发明授权
CN109447914B 实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法
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申请号： CN201811257712.6申请日： 2018-10-26
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公开(公告)号： CN109447914B公开(公告)日： 2021-02-19
- 发明人: 赵红东 , 李宇海 , 韩力英 , 杨东旭 , 马俊成 , 康晴 , 孙梅
- 申请人： 河北工业大学 , 中国电子科技集团公司第五十三研究所
- 申请人地址： 天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
- 专利权人： 河北工业大学,中国电子科技集团公司第五十三研究所
- 当前专利权人： 河北工业大学,中国电子科技集团公司第五十三研究所
- 当前专利权人地址： 天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
- 代理机构： 天津翰林知识产权代理事务所
- 代理商 胡安朋
- 主分类号： G06T5/00
- IPC分类号： G06T5/00 ; G06T5/40 ; G06T5/50
摘要：
本发明实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法，涉及使用直方图技术的图像数据处理，该方法是求出纳米颗粒SEM原始图像的分块均衡化拼接图像的像素值与纳米颗粒SEM对称外拓展分块均衡化拼接截取图像像素值的平均值，实现整体纳米颗粒SEM图像的亮度均匀化，克服了现有技术采用掩模法、分块处理以及划分区域只适应于图像非边沿部分的校正，均存在无法实现图像周围边界部分进行插值和校正，即无法实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的缺陷。
公开/授权文献
- CN109447914A 实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法 公开/授权日：2019-03-08
