基于回溯路径优化的自动测试向量生成方法及系统

    公开(公告)号:CN120087403A

    公开(公告)日:2025-06-03

    申请号:CN202510579477.8

    申请日:2025-05-07

    Abstract: 本发明公开了一种基于回溯路径优化的自动测试向量生成方法及系统,该方法将待测电路每个逻辑门的特征信息输入训练好的神经网络模型,预测每个逻辑门的状态,包括成功和失败;根据逻辑门的状态采用ATPG算法进行自动测试向量生成,在回溯过程中对于标签为成功的逻辑门则选择该逻辑门加入回溯路径,对于标签为失败的逻辑门则跳过该逻辑门。本发明根据预测结果辅助回溯路径生成,有利于ATPG工具进行更高效的测试向量生成,降低测试时间和回溯次数。

    基于寄存器插入的组合逻辑环路检测与优化方法、系统

    公开(公告)号:CN119808671B

    公开(公告)日:2025-05-23

    申请号:CN202510289683.5

    申请日:2025-03-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于寄存器插入的组合逻辑环路检测与优化方法、系统,该方法在组合逻辑电路的有向图模型中识别出强连通分量及其中的所有环路,然后对每个环路进行震荡特性分析,识别震荡强连通分量,其次通过插入寄存器并断开该环路进行优化;每次迭代时优先选择相邻接的环路数量最少的环路,在该环路中选择出现次数最多的边插入寄存器;最后输出优化后的电路设计信息。本发明能够快速准确检测并优化可能导致震荡的组合逻辑环路,显著提升了数字电路设计的可靠性与效率,实现寄存器插入数量的全局最小化。

    基于寄存器插入的组合逻辑环路检测与优化方法、系统

    公开(公告)号:CN119808671A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510289683.5

    申请日:2025-03-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于寄存器插入的组合逻辑环路检测与优化方法、系统,该方法在组合逻辑电路的有向图模型中识别出强连通分量及其中的所有环路,然后对每个环路进行震荡特性分析,识别震荡强连通分量,其次通过插入寄存器并断开该环路进行优化;每次迭代时优先选择相邻接的环路数量最少的环路,在该环路中选择出现次数最多的边插入寄存器;最后输出优化后的电路设计信息。本发明能够快速准确检测并优化可能导致震荡的组合逻辑环路,显著提升了数字电路设计的可靠性与效率,实现寄存器插入数量的全局最小化。

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