公开(公告)号：CN221992984U

公开(公告)日：2024-11-12

申请号：CN202420226032.2

申请日：2024-01-29

Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司

Inventor： 沈杰 ,  杨应俊 ,  熊晓亮

IPC: G01M11/02

Abstract: 本申请提出了一种滤光片档位切换装置及芯片测试机，滤光片档位切换装置包括安装座、光阑结构和转动组件，光阑结构与安装座连接，光阑结构设有拨杆和第一通光孔，拨动拨杆能够调节第一通光孔的孔径大小；转动组件包括转盘和转轴，转盘通过转轴与安装座转动连接，转盘上设有多个第二通光孔，第二通光孔用于容纳滤光片；转盘能够绕转轴的轴向相对安装座转动，使得沿转轴的轴向，第一通光孔与其中一个第二通光孔处于同一延伸线上，以使光线依次通过第一通光孔和第二通光孔。芯片测试机包括检测装置和滤光片档位切换装置。本申请的滤光片档位切换装置便于调节，本申请的芯片测试机有益于提高对具有不同亮度芯片的测试适应性。

公开(公告)号：CN210429811U

公开(公告)日：2020-04-28

申请号：CN201921565479.8

申请日：2019-09-20

Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司

Inventor： 栗巍 ,  王业文 ,  徐仲亮 ,  熊晓亮

IPC: H01L27/02

Abstract: 本实用新型公开了一种多芯测试电路结构。所述多芯测试电路结构，用于半导体芯粒/LED芯粒的多芯测试，所述多芯测试电路结构包括测试部和导通电路部；所述导通电路部包括第一共极端和第二共极端，所述第一共极端和第二共极端分别与测试部电连接；所述第一共极端连接有多个相互并联的第一电连接端；所述第二共极端连接有多个相互并联的第二电连接端，每个第二电连接端均设置有对应的第二常开型开关用于控制与第二共极端导通；第一电连接端导通，同时导通对应一个第二电连接端的第二常开型开关；所述多芯测试电路结构既能够用于LED芯粒的多芯测试也能够用于半导体芯粒的多芯测试。