，符号相反，加法电路用于根据过渡差模信号和共模误差补偿信号生成目标差模信号。
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公开(公告)号：CN222505613U
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202420011251.9
申请日：2024-01-02
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 徐仲亮
Abstract: 本实用新型涉及光检测技术领域，公开了一种亮度检测电路，包括了光强采集模块、电流选择模块和电流转换模块，光强采集模块包括多个亮度传感器，能够在光源的不同采集工位进行光信号采集，并将光信号转化为电流信号，电流选择模块能够选择其中一个亮度传感器输出的电流进入电流转换模块，而每个亮度传感器能够采集对应采集工位的光信号，从而实现了采集工位的选择。电流转换模块能够将被选择的电流信号转换为电压信号，即获得亮度值。该电路硬件上实现多路复用，能够选择亮度传感器的信号通路，进而选择采集工位，避免预设对象进行不同采集工位的亮度采集时，需要手动选择更换亮度探头电缆的情况，进而提升了亮度测试装置检测结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN222321092U
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202420027202.4
申请日：2024-01-05
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 徐仲亮
Abstract: 本申请实施例提供了一种过流保护电路及LED测试机，属于电源保护技术领域。该电路包括：采样模块、电源输入端、电源输出端、第一MOS管和第二MOS管，第一MOS管的漏极电连接电源输入端,第一MOS管的源极电连接采样模块的第一端，第一MOS管的栅极电连接采样模块的第二端，第二MOS管的漏极电连接电源输出端,第二MOS管的源极电连接采样模块的第二端，第二MOS管的栅极电连接采样模块的第一端，其中，电流从电源输入端或电源输出端流入。本申请实施例通过采样模块采集电路中的电流，通过第一MOS管和第二MOS管实现过流保护，过流保护的反应灵敏，反应时间短，能够快速过滤浪涌电压和电流以防止电源损坏。
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公开(公告)号：CN222706299U
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202420219087.0
申请日：2024-01-30
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 徐仲亮
IPC: H02J9/06
Abstract: 本申请实施例提供了一种电源切换装置及供电系统，属于电源技术领域。该方法包括：输出控制端和继电器控制电路；其中，继电器控制电路包括：切换模块和通断控制模块；切换模块电连接输出控制端，通断控制模块电连接切换模块；切换模块用于根据第一控制信号切换与通断控制模块的连接状态，以使输出控制端连接不同的电源；通断控制模块用于根据第二控制信号先断开电源和输出控制端之间的连接，并且在切换模块切换为连接状态后再接通电源与输出控制端。本申请实施例能够安全地切换电源，提高了电路的安全性与可靠性。
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公开(公告)号：CN210429811U
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201921565479.8
申请日：2019-09-20
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
IPC: H01L27/02
Abstract: 本实用新型公开了一种多芯测试电路结构。所述多芯测试电路结构，用于半导体芯粒/LED芯粒的多芯测试，所述多芯测试电路结构包括测试部和导通电路部；所述导通电路部包括第一共极端和第二共极端，所述第一共极端和第二共极端分别与测试部电连接；所述第一共极端连接有多个相互并联的第一电连接端；所述第二共极端连接有多个相互并联的第二电连接端，每个第二电连接端均设置有对应的第二常开型开关用于控制与第二共极端导通；第一电连接端导通，同时导通对应一个第二电连接端的第二常开型开关；所述多芯测试电路结构既能够用于LED芯粒的多芯测试也能够用于半导体芯粒的多芯测试。
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