切片装置及切片方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102737979A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210079285.3

    申请日:2012-03-23

    Inventor: 浦田章纮

    Abstract: 本发明涉及一种切片装置及切片方法。该切片装置将通过分割预定线形成有多个芯片区域的基板沿所述分割预定线进行分割,包括:第一抵接部,其与所述基板的一面抵接;第二抵接部,其与第一抵接部相对,并与所述基板的另一面抵接;刀片,其向由第一抵接部和第二抵接部夹持的所述基板的所述分割预定线上施加弯曲应力而进行切断,通过所述刀片对由第一抵接部和第二抵接部夹持且一端已经分割的所述芯片区域的另一端进行切断。

    切片装置及切片方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102737979B

    公开(公告)日:2014-12-31

    申请号:CN201210079285.3

    申请日:2012-03-23

    Inventor: 浦田章纮

    Abstract: 本发明涉及一种切片装置及切片方法。该切片装置将通过分割预定线形成有多个芯片区域的基板沿所述分割预定线进行分割,包括:第一抵接部,其与所述基板的一面抵接;第二抵接部,其与第一抵接部相对,并与所述基板的另一面抵接;刀片,其向由第一抵接部和第二抵接部夹持的所述基板的所述分割预定线上施加弯曲应力而进行切断,通过所述刀片对由第一抵接部和第二抵接部夹持且一端已经分割的所述芯片区域的另一端进行切断。

    氮化物半导体发光元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101901860A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN201010194102.3

    申请日:2010-05-28

    Inventor: 浦田章纮

    Abstract: 本发明公开了一种氮化物半导体发光元件及其制造方法。该元件包括:包括位错束集中区的n型氮化物半导体衬底;和在所述n型氮化物半导体衬底上的氮化物半导体堆叠体,具有按以下顺序的n型氮化物半导体层、有源层和p型氮化物半导体层,所述氮化物半导体发光元件具有:在对应于所述位错束集中区的所述氮化物半导体堆叠体的区中的电介质区,提供与部分所述p型氮化物半导体层和部分所述电介质区接触的p型电极,和所述n型氮化物半导体衬底的其上提供所述氮化物半导体堆叠体的侧相对的侧上提供的n型电极。

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