控制装置、控制方法及控制程序
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117940796A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202280061561.5

    申请日:2022-08-25

    Abstract: 对光学传感器进行控制的控制装置的处理器构成为执行以下处理:基于针对第一强度(I1)的照射光而由光学传感器检测出的回波,获取表示到检测区域中对光反射的反射目标为止的距离值的距离图像数据(Dd);基于针对比第一强度(I1)低的第二强度(I2)的照射光而由光学传感器检测出的回波,获取表示从检测区域中的反射目标反射的回波的强度值的强度图像数据(Di);基于强度图像数据(Di),在距离图像数据(Dd)中推定在拍摄到反射目标的目标像素区域(Rt)的周围预测到眩光摄像的眩光像素区域(Rf);以及在距离图像数据(Dd)中除去回波的检出时机与目标像素区域(Rt)重叠的眩光像素区域(Rf)的距离值。

    光检测装置
    3.
    发明公开
    光检测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116438480A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202180073758.6

    申请日:2021-10-19

    Abstract: 激光雷达装置(100)是具备发光单元(20)、受光单元(40)以及光学单元(60)的光检测装置。在发光单元(20)中,在光源排列方向(ADs)上排列辐射光束(SB)的多个VCSEL元件。受光单元(40)接收来自测定区域的反射光束(RB)。光学单元(60)包含第一光学元件(61)以及第二光学元件(71),并形成沿在光源排列方向(ADs)上延伸的投射光束(PB)。第一光学元件(61)在与光源排列方向(ADs)垂直的主扫描面(MS)上,在光束(SB)的透射方向上具有负光焦度。第二光学元件(71)位于第一光学元件(61)的后级,在主扫描面(MS)上在透射方向上具有正光焦度。

    光飞行型测距装置及其方法

    公开(公告)号:CN106662641A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201580043296.8

    申请日:2015-11-03

    CPC classification number: G01S17/10 G01S7/4861 G01S7/4865 G01S7/4868

    Abstract: 光飞行型测距装置(1)具备:发光元件(4),向空间发出以具有重复周期的图案进行了调制的调制光;驱动部(3),对发光元件进行驱动;受光元件(6),将与包含调制光在对象物处反射得到的反射光的入射光相应的电荷分配到多个蓄积电容(14a、14b)来蓄积;控制部(5),对受光元件的曝光进行控制;以及信号处理部(11),使用由受光元件采样得到的值计算到对象物的距离。对受光元件(6)的曝光进行控制使得对至少一个高次谐波具有灵敏度,将基波的分量与高次谐波的分量进行线性结合来计算到对象物的距离。追加高次谐波的分量,与此相应地,相比于仅根据基波的分量计算距离的情况,能够适当地降低距离误差。

    光学测距装置以及光学测距方法

    公开(公告)号:CN112888963A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN201980069827.9

    申请日:2019-10-21

    Abstract: 本发明提供光学测距装置以及光学测距方法。在第一方向且遍及至少规定的视角范围扫描用于在规定方向上检测至少2个像素的量的激光,驱动反射该激光的反射体(71),在与第一方向交叉的第二方向且遍及外部的规定范围扫描该激光。通过路径变更部(66),将来自对象物的反射光向受光透镜(61)侧折回,并通过受光部(60)检测聚焦的来自对象物的反射光,根据从激光发射到受光的时间,来检测到对象物的距离,其中,路径变更部设置在从反射体向上游侧的路径的中途,受光部具备至少2个像素的量的受光元件(65a)。路径变更部配置为使在第一方向且遍及规定的视角范围进行了扫描的激光穿过路径变更部到达反射体。

    光飞行型测距装置及其方法

    公开(公告)号:CN106662641B

    公开(公告)日:2019-08-16

    申请号:CN201580043296.8

    申请日:2015-11-03

    CPC classification number: G01S17/10 G01S7/4861 G01S7/4865 G01S7/4868

    Abstract: 光飞行型测距装置(1)具备:发光元件(4),向空间发出以具有重复周期的图案进行了调制的调制光;驱动部(3),对发光元件进行驱动;受光元件(6),将与包含调制光在对象物处反射得到的反射光的入射光相应的电荷分配到多个蓄积电容(14a、14b)来蓄积;控制部(5),对受光元件的曝光进行控制;以及信号处理部(11),使用由受光元件采样得到的值计算到对象物的距离。对受光元件(6)的曝光进行控制使得对至少一个高次谐波具有灵敏度,将基波的分量与高次谐波的分量进行线性结合来计算到对象物的距离。追加高次谐波的分量,与此相应地,相比于仅根据基波的分量计算距离的情况,能够适当地降低距离误差。

    测距装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113646660B

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202080025163.9

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明的测距装置(10)具备:照射部(20);受光部(30),具有多个受光要素(31)排列为面状而成的受光面(S1),将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素,并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号;距离图像获取部(50),利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像;背景光图像获取部(60),利用受光信号获取背景光图像;信息获取部(81),获取与背景光的强度相关的强度相关信息;以及分辨率控制部(82),根据与强度相关信息相关的背景光的强度,分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。

    测距装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113646660A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202080025163.9

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明的测距装置(10)具备:照射部(20);受光部(30),具有多个受光要素(31)排列为面状而成的受光面(S1),将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素,并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号;距离图像获取部(50),利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像;背景光图像获取部(60),利用受光信号获取背景光图像;信息获取部(81),获取与背景光的强度相关的强度相关信息;以及分辨率控制部(82),根据与强度相关信息相关的背景光的强度,分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。

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