透明导电膜的制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105874545A

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201580003747.5

    申请日:2015-02-27

    Inventor: 上田拓明

    Abstract: 本发明涉及具备ITO透明电极层的透明导电膜的制造方法。卷取式溅射制膜装置(200)具备与制膜辊(256)相邻接的至少3个制膜室(201、202、203、204)。一边在制膜辊(256)上搬运透明膜基材(10),一边在1个以上的制膜室中进行溅射制膜,形成膜厚为0.5nm~4nm的基底导电层(21),在2个以上的制膜室中依次进行溅射制膜,在基底导电层上形成总膜厚为8nm~25nm的主导电层(25)。进行基底导电层(21)的形成的制膜室中的施加电功率为进行基底导电层(21)和主导电层(25)的形成的各制膜室中的施加电功率的合计的5%~20%。在主导电层的形成中,与最初对ITO薄膜进行制膜的制膜室中的施加电功率相比,随后对ITO薄膜进行制膜的制膜室中的施加电功率优选较大。

    透明导电膜的制造方法
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105874545B

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201580003747.5

    申请日:2015-02-27

    Inventor: 上田拓明

    Abstract: 本发明涉及具备ITO透明电极层的透明导电膜的制造方法。卷取式溅射制膜装置(200)具备与制膜辊(256)相邻接的至少3个制膜室(201、202、203、204)。一边在制膜辊(256)上搬运透明膜基材(10),一边在1个以上的制膜室中进行溅射制膜,形成膜厚为0.5nm~4nm的基底导电层(21),在2个以上的制膜室中依次进行溅射制膜,在基底导电层上形成总膜厚为8nm~25nm的主导电层(25)。进行基底导电层(21)的形成的制膜室中的施加电功率为进行基底导电层(21)和主导电层(25)的形成的各制膜室中的施加电功率的合计的5%~20%。在主导电层的形成中,与最初对ITO薄膜进行制膜的制膜室中的施加电功率相比,随后对ITO薄膜进行制膜的制膜室中的施加电功率优选较大。

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