芯片检测方法及系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117434068A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311752911.5

    申请日:2023-12-20

    Abstract: 本发明涉及一种芯片检测方法及系统,属于芯片检测技术领域,该方法包括:在上位机的芯片检测界面中选择芯片检测模式;基于选择的芯片检测模式进行工业相机验证、对存储的待检测芯片图片进行检测或生成弹窗信息提示用户进行检测类型选择;用户在芯片检测界面选择检测类型,基于选择的检测类型对采集的图像进行特定缺陷检测或混合检测;对经过混合检测的所有芯片的检测结果进行统计。本申请提供的方法及系统,可基于用户需要进行检测模式选择以及检测类型选择,既满足了用户对芯片特定缺陷进行检测的需要,也满足对芯片进行全局检测的需要;使得用户可根据统计结果得到多方面的芯片缺陷信息;弥补了现有技术中很少对芯片丝印检测的缺陷。

    基于DNA编码的图像加密方法、系统、计算机装置及介质

    公开(公告)号:CN115842619B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202211529465.7

    申请日:2022-11-30

    Abstract: 本发明公开了基于DNA编码的图像加密方法、系统、计算机装置及介质,方法包括:从DNA编码规则库中选取DNA编码规则,确定DNA编码规则的第一标识值;根据DNA编码规则对第一图像信息进行DNA编码得到第一DNA编码矩阵;将第一标识值输入第一PUF电路生成第一响应值,根据第一响应值和置乱公式对第一DNA编码矩阵进行置乱,得到第二DNA编码矩阵;根据第一响应值生成DNA蒙版矩阵,对DNA蒙版矩阵和第二DNA编码矩阵进行DNA运算得到第三DNA编码矩阵;根据DNA编码规则对第三DNA编码矩阵进行DNA解码,得到第二图像信息。本发明提高了图像加密的效率,增强了图像加密的安全性,可应用于图像处理技术领域。

    芯片检测方法及系统
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117434068B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311752911.5

    申请日:2023-12-20

    Abstract: 本发明涉及一种芯片检测方法及系统,属于芯片检测技术领域,该方法包括:在上位机的芯片检测界面中选择芯片检测模式;基于选择的芯片检测模式进行工业相机验证、对存储的待检测芯片图片进行检测或生成弹窗信息提示用户进行检测类型选择;用户在芯片检测界面选择检测类型,基于选择的检测类型对采集的图像进行特定缺陷检测或混合检测;对经过混合检测的所有芯片的检测结果进行统计。本申请提供的方法及系统,可基于用户需要进行检测模式选择以及检测类型选择,既满足了用户对芯片特定缺陷进行检测的需要,也满足对芯片进行全局检测的需要;使得用户可根据统计结果得到多方面的芯片缺陷信息;弥补了现有技术中很少对芯片丝印检测的缺陷。

    基于DNA编码的图像加密方法、系统、计算机装置及介质

    公开(公告)号:CN115842619A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202211529465.7

    申请日:2022-11-30

    Abstract: 本发明公开了基于DNA编码的图像加密方法、系统、计算机装置及介质,方法包括:从DNA编码规则库中选取DNA编码规则,确定DNA编码规则的第一标识值;根据DNA编码规则对第一图像信息进行DNA编码得到第一DNA编码矩阵;将第一标识值输入第一PUF电路生成第一响应值,根据第一响应值和置乱公式对第一DNA编码矩阵进行置乱,得到第二DNA编码矩阵;根据第一响应值生成DNA蒙版矩阵,对DNA蒙版矩阵和第二DNA编码矩阵进行DNA运算得到第三DNA编码矩阵;根据DNA编码规则对第三DNA编码矩阵进行DNA解码,得到第二图像信息。本发明提高了图像加密的效率,增强了图像加密的安全性,可应用于图像处理技术领域。

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