一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法

    公开(公告)号:CN110161398B

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN201910536473.6

    申请日:2019-06-20

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法,包括以下步骤:建立IGBT功率模块的电‑热耦合模型;通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据;建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型,实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。本发明设计合理,其利用IGBT壳温便于测量以及壳温可以反映IGBT老化状态的特点,在评估过程中,充分考虑IGBT老化的影响,通过电‑热耦合模型能够更加准确地获得全新功率模块中IGBT功率损耗和壳温的变化情况,从而利用壳温评估IGBT的老化状态,本发明无需测量结温即可确定模块的老化状态,从而避免疲劳失效造成的损坏,提高电力电子设备运行的可靠性。

    一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法

    公开(公告)号:CN110161398A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201910536473.6

    申请日:2019-06-20

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法,包括以下步骤:建立IGBT功率模块的电-热耦合模型;通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据;建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型,实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。本发明设计合理,其利用IGBT壳温便于测量以及壳温可以反映IGBT老化状态的特点,在评估过程中,充分考虑IGBT老化的影响,通过电-热耦合模型能够更加准确地获得全新功率模块中IGBT功率损耗和壳温的变化情况,从而利用壳温评估IGBT的老化状态,本发明无需测量结温即可确定模块的老化状态,从而避免疲劳失效造成的损坏,提高电力电子设备运行的可靠性。