接合构造
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102779777A

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201210240591.0

    申请日:2009-01-08

    Abstract: 提供一种高可靠性的接合构造及具有该接合构造的半导体制造装置,该接合构造具有埋设在陶瓷构件中的金属端子和与外部连接、或从外部供给电力的金属连接构件。实施方式中的半导体用基座(1),由氮化铝构成,具有带孔的陶瓷构件(4)、由钼构成的埋设在陶瓷构件(4)中的端子(3)、插入到孔中的与端子(3)连接的由钼构成的连接构件(5)、连接端子(3)和连接构件(5)的焊料接合层(6),焊料接合层(6)只由金(Au)构成。

    接合构造
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102779777B

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201210240591.0

    申请日:2009-01-08

    Abstract: 提供一种高可靠性的接合构造及具有该接合构造的半导体制造装置,该接合构造具有埋设在陶瓷构件中的金属端子和与外部连接、或从外部供给电力的金属连接构件。实施方式中的半导体用基座(1),由氮化铝构成,具有带孔的陶瓷构件(4)、由钼构成的埋设在陶瓷构件(4)中的端子(3)、插入到孔中的与端子(3)连接的由钼构成的连接构件(5)、连接端子(3)和连接构件(5)的焊料接合层(6),焊料接合层(6)只由金(Au)构成。

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