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公开(公告)号：CN102252220A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110064729.1
申请日：2011-03-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: F21S8/00 , F21V19/00 , F21V23/06 , F21Y101/02
CPC classification number: G01N21/8806 , F21K9/20 , F21K9/90 , F21Y2103/33 , F21Y2107/00 , F21Y2115/10 , G03B15/05 , G03B2215/0539 , G03B2215/0567 , G03B2215/0575 , H05B33/0827 , H05K1/0278 , H05K1/028 , H05K1/0281 , H05K1/189 , H05K3/0052 , H05K3/0058 , H05K2201/09081 , H05K2201/10106 , H05K2203/0228 , H05K2203/302 , Y10T29/49002
Abstract: 提供能够抑制成本而且能够制造出规格不同的多种照明装置的制造方法。基板(10)包括具有可挠性的共用部分(10A)，及能够相对于共用部分(10A)弯曲的多个单元(14)，共用部分(10A)在纸面的横向上延伸，该共用部分(10A)包括每隔预先规定的间隔而配置的垫片(12)。在本制造方法中，在第一方向上切断安装有发光元件的基板(10)从而制成基板片，根据应当制造的照明装置使基板片所包括的共用部分(10A)成型，对个别部分(10B)相对于成型后的共用部分(10A)的相对位置分别进行定位，并且形成用于对基板片所包括的垫片(12)供电的布线。
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公开(公告)号：CN104067090B
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201380006127.8
申请日：2013-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B9/02036 , G01B9/02042 , G01B9/02044 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B11/2441 , G01B2210/50 , G02B21/0016
Abstract: 本发明涉及利用共聚焦光学系统对检测对象物(200)的位移进行检测的共聚焦检测装置。共聚焦检测装置具有：光源，出射多个波长的光；衍射透镜(1)，使从光源出射的光沿着光轴方向产生色像差；检测部，按照波长检测通过衍射透镜(1)产生色像差的光中的在检测对象物(200)会聚的光的强度。另外，在共聚焦检测装置中，从光源入射至衍射透镜(1)的主光线(11b)相对于衍射透镜(1)的光轴(1a)偏离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102252220B
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201110064729.1
申请日：2011-03-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: F21S8/00 , F21V19/00 , F21V23/06 , F21Y101/02
CPC classification number: G01N21/8806 , F21K9/20 , F21K9/90 , F21Y2103/33 , F21Y2107/00 , F21Y2115/10 , G03B15/05 , G03B2215/0539 , G03B2215/0567 , G03B2215/0575 , H05B33/0827 , H05K1/0278 , H05K1/028 , H05K1/0281 , H05K1/189 , H05K3/0052 , H05K3/0058 , H05K2201/09081 , H05K2201/10106 , H05K2203/0228 , H05K2203/302 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明提供能够抑制成本而且能够制造出规格不同的多种照明装置的制造方法。基板(10)包括具有可挠性的共用部分(10A)，及能够相对于共用部分(10A)弯曲的多个单元(14)，共用部分(10A)在纸面的横向上延伸，该共用部分(10A)包括每隔预先规定的间隔而配置的垫片(12)。在本制造方法中，在第一方向上切断安装有发光元件的基板(10)从而制成基板片，根据应当制造的照明装置使基板片所包括的共用部分(10A)成型，对个别部分(10B)相对于成型后的共用部分(10A)的相对位置分别进行定位，并且形成用于对基板片所包括的垫片(12)供电的布线。
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公开(公告)号：CN104067090A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201380006127.8
申请日：2013-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B9/02036 , G01B9/02042 , G01B9/02044 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B11/2441 , G01B2210/50 , G02B21/0016
Abstract: 本发明涉及利用共聚焦光学系统对检测对象物(200)的位移进行检测的共聚焦检测装置。共聚焦检测装置具有：光源，出射多个波长的光；衍射透镜(1)，使从光源出射的光沿着光轴方向产生色像差；检测部，按照波长检测通过衍射透镜(1)产生色像差的光中的在检测对象物(200)会聚的光的强度。另外，在共聚焦检测装置中，从光源入射至衍射透镜(1)的主光线(11b)相对于衍射透镜(1)的光轴(1a)偏离。
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公开(公告)号：CN100473944C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200610135964.2
申请日：2006-10-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/026
Abstract: 本发明在能够简单地变更动作距离和测定范围的同时，也能变确保更后的测量精度。在传感器头部(1)中，通过相应于准直透镜(6)以及音叉(8)的振动而往复移动的一对聚光透镜(7a、7b)，生成平行光或者近似平行光，并由光出入口(11)射出。在光出入口(11)以可装卸地安装支承物镜(12)的透镜架(13)。从光出入口(11)射出的光通过物镜(12)被加工为在规定位置聚光的测量光束(BM)。
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公开(公告)号：CN1955634A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610135964.2
申请日：2006-10-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/026
Abstract: 本发明在能够简单地变更动作距离和测定范围的同时，也能变确保更后的测量精度。在传感器头部(1)中，通过相应于准直透镜(6)以及音叉(8)的振动而往复移动的一对聚光透镜(7a、7b)，生成平行光或者近似平行光，并由光出入口(11)射出。在光出入口(11)以可装卸地安装支承物镜(12)的透镜架(13)。从光出入口(11)射出的光通过物镜(12)被加工为在规定位置聚光的测量光束(BM)。
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