公开(公告)号：CN109447914B

公开(公告)日：2021-02-19

申请号：CN201811257712.6

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  韩力英 ,  杨东旭 ,  马俊成 ,  康晴 ,  孙梅

IPC分类号： G06T5/00 ,  G06T5/40 ,  G06T5/50

摘要： 本发明实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法，涉及使用直方图技术的图像数据处理，该方法是求出纳米颗粒SEM原始图像的分块均衡化拼接图像的像素值与纳米颗粒SEM对称外拓展分块均衡化拼接截取图像像素值的平均值，实现整体纳米颗粒SEM图像的亮度均匀化，克服了现有技术采用掩模法、分块处理以及划分区域只适应于图像非边沿部分的校正，均存在无法实现图像周围边界部分进行插值和校正，即无法实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的缺陷。

公开(公告)号：CN109447914A

公开(公告)日：2019-03-08

申请号：CN201811257712.6

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  韩力英 ,  杨东旭 ,  马俊成 ,  康晴 ,  孙梅

IPC分类号： G06T5/00 ,  G06T5/40 ,  G06T5/50

CPC分类号： G06T5/005 ,  G06T5/40 ,  G06T5/50 ,  G06T2207/10061 ,  G06T2207/20216

摘要： 本发明实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法，涉及使用直方图技术的图像数据处理，该方法是求出纳米颗粒SEM原始图像的分块均衡化拼接图像的像素值与纳米颗粒SEM对称外拓展分块均衡化拼接截取图像像素值的平均值，实现整体纳米颗粒SEM图像的亮度均匀化，克服了现有技术采用掩模法、分块处理以及划分区域只适应于图像非边沿部分的校正，均存在无法实现图像周围边界部分进行插值和校正，即无法实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的缺陷。