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公开(公告)号:CN110945974A
公开(公告)日:2020-03-31
申请号:CN201880048695.7
申请日:2018-07-25
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 本发明提供一种具有高接合性及优异的耐热循环特性的陶瓷电路基板。一种陶瓷电路基板,其在陶瓷基板上隔着钎料层设置电路图案,利用由电路图案的外周溢出的钎料层形成有溢出部,钎料层含有Ag、Cu及Ti;和Sn或In,从溢出部外周起沿着陶瓷基板与电路图案的接合界面朝着内侧连续地形成300μm以上的富Ag相,接合空隙率为1.0%以下。
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公开(公告)号:CN116353153A
公开(公告)日:2023-06-30
申请号:CN202310371038.9
申请日:2019-11-22
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 本发明涉及陶瓷‑铜复合体、陶瓷‑铜复合体的制造方法、陶瓷电路基板及功率模块。平板状陶瓷‑铜复合体,其具备陶瓷层、铜层、和存在于陶瓷层与铜层之间的钎料层。其中,将该陶瓷‑铜复合体沿着垂直于其主面的面切断且将此时的切断面中的长边方向的长度为1700μm的区域设为区域P时,至少一部分存在于区域P1中的铜晶体的平均晶体粒径D1为30μm以上100μm以下,所述区域P1为区域P中的、从陶瓷层与钎料层的界面起在铜层侧的50μm以内的区域。
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公开(公告)号:CN110945974B
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN201880048695.7
申请日:2018-07-25
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 本发明提供一种具有高接合性及优异的耐热循环特性的陶瓷电路基板。一种陶瓷电路基板,其在陶瓷基板上隔着钎料层设置电路图案,利用由电路图案的外周溢出的钎料层形成有溢出部,钎料层含有Ag、Cu及Ti;和Sn或In,从溢出部外周起沿着陶瓷基板与电路图案的接合界面朝着内侧连续地形成300μm以上的富Ag相,接合空隙率为1.0%以下。
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公开(公告)号:CN110691762A
公开(公告)日:2020-01-14
申请号:CN201880036114.8
申请日:2018-05-29
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 提供一种耐热循环特性优异的陶瓷电路基板。一种陶瓷电路基板,其特征在于,在陶瓷基板的至少一个主面介由接合钎料接合有金属板,以金属成分计,相对于Ag93.0~99.4质量份、Cu0.1~5.0质量份、Sn0.5~2.0质量份的合计100质量份,上述接合钎料含有0.5~4.0质量份的选自钛、锆、铪、铌中的至少1种活性金属,陶瓷基板与金属板之间的接合钎料层组织中的富Cu相的平均尺寸为3.5μm以下,个数密度为0.015个/μm2以上。一种陶瓷电路基板的制造方法,其包含:在接合温度855~900℃、保持时间10~60分钟的条件下进行接合。
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公开(公告)号:CN110537256A
公开(公告)日:2019-12-03
申请号:CN201880026676.4
申请日:2018-04-24
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 提供耐热循环特性优异的陶瓷电路基板及功率组件。一种陶瓷电路基板,借助含有Ag、Cu以及活性金属的焊料使得陶瓷基板与铜板接合而成,其中,接合空隙率为1.0%以下,作为焊料成分的Ag的扩散距离为5μm~20μm。一种陶瓷电路基板的制造方法,其特征在于,趋向接合温度的升温过程中的400℃~700℃的温度范围内的加热时间为5分钟~30分钟,以720℃~800℃的接合温度保持5分钟~30分钟而进行接合。
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公开(公告)号:CN110537256B
公开(公告)日:2024-09-10
申请号:CN201880026676.4
申请日:2018-04-24
Applicant: 电化株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L23/15 , H01L21/48
Abstract: 提供耐热循环特性优异的陶瓷电路基板及功率组件。一种陶瓷电路基板,借助含有Ag、Cu以及活性金属的焊料使得陶瓷基板与铜板接合而成,其中,接合空隙率为1.0%以下,作为焊料成分的Ag的扩散距离为5μm~20μm。一种陶瓷电路基板的制造方法,其特征在于,趋向接合温度的升温过程中的400℃~700℃的温度范围内的加热时间为5分钟~30分钟,以720℃~800℃的接合温度保持5分钟~30分钟而进行接合。
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公开(公告)号:CN110691762B
公开(公告)日:2022-06-14
申请号:CN201880036114.8
申请日:2018-05-29
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 提供一种耐热循环特性优异的陶瓷电路基板。一种陶瓷电路基板,其特征在于,在陶瓷基板的至少一个主面介由接合钎料接合有金属板,以金属成分计,相对于Ag93.0~99.4质量份、Cu0.1~5.0质量份、Sn0.5~2.0质量份的合计100质量份,上述接合钎料含有0.5~4.0质量份的选自钛、锆、铪、铌中的至少1种活性金属,陶瓷基板与金属板之间的接合钎料层组织中的富Cu相的平均尺寸为3.5μm以下,个数密度为0.015个/μm2以上。一种陶瓷电路基板的制造方法,其包含:在接合温度855~900℃、保持时间10~60分钟的条件下进行接合。
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公开(公告)号:CN113165986A
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN201980075826.5
申请日:2019-11-22
Applicant: 电化株式会社
Abstract: 平板状陶瓷‑铜复合体,其具备陶瓷层、铜层、和存在于陶瓷层与铜层之间的钎料层。其中,将该陶瓷‑铜复合体沿着垂直于其主面的面切断且将此时的切断面中的长边方向的长度为1700μm的区域设为区域P时,至少一部分存在于区域P1中的铜晶体的平均晶体粒径D1为30μm以上100μm以下,所述区域P1为区域P中的、从陶瓷层与钎料层的界面起在铜层侧的50μm以内的区域。
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