一种用于纳米颗粒均匀混合的装置

    公开(公告)号:CN110404457B

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN201910670995.5

    申请日:2019-07-24

    Abstract: 本发明公开了一种用于纳米颗粒均匀混合的装置,包括同中轴线设置的支撑架机构、研磨机构和摇摆机构,所述的研磨机构和所述的摇摆机构分别设于支撑架机构的上方和下方,两者之间存在压紧力的作用,所述的研磨机构通过所述摇摆机构的晃动实现上下左右的运动。本发明利用具有不同长短的带穿挤压球与变频调速电机的配合,可以使研磨钵上下左右的运动,同时配合可调节高度的研磨棒,使金属纳米颗粒不断的混合以及受到多方位的挤压力,使团聚的纳米颗粒分散开来同时使不同粒径的纳米颗粒充分混合。

    一种LED光谱功率分布的预测方法

    公开(公告)号:CN110487403A

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201910825307.8

    申请日:2019-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种LED光谱功率分布的预测方法,包括以下步骤:采集多种实验条件下的LED光谱功率分布,其中,每两个实验条件下至少一个影响光谱功率分布的因子不同;通过光谱模型对每种实验条件下的LED光谱功率分布进行拆解以得到相应的光谱特征参数;以多种实验条件下影响光谱功率分布的因子作为输入,并以多种实验条件下的光谱特征参数作为输出,对神经网络进行训练;通过训练后的神经网络对设定条件下的光谱特征参数进行预测;将预测得到的光谱特征参数导入光谱模型,以得到设定条件下的LED光谱功率分布。本发明能够简单方便地实现对不同条件下LED光谱功率分布的预测,减少LED光谱功率分布的测量和计算时间。

    一种LED荧光胶的力学损伤检测装置及方法

    公开(公告)号:CN110308042A

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201910617259.3

    申请日:2019-07-10

    Abstract: 本发明公开了一种LED荧光胶的力学损伤检测装置及方法,包括拉伸实验装置、激光发射装置和光致发光采集装置;所述拉伸实验装置的夹具固定样品的两端,用于样品拉伸实验;所述激光发射装置用于发射激光照射样品,当激光照射样品时会激发样品的荧光粉进行光致发光;所述光致发光采集装置用于采集光致发光的反射光信号;本发明通过同时采集荧光粉/硅胶复合材料在外加载荷条件下的光致发光信号与光致发热信号,来反应其力学损伤演变过程,且装置操作简单,灵活性高,实验成本低。

    一种基于倒装LED白光芯片的矩阵车灯系统

    公开(公告)号:CN109357235A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811114345.4

    申请日:2018-09-25

    Inventor: 樊嘉杰 陈威

    Abstract: 本发明涉及一种基于倒装LED白光芯片的矩阵车灯系统。系统包括大透镜、发光组件以及散热器,所述发光组件与散热器紧密连接,安装在大透镜内,发光组件包括倒装LED白光芯片、铜基板、反光罩、导光柱以及外壳;所述倒装LED白光芯片、铜基板、反光罩、导光柱均设置在外壳内,铜基板上固定若干倒装LED白光芯片,每个倒装LED白光芯片均对应设置一个反光罩,每个倒装LED白光芯片的上方对应设置一个导光柱,若干个导光柱通过顶部的硅胶连接在一起,铜基板底部与散热器连接;外壳的下表面与铜基板的下表面齐平,外壳的上表面通过设置在导光柱顶部的边缘硅胶固定。本系统结构简单,照明效果好,同时对光源输出光通量利用效率高。

    一种温变可靠性测试装置的温度控制系统

    公开(公告)号:CN108445932A

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201810182467.0

    申请日:2018-03-06

    Abstract: 本发明公开了一种温变可靠性测试装置的温度控制系统,系统包括PLC控制器、高温恒控模块、低温恒控模块、冷温度继电器、热温度继电器、直流稳压电路、热电偶、加热丝、电源、真空发生器、电磁气阀、若干接触器以及若干按钮。本发明可以实现冷热循环测试装置的恒温稳态控制和冷热冲击,提高系统的抗干扰能力和灵敏性,并使系统在占用空间方面得到一定优化。

