一种吸附分离环戊烷和新己烷的方法

    公开(公告)号:CN113527030A

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202110952859.2

    申请日:2021-08-19

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种吸附分离环戊烷和新己烷的方法,包括:以晶态微孔材料为吸附剂,将含有环戊烷和新己烷的混合物与吸附剂接触,环戊烷被吸附剂优先吸附,实现环戊烷与新己烷的分离;所述晶态微孔材料为具有孔口尺寸为的有序晶体材料,包括分子筛、金属有机框架材料。本发明通过吸附剂识别环戊烷和新己烷的分子形状差异,实现高效分离,相对传统的萃取精馏和共沸精馏,存在操作简单、能耗低、污染小的优势。

    高次曲面空间位置自动定中系统和方法

    公开(公告)号:CN107193096B

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201610326815.8

    申请日:2016-05-17

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种高次曲面空间位置自动定中系统和方法。本发明的技术特点在于对高次曲面光学元件顶点曲率半径以及顶点曲率中心位置坐标进行测量,实现待测高次曲面光学元件检测姿态的初始化调整与参数测量。高次曲面自动定中系统包括高次曲面定中单元和空间位置调整机构,自动定中方法通过建立高次曲面自动定中计算模型,得出自动定中系统的平移机构和摆动机构的精确调整量,进行各个机构对应量的调整,实现元件光轴、定中单元光轴、自旋机构转轴三轴轴系一致,最后驱动高次曲面定中单元沿Z向扫描,得到元件顶点的曲率中心坐标,从而为高次曲面子孔径扫描拼接操作提供了一种高精度的定位方法。

    高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法

    公开(公告)号:CN106018414B

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201610326803.5

    申请日:2016-05-17

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤:优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布;基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像;通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像;利用正投影变换和全口径拼接得到全口径高次曲面二维投影图像,提取低倍下缺陷特征;准确定位缺陷并进行高倍检测,提取高倍下缺陷特征;统计分析特征信息,生成评价数据。本发明实现了高次曲面光学元件表面缺陷的自动化定量检测,极大地提高了检测效率和检测精度,为高次曲面光学元件的加工与使用提供客观可靠的数值依据,为提高先进光学制造超精密加工技术、研究各种超精密加工工艺提供有力手段。

    用于手机盖板中油墨层厚度测量的无损在线检测设备

    公开(公告)号:CN105651189B

    公开(公告)日:2018-06-19

    申请号:CN201610075214.4

    申请日:2016-02-03

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于手机盖板中油墨层厚度测量的无损在线检测设备。本发明包括点光源、柱面透镜、狭缝、显微物镜、双胶合透镜、CCD相机和图像处理模块;点光源投射的准直光线通过柱面透镜形成发散的线光源,线光源经过狭缝以及显微物镜后,在待测手机盖板表面汇聚成亮度很高并且宽度很细的直线光;并且该细长的直线光穿过油墨层和非油墨层相交的区域,将显微物镜对焦在相交的区域,从而观察直线光穿过该区域后的弯曲变化程度。本发明油墨层与非油墨层之间存在高度差,入射光在两个表面分别形成反射光并进入显微物镜中,通过在CCD相机的成像表面形成不同的亮线,间接地计算出当前样品表面待检测位置的油墨高度变化,真正地实现无损检测。

    高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法

    公开(公告)号:CN106018414A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610326803.5

    申请日:2016-05-17

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01N21/8851 G01N2021/8887

    Abstract: 本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤:优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布;基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像;通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像;利用正投影变换和全口径拼接得到全口径高次曲面二维投影图像,提取低倍下缺陷特征;准确定位缺陷并进行高倍检测,提取高倍下缺陷特征;统计分析特征信息,生成评价数据。本发明实现了高次曲面光学元件表面缺陷的自动化定量检测,极大地提高了检测效率和检测精度,为高次曲面光学元件的加工与使用提供客观可靠的数值依据,为提高先进光学制造超精密加工技术、研究各种超精密加工工艺提供有力手段。

    用于手机盖板中油墨层厚度测量的无损在线检测设备

    公开(公告)号:CN105651189A

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201610075214.4

    申请日:2016-02-03

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01B11/0625

    Abstract: 本发明公开了一种用于手机盖板中油墨层厚度测量的无损在线检测设备。本发明包括点光源、柱面透镜、狭缝、显微物镜、双胶合透镜、CCD相机和图像处理模块;点光源投射的准直光线通过柱面透镜形成发散的线光源,线光源经过狭缝以及显微物镜后,在待测手机盖板表面汇聚成亮度很高并且宽度很细的直线光;并且该细长的直线光穿过油墨层和非油墨层相交的区域,将显微物镜对焦在相交的区域,从而观察直线光穿过该区域后的弯曲变化程度。本发明油墨层与非油墨层之间存在高度差,入射光在两个表面分别形成反射光并进入显微物镜中,通过在CCD相机的成像表面形成不同的亮线,间接地计算出当前样品表面待检测位置的油墨高度变化,真正地实现无损检测。

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