磁性随机存取存储器及其制造方法

    公开(公告)号:CN110649156B

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN201910560580.2

    申请日:2019-06-26

    Inventor: 应继锋 侯敦晖

    Abstract: 本发明的实施例提供了一种磁性随机存取存储器及其制造方法。半导体器件包括磁性随机存取存储器(MRAM)单元。MRAM单元包括:设置在衬底上方的第一磁性层、由非磁性材料制成并且设置在第一磁性层上方的第一非磁性材料层、设置在第一非磁性材料层上方的第二磁性层,以及设置在第二磁性层上方的第二非磁性材料层。第二磁性层包括彼此分离的多个磁性材料片。

    测量基材特性的方法及其系统及测量基材的表面的方法

    公开(公告)号:CN110940832A

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201910909210.5

    申请日:2019-09-25

    Abstract: 本揭露的一实施例一般是关于一种测量基材特性的方法及其系统及测量基材的表面的方法。测量基材特性的方法包含以扫描式探针显微镜扫描基材,基材上具有鳍,扫描获取的第一图像显示鳍个别的鳍顶区域,在扫描的期间,通过振荡的扫描探针,扫描式探针显微镜与鳍的侧壁的个别的部分相互作用。选择第二图像,以获取鳍的线边缘轮廓,其中第二图像是由鳍顶区域的下方的预定深度所获取。通过处理器架构系统,使用功率频谱密度(power spectral density,PSD)方法分析鳍的线边缘轮廓,以获取鳍的线边缘轮廓的空间频率数据。通过处理器架构系统,基于空间频率数据,计算鳍的线边缘粗糙度。

    磁性随机存取存储器及其制造方法

    公开(公告)号:CN110649156A

    公开(公告)日:2020-01-03

    申请号:CN201910560580.2

    申请日:2019-06-26

    Inventor: 应继锋 侯敦晖

    Abstract: 本发明的实施例提供了一种磁性随机存取存储器及其制造方法。半导体器件包括磁性随机存取存储器(MRAM)单元。MRAM单元包括:设置在衬底上方的第一磁性层、由非磁性材料制成并且设置在第一磁性层上方的第一非磁性材料层、设置在第一非磁性材料层上方的第二磁性层,以及设置在第二磁性层上方的第二非磁性材料层。第二磁性层包括彼此分离的多个磁性材料片。

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