    一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置

    公开(公告)号:CN110161010B

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN201910585195.3

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 本发明公开一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置,包括光学平台、积分球、光谱仪、激光二极管、控温平台、圆形滑轨和滑块,其中控温平台由铜板、TEC、散热器、温度传感器、风扇、驱动电源、导线、测温仪表组成。测试时,圆形滑轨放置在积分球右半部分,激光二极管放置于滑块上,通过滑块在圆形滑轨的移动,实现激光二极管与荧光材料角度的调节,光由激光二极管照射到放置荧光材料的控温平台,由光谱仪采集积分球内部的反射光。当荧光材料需要升温时,通过改变TEC电流升高温度,由测温仪表采集铜板表面温度;当荧光材料需要降温时,通过改变TEC电流降低温度,同时开启风扇,加速降温冷却过程,由测温仪表采集铜板表面温度。

    LED光强分布在线测试系统

    公开(公告)号:CN109632090B

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN201910089135.2

    申请日:2019-01-30

    Abstract: 本发明公开了一种LED光强分布在线测试系统,包括固定台、驱动固定台移动的运动机构、设于固定台上方的罩壳及连接于罩壳内表面的光度探测组件、设于测试系统外部的老化箱;罩壳通过旋转机构与老化箱转动连接。光度探测组件包括光度探头、探头驱动电机及探头驱动滑块,光度探头通过探头驱动电机与探头驱动滑块连接,罩壳内还设有供探头驱动滑块滑行的沟槽;将装有被测LED芯片的电路板置于固定台上,探头驱动电机旋转使探头驱动滑块沿沟槽滑行,带动光度探头运动,实现被测LED芯片的空间光强分布测试。运动机构包括X轴运动组件和Y轴运动组件,使固定台前后左右移动。本发明还设置透明隔热罩和光度计,实现了对不同类型电路板的不同位置处的LED芯片进行光强分布在线测试,提高了测试效率,减少了测试误差,延长光度探头的使用寿命。

    一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置

    公开(公告)号:CN110161010A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201910585195.3

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 本发明公开一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置,包括光学平台、积分球、光谱仪、激光二极管、控温平台、圆形滑轨和滑块,其中控温平台由铜板、TEC、散热器、温度传感器、风扇、驱动电源、导线、测温仪表组成。测试时,圆形滑轨放置在积分球右半部分,激光二极管放置于滑块上,通过滑块在圆形滑轨的移动,实现激光二极管与荧光材料角度的调节,光由激光二极管照射到放置荧光材料的控温平台,由光谱仪采集积分球内部的反射光。当荧光材料需要升温时,通过改变TEC电流升高温度,由测温仪表采集铜板表面温度;当荧光材料需要降温时,通过改变TEC电流降低温度,同时开启风扇,加速降温冷却过程,由测温仪表采集铜板表面温度。

    一种LED多芯片模组的光、色性能预测方法

    公开(公告)号:CN110057551A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910322410.0

    申请日:2019-04-22

    Abstract: 本发明公开了半导体照明技术领域的一种LED多芯片模组的光、色性能预测方法,旨在解决现有技术中预测LED多芯片模组的光、色性能模型复杂,公式繁琐的技术问题。采集LED多芯片模组中某一颗LED的结温以及光谱;使用光谱模型对采集到的单颗LED光谱进行拆解,得到对应的光谱特征参数,对各个光谱特征参数进行拟合,得出各特征参数关于电流、LED的结温的表达式,建立单颗LED的电-热-光-色耦合模型;使用温度仿真软件求出每颗LED的结温;求出每颗LED对应的光谱;使用光学仿真软件求得LED多芯片模组的光、色参数。本发明所述预测方法流程简单,操作简便,减少了测量时间以及计算时间,提高了LED多芯片模组的输出光质量,节约了LED多芯片模组的生产成本。

    一种多芯片LED模组的照度均匀性优化设计方法

    公开(公告)号:CN109815634A

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201910149173.2

    申请日:2019-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种多芯片LED模组的照度均匀性优化设计方法,计算得出LED灯珠之间的间距d;对LED模组进行光学仿真,得出仿真照度均匀度EB2/EA2;将仿真照度均匀度EB2/EA2与光接收面的所需的照度均匀度EB1/EA1做差得到差值,二者间差值在设定的范围c内,结束设计,得到符合的LED灯珠的颗数n和LED灯珠之间的间距为d;若差值不在范围c内,则增大或减小LED灯珠的颗数n,重复步骤一。本发明通过数值计算与光学仿真的方法获得光输出均匀性高的多芯片LED模组的芯片排布方式,可采用最少的LED灯珠数量,节约了现有技术中的测量时间和节约了LED的生产成本。

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