粒子计测装置、粒子计测方法、反射率基准样品

    公开(公告)号:CN119998620A

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202380072873.0

    申请日:2023-11-07

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种在利用光来计测液体样品内所包含的粒子的尺寸时,能够应对因各种理由而变化的灵敏度的技术。本发明的粒子计测装置使用基准样品来校正样品所包含的粒子的尺寸,所述基准样品具备具有与样品容器窗相同的材质以及厚度的基准样品窗,并且具备反射率与样品相同程度的物质,使用在不同的两个时间点计测出的所述物质的反射率来校正样品尺寸(参照图9)。

    电子显微镜
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108885961A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201680084076.4

    申请日:2016-03-29

    Abstract: 为了提供一种能够迅速且容易地进行环形照明、广域照射、希望的干涉模式与正常照明之间的切换或者得到良好的S/N的电子显微镜,具有:光电阴极(101),其使用负的电子亲和力;激发光学系统,其用于激发光电阴极;以及电子光学系统,其通过经由激发光学系统照射的激发光(12)将从光电阴极产生的电子束(13)照射到试样上,激发光学系统包括激发光的光源装置(107)和光调制单元(108),该光调制单元(108)配置在激发光的光路中并对激发光进行空间相位调制。

    粒子测量装置、粒子测量方法、样品容器

    公开(公告)号:CN117980720A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202280063229.2

    申请日:2022-01-24

    Abstract: 本发明的目的在于,在通过光照射来测量粒子的尺寸、密度等的情况下,减轻用户对测量装置输入粒子的折射率、溶剂的折射率的负担,并且提高依赖于折射率的测定精度。本发明的粒子测量装置确定透光窗与样品之间的沿着光轴方向的边界位置,使用该边界位置处的已知样品的折射率和所述透光窗的折射率来计算所述样品的折射率(参照图6)。

    电子显微镜
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108885961B

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201680084076.4

    申请日:2016-03-29

    Abstract: 为了提供一种能够迅速且容易地进行环形照明、广域照射、希望的干涉模式与正常照明之间的切换或者得到良好的S/N的电子显微镜,具有:光电阴极(101),其使用负的电子亲和力;激发光学系统,其用于激发光电阴极;以及电子光学系统,其通过经由激发光学系统照射的激发光(12)将从光电阴极产生的电子束(13)照射到试样上,激发光学系统包括激发光的光源装置(107)和光调制单元(108),该光调制单元(108)配置在激发光的光路中并对激发光进行空间相位调制。

    粒子测量装置
    9.
    发明公开
    粒子测量装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN118043641A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202280066249.5

    申请日:2022-01-21

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够判别粒子的种类的粒子测量装置。本发明的粒子测量装置在样品内的三维区域中沿着光轴方向反复扫描光的焦点位置,计算(a)根据在扫描过程中从各焦点位置取得的来自粒子的反射光的最大强度得到的、表示粒子的类别的一个以上的参数;(b)基于通过持续跟踪粒子而取得的粒子的位置得到的、表示粒子的类别的一个以上的参数中的至少两个以上的参数并输出其结果(参照图1)。

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