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公开(公告)号：CN119998620A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202380072873.0
申请日：2023-11-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01B11/08
Abstract: 本发明的目的在于提供一种在利用光来计测液体样品内所包含的粒子的尺寸时，能够应对因各种理由而变化的灵敏度的技术。本发明的粒子计测装置使用基准样品来校正样品所包含的粒子的尺寸，所述基准样品具备具有与样品容器窗相同的材质以及厚度的基准样品窗，并且具备反射率与样品相同程度的物质，使用在不同的两个时间点计测出的所述物质的反射率来校正样品尺寸（参照图9）。
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公开(公告)号：CN117980720A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280063229.2
申请日：2022-01-24
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/0205
Abstract: 本发明的目的在于，在通过光照射来测量粒子的尺寸、密度等的情况下，减轻用户对测量装置输入粒子的折射率、溶剂的折射率的负担，并且提高依赖于折射率的测定精度。本发明的粒子测量装置确定透光窗与样品之间的沿着光轴方向的边界位置，使用该边界位置处的已知样品的折射率和所述透光窗的折射率来计算所述样品的折射率(参照图6)。
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公开(公告)号：CN108885961B
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201680084076.4
申请日：2016-03-29
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/073
Abstract: 为了提供一种能够迅速且容易地进行环形照明、广域照射、希望的干涉模式与正常照明之间的切换或者得到良好的S/N的电子显微镜，具有：光电阴极(101)，其使用负的电子亲和力；激发光学系统，其用于激发光电阴极；以及电子光学系统，其通过经由激发光学系统照射的激发光(12)将从光电阴极产生的电子束(13)照射到试样上，激发光学系统包括激发光的光源装置(107)和光调制单元(108)，该光调制单元(108)配置在激发光的光路中并对激发光进行空间相位调制。
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公开(公告)号：CN112106166A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201880093381.9
申请日：2018-05-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J1/34 , H01J37/073
Abstract: 在光激发电子源中，在以透过具有特定的厚度和折射率的透明基板为前提设计成最适合的聚光透镜中，若透明基板不同，就不能使激发光的焦点良好地形成在光电膜上。因此，在光电阴极(1)与聚光透镜(2)之间，配置在激发光的波长下具有与光电阴极的基板的折射率相等的折射率的光球面像差校正板(21)。或者，设置使向聚光透镜照射的平行光发散或会聚的光球面像差校正器(20)。由此，可抑制电子束的闪耀，能实现光激发电子源的高亮度化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108885961A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201680084076.4
申请日：2016-03-29
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J37/073
Abstract: 为了提供一种能够迅速且容易地进行环形照明、广域照射、希望的干涉模式与正常照明之间的切换或者得到良好的S/N的电子显微镜，具有：光电阴极(101)，其使用负的电子亲和力；激发光学系统，其用于激发光电阴极；以及电子光学系统，其通过经由激发光学系统照射的激发光(12)将从光电阴极产生的电子束(13)照射到试样上，激发光学系统包括激发光的光源装置(107)和光调制单元(108)，该光调制单元(108)配置在激发光的光路中并对激发光进行空间相位调制。
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公开(公告)号：CN119384603A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202380047499.9
申请日：2023-06-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 推定被检检体的凝血时间的延长原因。凝血时间的延长原因的推定方法取得表示混合被检检体和试剂的反应液的凝固反应所引起随时间的光量的变化的凝固波形（S301b），通过对凝固波形的前后差分处理来取得第1波形（S302b），通过对凝固波形以及第1波形的拟合处理来取得第1以及第2拟合波形（S303b、S304b），通过对第2拟合波形的前后差分处理来取得第3波形（S305b），通过将第1以及第2拟合波形以及第3波形各自的光量轴以及时间轴归一化，来取得第1～第3归一化波形（S306b），从第1～第3归一化波形各自提取特征量（S307b），基于已知的特征量和所提取的特征量来推定被检检体的凝血时间的延长原因。
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公开(公告)号：CN113227759B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN201980087117.9
申请日：2019-01-09
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N15/0205 , G01N15/0227
Abstract: 本发明的目的在于提供能够定量地计测在样品内进行布朗运动的粒子的尺寸分布的光计测技术。本发明的尺寸分布计测装置一边沿计测光的光轴方向扫描焦点位置，一边计测反射光强度，并按照其中最大的反射光强度计算粒子的尺寸分布(参照图9)。
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公开(公告)号：CN118043641A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202280066249.5
申请日：2022-01-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N15/0227
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够判别粒子的种类的粒子测量装置。本发明的粒子测量装置在样品内的三维区域中沿着光轴方向反复扫描光的焦点位置，计算(a)根据在扫描过程中从各焦点位置取得的来自粒子的反射光的最大强度得到的、表示粒子的类别的一个以上的参数；(b)基于通过持续跟踪粒子而取得的粒子的位置得到的、表示粒子的类别的一个以上的参数中的至少两个以上的参数并输出其结果(参照图1)。
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公开(公告)号：CN112106166B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201880093381.9
申请日：2018-05-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: H01J1/34 , H01J37/073
Abstract: 在光激发电子源中，在以透过具有特定的厚度和折射率的透明基板为前提设计成最适合的聚光透镜中，若透明基板不同，就不能使激发光的焦点良好地形成在光电膜上。因此，在光电阴极(1)与聚光透镜(2)之间，配置在激发光的波长下具有与光电阴极的基板的折射率相等的折射率的光球面像差校正板(21)。或者，设置使向聚光透镜照射的平行光发散或会聚的光球面像差校正器(20)。由此，可抑制电子束的闪耀，能实现光激发电子源的高亮度化。
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