公开(公告)号：CN101762298B

公开(公告)日：2013-11-13

申请号：CN200910258169.6

申请日：2009-12-22

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 福原聪 ,  片冈明 ,  请园信博 ,  伊津耕平 ,  冈本和年

IPC: G01F1/66 ,  G01P5/24

CPC classification number: G01F1/667 ,  G01F1/704

Abstract: 一种超声波测量仪包括，但并不局限于，发射器、接收器和计算器，其中发射器向具有气泡和/或颗粒的流体发射一连串超声波脉冲串信号，这一连串超声波脉冲串信号被流体中的气泡和/或颗粒反射，成为一连串反射信号；接收器接收这一连串反射信号；计算器通过对从接收器输出的一连串接收信号执行相关处理来计算多个相关系数，并基于所述多个相关系数来计算流体的物理量。

公开(公告)号：CN101762298A

公开(公告)日：2010-06-30

申请号：CN200910258169.6

申请日：2009-12-22

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 福原聪 ,  片冈明 ,  请园信博 ,  伊津耕平 ,  冈本和年

IPC: G01F1/66 ,  G01P5/24

CPC classification number: G01F1/667 ,  G01F1/704

Abstract: 一种超声波测量仪包括，但并不局限于，发射器、接收器和计算器，其中发射器向具有气泡和/或颗粒的流体发射一连串超声波脉冲串信号，这一连串超声波脉冲串信号被流体中的气泡和/或颗粒反射，成为一连串反射信号；接收器接收这一连串反射信号；计算器通过对从接收器输出的一连串接收信号执行相关处理来计算多个相关系数，并基于所述多个相关系数来计算流体的物理量。

公开(公告)号：CN104880228B

公开(公告)日：2019-05-31

申请号：CN201510087414.7

申请日：2015-02-25

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 林悠一 ,  福原聪 ,  伊藤来

IPC: G01F1/74

CPC classification number: G01F1/74 ,  G01F1/7082

Abstract: 本发明公开了一种多相流量计，其包括：第一流量测量器，被配置成传送和接收第一测量信号，所述第一流量测量器布置在垂直管道的外壁上；第二流量测量器，被配置成传送和接收第二测量信号，所述第二流量测量器布置在连接至所述垂直管道的水平管道的外壁上；以及流量参数计算器，被配置成接收来自所述第一流量测量器的所述第一测量信号和来自第二流量测量器的所述第二测量信号，所述流量参数计算器根据所述第一测量信号和所述第二测量信号来计算流量参数。

公开(公告)号：CN1089895C

公开(公告)日：2002-08-28

申请号：CN96107577.5

申请日：1996-05-29

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 池田恭一 ,  渡边哲也 ,  福原聪 ,  吉田隆司 ,  塚本秀郎

IPC: G01L9/00 ,  G01L13/02

CPC classification number: G01L13/025 ,  G01L9/0054 ,  G01L9/045 ,  G01L15/00

Abstract: 一种半导体差示压力测量装置，包括使用微加工技术安设在半导体基片上的两个测量膜片和两个检测传感器，以及计算这两个传感器之间的输出差的计算电路。此外，计算电路可以被布置成仅仅使用至少一个第一传感器和一个第二传感器(各在一个测量膜片上)来构成所需要的桥式电路，以减少制作成本。

公开(公告)号：CN104880228A

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201510087414.7

申请日：2015-02-25

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 林悠一 ,  福原聪 ,  伊藤来

IPC: G01F1/74

CPC classification number: G01F1/74 ,  G01F1/7082

Abstract: 本发明公开了一种多相流量计，其包括：第一流量测量器，被配置成传送和接收第一测量信号，所述第一流量测量器布置在垂直管道的外壁上；第二流量测量器，被配置成传送和接收第二测量信号，所述第二流量测量器布置在连接至所述垂直管道的水平管道的外壁上；以及流量参数计算器，被配置成接收来自所述第一流量测量器的所述第一测量信号和来自第二流量测量器的所述第二测量信号，所述流量参数计算器根据所述第一测量信号和所述第二测量信号来计算流量参数。

