晶片加工用带
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102250555B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201010179460.7

    申请日:2010-05-17

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,通过使粘合剂层和粘接剂层之间的剥离容易,提高拾取工序的半导体芯片的拾取成功率,同时,可以防止由增大销的顶起力及顶起高度而引起的薄的半导体芯片的破损。晶片加工用带(10)具有由基材膜(12a)和粘合剂层(12b)构成的粘合膜(12)、层叠于粘合膜(12)上的粘接剂层(13)。粘合剂层(12b)的80℃时的胶粘力(B)为0.9(N)以下,且粘接剂层(13)的80℃时的胶粘力(A)和粘合剂层(12b)的80℃时的胶粘力(B)的胶粘力比(A/B)在6.0以上且7.0以下的范围内。

    切割用粘合带
    2.
    发明公开
    切割用粘合带 审中-实审

    公开(公告)号:CN119054050A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202480001615.8

    申请日:2024-03-14

    Inventor: 山川贵纪

    Abstract: 一种切割用粘合带,其为在基材膜上具有粘合剂层的切割用粘合带,其中,所述基材膜的熔点为150℃以下,所述基材膜的与所述粘合剂层相反侧的面A的表面粗糙度Ra为0.10μm以下,该面A的针入温度为80℃以上。

    晶片加工用带
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102250555A

    公开(公告)日:2011-11-23

    申请号:CN201010179460.7

    申请日:2010-05-17

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,通过使粘合剂层和粘接剂层之间的剥离容易,提高拾取工序的半导体芯片的拾取成功率,同时,可以防止由增大销的顶起力及顶起高度而引起的薄的半导体芯片的破损。晶片加工用带(10)具有由基材膜(12a)和粘合剂层(12b)构成的粘合膜(12)、层叠于粘合膜(12)上的粘接剂层(13)。粘合剂层(12b)的80℃时的胶粘力(B)为0.9(N)以下,且粘接剂层(13)的80℃时的胶粘力(A)和粘合剂层(12b)的80℃时的胶粘力(B)的胶粘力比(A/B)在6.0以上且7.0以下的范围内。

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