变形监控测量方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111397589A

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN202010264385.8

    申请日:2020-04-07

    IPC分类号: G01C15/00 G01B11/16

    摘要: 本发明公开了一种变形监控测量方法,包括设备安装:将激光发射设备固定在检测位置;控制器与激光发射设备通信连接;在多个被测点安装智能靶标以及检测机构,检测机构与控制器通信连接;基准检测:控制器控制激光发射设备朝智能靶标发射激光,检测机构检测标准光点的位置信号并将位置信号传输至控制器;变形检测:控制器控制激光发射设备朝智能靶标发射激光,检测机构检测检测光点的位置信号并将位置信号传输至控制器,控制器根据检测光点与标准光点的位置差异计算出被测点的变形量。本发明的激光发射设备安装后不需要频繁移动,降低人工操作量,提高检测的效率。