一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置

    公开(公告)号:CN107421418B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN201710880594.3

    申请日:2017-09-26

    IPC分类号: G01B5/00

    摘要: 一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置,包括导向机构、磁力机构、顶紧机构、调节机构、测量机构和移动机构;千分表通过调节机构和顶紧机构的伸缩杆相连接,伸缩杆下端采用移动机构,从而构成一个整体刚性尺寸,顶紧结构内部有弹簧使整个测量结构下端贴实,套筒与导轨连接,导轨安装在滑块上,滑块通过磁力结构与被测量工件侧面相连接;放置好千分表、移动机构及磁力结构后,移动导轨,在到达预期点后,通过控制器直接测量该点相对位置尺寸并直接记录传递至存储设备,通过多点测量,即实现该箱体内部形位公差的测量。本发明提高了箱体内部检测的可靠性与效率,具有结构简单,设计巧妙,便于操作,通用可调,不限箱体纵深等优点。

    一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置

    公开(公告)号:CN107421418A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710880594.3

    申请日:2017-09-26

    IPC分类号: G01B5/00

    CPC分类号: G01B5/0002

    摘要: 一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置,包括导向机构、磁力机构、顶紧机构、调节机构、测量机构和移动机构;千分表通过调节机构和顶紧机构的伸缩杆相连接,伸缩杆下端采用移动机构,从而构成一个整体刚性尺寸,顶紧结构内部有弹簧使整个测量结构下端贴实,套筒与导轨连接,导轨安装在滑块上,滑块通过磁力结构与被测量工件侧面相连接;放置好千分表、移动机构及磁力结构后,移动导轨,在到达预期点后,通过控制器直接测量该点相对位置尺寸并直接记录传递至存储设备,通过多点测量,即实现该箱体内部形位公差的测量。本发明提高了箱体内部检测的可靠性与效率,具有结构简单,设计巧妙,便于操作,通用可调,不限箱体纵深等优点。

    一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置

    公开(公告)号:CN207248034U

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201721239486.X

    申请日:2017-09-26

    IPC分类号: G01B5/00

    摘要: 一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置,包括导向机构、磁力机构、顶紧机构、调节机构、测量机构和移动机构;千分表通过调节机构和顶紧机构的伸缩杆相连接,伸缩杆下端采用移动机构,从而构成一个整体刚性尺寸,顶紧结构内部有弹簧使整个测量结构下端贴实,套筒与导轨连接,导轨安装在滑块上,滑块通过磁力结构与被测量工件侧面相连接;放置好千分表、移动机构及磁力结构后,移动导轨,在到达预期点后,通过控制器直接测量该点相对位置尺寸并直接记录传递至存储设备,通过多点测量,即实现该箱体内部形位公差的测量。本实用新型提高了箱体内部检测的可靠性与效率,具有结构简单,设计巧妙,便于操作,通用可调,不限箱体纵深等优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利