半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103403859B

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201180068928.8

    申请日:2011-03-04

    CPC classification number: H01L27/088 H01L21/823425 H01L27/0207 H01L29/7846

    Abstract: 在半导体器件中,有源区域(AR12)包含:施加预定的电压的第一杂质区域(NI11)、构成一个绝缘栅型的场效应晶体管(MN12a)的一对导通电极的第二和第三杂质区域(NI13、NI14)、以及在第一和第二杂质区域之间配置的至少一个杂质区域(NI12)。向在第二和第三杂质区域之间配置的栅极电极(G13)施加使第二和第三杂质区域之间电气导通的电压。在第一和第二杂质区域之间配置的全部的栅极电极(G11、G12)成为一直与第一杂质区域(NI11)电气连接的结构。在第一和第二杂质区域之间配置的全部的杂质区域(NI12)从第一和第二杂质区域电气分离而维持在浮置状态。

    半导体器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103403859A

    公开(公告)日:2013-11-20

    申请号:CN201180068928.8

    申请日:2011-03-04

    CPC classification number: H01L27/088 H01L21/823425 H01L27/0207 H01L29/7846

    Abstract: 在半导体器件中,有源区域(AR12)包含:施加预定的电压的第一杂质区域(NI11)、构成一个绝缘栅型的场效应晶体管(MN12a)的一对导通电极的第二和第三杂质区域(NI13、NI14)、以及在第一和第二杂质区域之间配置的至少一个杂质区域(NI12)。向在第二和第三杂质区域之间配置的栅极电极(G13)施加使第二和第三杂质区域之间电气导通的电压。在第一和第二杂质区域之间配置的全部的栅极电极(G11、G12)成为一直与第一杂质区域(NI11)电气连接的结构。在第一和第二杂质区域之间配置的全部的杂质区域(NI12)从第一和第二杂质区域电气分离而维持在浮置状态。

    差动放大电路和A/D转换器

    公开(公告)号:CN101373955B

    公开(公告)日:2013-03-06

    申请号:CN200810214787.6

    申请日:2008-06-06

    Abstract: 提供一种即使在电源电压比较小的情况下,也不会引起性能恶化并且能够过驱动恢复的差动放大电路。在作为第一输出部的节点N1和电源Vdd之间相互并联地插入PMOS晶体管MP1和MP3,在作为第二输出部的节点N2和电源Vdd之间相互并联地插入PMOS晶体管MP2和MP4。通过复制电路4和比较器5,将输入电压Vin和基准电压Vref的输入电位差是“0”的平衡状态时的输出电压Vout p和Vout n均设定为基准输出公共电压Voutcm_ideal。设定复制电路4的基准输出公共电压Voutcm_ideal,以使得电源电压Vdd和输出公共电压Voutcm的电位差成为比以二极管方式连接的PMOS晶体管MP1和MP2的阈值电压Vth低的值。

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