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公开(公告)号：CN118348036A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410036084.8
申请日：2024-01-10
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明的图像取得装置(1)具备：掩模构件(9)，其具有使来自对象物(S)的平行波(B)的一部分的透过率在与平行波(B)的入射方向即Z轴方向交叉的xy平面上变化的掩模像素(9a)；检测器(11)，其具有在与平行波(B)的入射方向交叉的方向上排列配置并对透过了掩模构件(9)的平行波(B)进行检测的多个像素(11b)；以及图像处理装置(7)，其基于关于掩模构件(9)与对象物(S)之间的相对移动量的数据、和从检测器(11)输入的多个像素(11b)的检测信号(O)，使用压缩感知来重建图像，掩模构件(9)的掩模像素(9a)在xy平面上的尺寸小于多个像素(11b)沿着xy平面的尺寸。
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公开(公告)号：CN111819840A
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201880090905.9
申请日：2018-12-25
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： H04N5/378 , G01J1/02 , H01L27/146 , H04N5/376
摘要： 光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列，且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。第1读取部(21)通过多条第1配线的至少一部分读取信号数据。第2读取部(31)通过多条第2配线的至少一部分读取信号数据。第1读取部(21)具有：读取像素设定部(26)，其基于在第1帧读取的信号数据，自多个像素中，设定在第1帧之后的第2帧读取信号数据的像素组。
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公开(公告)号：CN111133282A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201880060467.1
申请日：2018-08-21
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01J1/02 , H01L27/146 , H01L31/02 , H04N5/369 , H04N5/3745
摘要： 在位置检测传感器中，在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端，第1电信号的强度越减弱，在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端，第2电信号的强度越增强，在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端，第3电信号的强度越减弱，在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端，第4电信号的强度越增强。计算部基于第3电信号的强度和第4电信号的强度对第1位置进行加权，并基于第1电信号的强度和第2电信号的强度对第2位置进行加权。
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公开(公告)号：CN111094914A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880060502.X
申请日：2018-09-19
申请人： 浜松光子学株式会社
摘要： 本发明提供一种形状测量传感器，其包括在测量线反射后的光入射的受光部和基于光的入射位置计算测量线上的各位置的位置信息的计算部。受光部包括多个像素对，该多个像素对分别包括生成与光的入射光量相应的第1电信号的第1像素和沿与照射方向交叉的第1方向与第1像素并列配置、且生成与光的入射光量相应的第2电信号的第2像素，该多个像素对沿第1方向排列。在第1像素，入射位置越接近受光部的与第1方向交叉的第2方向上的一端，第1电信号的强度就越减弱，在第2像素，入射位置越接近第2方向上的一端，第2电信号的强度就越增强。计算部按每像素对取得第1电信号和第2电信号，基于所取得的第1电信号的强度和第2电信号的强度，按每像素对计算第2方向上的入射位置。
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公开(公告)号：CN111094913A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880060440.2
申请日：2018-08-21
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/44 , G01B11/24 , H01L27/144 , H01L27/146 , H01L31/0232 , H01L31/10
摘要： 在位置检测传感器中，在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端，第1电信号的强度就越减弱，在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端，第2电信号的强度就越增强，在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端，第3电信号的强度就越减弱，在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端，第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置，基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值，算出第1位置。
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公开(公告)号：CN116998163A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202180094459.0
申请日：2021-10-11
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： H04N25/40
摘要： 本发明的固体摄像装置(1)具备像素阵列部(10)、行控制部(21)、行读取部(22)、列控制部(31)及列读取部(32)。像素阵列部(10)包含：MN个像素(P1，1～PM，N)，它们各自包含因受光而产生电荷的光电二极管，且以M行N列2维排列。像素(Pm，n)输入自行控制部(21)向第m行控制线(23m)输出的第m行控制信号(Xm)，且输入自列控制部(31)向第n列控制线(33n)输出的第n列控制信号(Yn)，并基于这些输入的第m行控制信号(Xm)及第n列控制信号(Yn)中的各个的逻辑值，选择是否将光电二极管所产生的电荷向第m行输出线(24m)或第n列输出线(34n)输出。由此，实现可容易利用压缩感测技术取得图像的固体摄像装置。
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公开(公告)号：CN116964408A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202280019054.5
申请日：2022-01-13
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本公开的形状测定装置(1A)具备光源(2)、照射光学系统(3)、成像光学系统(4)、空间光调制器(5)、聚光光学系统(6)、线性传感器(7)、以及处理部(9A)。照射光学系统(3)使光成为线状而照射于对象物(S)。成像光学系统(4)输入在对象物(S)反射的光而成像。空间光调制器(5)在光调制面设定有一维状的强度调制图案，对输入到光调制面的光进行空间地强度调制而输出。聚光光学系统(6)将从空间光调制器(5)输出的光聚光为线状。线性传感器(7)将由聚光光学系统(6)聚光为线状的光由多个像素受光。处理部(9A)基于强度调制图案和来自线性传感器(7)的输出信号，对线性传感器(7)的多个像素的各个进行利用压缩感测技术的解析。由此，实现能够高精度地再构成对象物的形状的形状测定装置。
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公开(公告)号：CN118435022A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202280084650.1
申请日：2022-10-17
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 固体摄像装置(5A)具备第1受光部(10)和第2受光部(20A、20B)。第1受光部(10)沿着x方向排列有多个像素对(11)。第2受光部(20A、20B)分别沿着y方向排列有各自产生与受光量对应的量的电荷的多个像素(21)。各像素对(11)包括第1像素(12)和第2像素(13)。在沿x方向延伸的线状的光入射于第1受光部(10)时，随着该光入射位置从y方向的一侧向另一侧，第1像素(12)产生的电荷的量逐渐减少，第2像素(13)产生的电荷的量逐渐增加。由此，实现在用于利用光切断法的形状测定的情况下能够进行光学设定状态的评价和调整的固体摄像装置。
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公开(公告)号：CN111819840B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN201880090905.9
申请日：2018-12-25
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： H04N25/78 , G01J1/02 , H01L27/146
摘要： 光检测装置(1)是检测光的入射位置的光检测装置(1)。光检测装置(1)具备多个像素、多条第1配线、多条第2配线、第1读取部(21)、及第2读取部(31)。多个像素以行列状二维排列，且分别包含第1光感应部及第2光感应部。多条第1配线将多个第1光感应部按每行连接。多条第2配线将多个第2光感应部按每列连接。第1读取部(21)通过多条第1配线的至少一部分读取信号数据。第2读取部(31)通过多条第2配线的至少一部分读取信号数据。第1读取部(21)具有：读取像素设定部(26)，其基于在第1帧读取的信号数据，自多个像素中，设定在第1帧之后的第2帧读取信号数据的像素组。
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公开(公告)号：CN111094913B
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN201880060440.2
申请日：2018-08-21
申请人： 浜松光子学株式会社
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/44 , G01B11/24 , H01L27/144 , H01L27/146 , H01L31/0232 , H01L31/10
摘要： 在位置检测传感器中，在第1像素部入射位置越接近第1像素对组的第2方向上的第1端，第1电信号的强度就越减弱，在第2像素部入射位置越接近第2方向上的第1端，第2电信号的强度就越增强，在第3像素部入射位置越接近第2像素对组的第1方向上的第2端，第3电信号的强度就越减弱，在第4像素部入射位置越接近第1方向上的第2端，第4电信号的强度就越增强。算出部基于第1电信号的强度的累计值和第2电信号的强度的累计值算出第2位置，基于第3电信号的强度的累计值和第4电信号的强度的累计值，算出第1位置。
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