公开(公告)号：CN1052538C

公开(公告)日：2000-05-17

申请号：CN93117514.3

申请日：1993-09-10

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 池田恭一 ,  渡边哲也 ,  冢本秀郎 ,  工藤贵裕 ,  长井浩二 ,  福原聪

IPC: G01L7/08

Abstract: 一种含有其两侧设有测量室的测量膜片的半导体式差压测量装置，包括第一室与第一室连通的第一连通孔、凹形部分、第二连通孔、应变检出元件，还包括设置在硅基片上的第二室及一个支承基片。该装置在允许的测量检限内检出差压，但当施加过压时，测量膜片直接由测量室的壁支持以防止膜片被过压所损坏。因此，该装置不需要抗过压的附加保护机构。

公开(公告)号：CN1100198A

公开(公告)日：1995-03-15

申请号：CN93117514.3

申请日：1993-09-10

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 池田恭一 ,  渡边哲也 ,  本秀郎 ,  工藤贵裕 ,  长井浩二 ,  福原聪

IPC: G01L13/02

Abstract: 一种半导体式差压测量装置，它含有一个周边固定的测量膜片和两个各有预定间隔的沿所述的测量膜片两表面的测量室。该装置在允许的测量极限内检出差压，但当施加过压时，测量膜片直接由测量室的壁支持以防止膜片被过压所损坏。因此，该装置不需要抗过压的附加保护机构。

公开(公告)号：CN103308105B

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201310070725.3

申请日：2013-03-06

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 福原聪 ,  冈本和年 ,  伊藤来 ,  古仪史也

IPC: G01F1/66 ,  G01P5/24

Abstract: 本发明提供超声波测量设备和方法，其通过向流体发送超声波信号以及接收从所述流体获得的所述超声波信号的透射信号或反射信号来测量所述流体的流量，该超声波测量设备包括：第一计算处理单元，用于对第一接收信号执行计算并确定表明所述流体流量的第一流量，所述第一接收信号通过接收所述透射信号而获得；第二计算处理单元，用于对第二接收信号执行相关计算并确定表明所述流体流量的第二流量，所述第二接收信号通过接收所述反射信号而获得；存储单元；以及校正单元，用于基于包含在所述流体中的气泡的量来输出所述第一流量和第二流量中的一个。

公开(公告)号：CN103308105A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310070725.3

申请日：2013-03-06

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 福原聪 ,  冈本和年 ,  伊藤来 ,  古仪史也

IPC: G01F1/66 ,  G01P5/24

Abstract: 本发明提供超声波测量设备和方法，其通过向流体发送超声波信号以及接收从所述流体获得的所述超声波信号的透射信号或反射信号来测量所述流体的流量，该超声波测量设备包括：第一计算处理单元，用于对第一接收信号执行计算并确定表明所述流体流量的第一流量，所述第一接收信号通过接收所述透射信号而获得；第二计算处理单元，用于对第二接收信号执行相关计算并确定表明所述流体流量的第二流量，所述第二接收信号通过接收所述反射信号而获得；存储单元；以及校正单元，用于基于包含在所述流体中的气泡的量来输出所述第一流量和第二流量中的一个。

公开(公告)号：CN1140836A

公开(公告)日：1997-01-22

申请号：CN96107577.5

申请日：1996-05-29

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 池田恭一 ,  渡边哲也 ,  福原聪 ,  吉田隆司 ,  本秀郎

IPC: G01L1/20

CPC classification number: G01L13/025 ,  G01L9/0054 ,  G01L9/045 ,  G01L15/00

Abstract: 一种半导体差示压力测量装置，包括使用微加工技术安设在半导体基片上的两个测量膜片和两个检测传感器，以及计算这两个传感器之间的输出差的计算电路。此外，计算电路可以被布置成仅仅使用至少一个第一传感器和一个第二传感器(各在一个测量膜片上)来构成所需要的桥式电路，以减少制作成本。