静态随机存取存储器
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109216361B

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN201810715448.X

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 本发明的实施例提供了一种静态随机存取存储器(SRAM)单元,包括写入端口,该写入端口包括第一反相器和与第一反相器交叉连接的第二反相器,第一反相器包括第一上拉晶体管和第一下拉晶体管,并且第二反相器包括第二上拉晶体管和第二下拉晶体管;以及读取端口,包括串联连接的读取传输门晶体管和读取下拉晶体管。掺杂在第二下拉晶体管和读取下拉晶体管的沟道区域中的杂质的第一掺杂浓度大于掺杂在第一下拉晶体管的沟道区域中的杂质的第二掺杂浓度,或杂质掺杂在第二下拉晶体管和读取下拉晶体管的沟道区域中,而没有掺杂在第一下拉晶体管的沟道区域中。

    静态随机存取存储器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109216361A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810715448.X

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 本发明的实施例提供了一种静态随机存取存储器(SRAM)单元,包括写入端口,该写入端口包括第一反相器和与第一反相器交叉连接的第二反相器,第一反相器包括第一上拉晶体管和第一下拉晶体管,并且第二反相器包括第二上拉晶体管和第二下拉晶体管;以及读取端口,包括串联连接的读取传输门晶体管和读取下拉晶体管。掺杂在第二下拉晶体管和读取下拉晶体管的沟道区域中的杂质的第一掺杂浓度大于掺杂在第一下拉晶体管的沟道区域中的杂质的第二掺杂浓度,或杂质掺杂在第二下拉晶体管和读取下拉晶体管的沟道区域中,而没有掺杂在第一下拉晶体管的沟道区域中。

    存储器元件
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108172258A

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201711175581.2

    申请日:2017-11-22

    Abstract: 本发明实施例提供一种存储器元件。存储器元件包括一存储器阵列以及一互相汉明距离分析器。存储器阵列包括多个区段,其中每一区段包括多个位元,以及多个区段的位元的数量是相同的。互相汉明差异分析器得到操作在不同操作条件下的多个区段的内容,以得到内容的多个互相汉明差异,并从多个区段的互相汉明差异中提供一最大互相汉明差异以及一最小互相汉明差异。互相汉明差异表示对应于一第一操作条件的多个区段的一区段的内容与对应于不同于第一操作条件的一第二操作条件的多个区段的另一区段的内容之间的不相似位元的数量。本公开提供的存储器元件可提高存储效率以及用来存储在不同条件下来自所有晶粒或芯片的位元的存储空间。

Patent Agency Ranking