公开(公告)号：CN100352027C

公开(公告)日：2007-11-28

申请号：CN200410079762.1

申请日：2004-09-17

Applicant: 株式会社村田制作所

Inventor： 木村裕二 ,  前田剛伸 ,  家邊徹

IPC: H01L21/60 ,  H01L21/52

CPC classification number: H05K1/0269 ,  H01L23/544 ,  H01L24/11 ,  H01L2223/54473 ,  H01L2224/05568 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/05644 ,  H01L2224/1134 ,  H01L2224/1403 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01025 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/10329 ,  H01L2924/15787 ,  H05K3/303 ,  H05K3/4015 ,  H05K2201/0367 ,  H05K2201/09781 ,  H05K2201/10674 ,  H05K2203/166 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014

Abstract: 提供了一种在其一主表面上具有电极的电路元件和在其一主表面上具有连接凸起电极和识别凸起电极的基片。用引线接合法，在连接凸起电极和识别凸起电极上形成连接凸起和识别凸起。根据由光学设备拾取识别凸起的图象，检测识别凸起的位置，并根据检测到的识别凸起的位置，通过连接凸起将电路元件连接至基片。因为识别凸起的上部成凸状，可以容易地获得相对于识别凸起电极的对比度，并可正确地检测到识别凸起的位置。

公开(公告)号：CN1599048A

公开(公告)日：2005-03-23

申请号：CN200410079762.1

申请日：2004-09-17

Applicant: 株式会社村田制作所

Inventor： 木村裕二 ,  前田剛伸 ,  家邊徹

IPC: H01L21/60 ,  H01L21/52

CPC classification number: H05K1/0269 ,  H01L23/544 ,  H01L24/11 ,  H01L2223/54473 ,  H01L2224/05568 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/05644 ,  H01L2224/1134 ,  H01L2224/1403 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01025 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/10329 ,  H01L2924/15787 ,  H05K3/303 ,  H05K3/4015 ,  H05K2201/0367 ,  H05K2201/09781 ,  H05K2201/10674 ,  H05K2203/166 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014

Abstract: 提供了一种在其一主表面上具有电极的电路元件和在其一主表面上具有连接凸起电极和识别凸起电极的基片。用引线接合法，在连接凸起电极和识别凸起电极上形成连接凸起和识别凸起。根据由光学设备拾取识别凸起的图象，检测识别凸起的位置，并根据检测到的识别凸起的位置，通过连接凸起将电路元件连接至基片。因为识别凸起的上部成凸状，可以容易地获得相对于识别凸起电极的对比度，并可正确地检测到识别凸起的位置。