横向外延生长高质量氮化镓薄膜的方法

    公开(公告)号:CN1389904A

    公开(公告)日:2003-01-08

    申请号:CN02113084.1

    申请日:2002-05-31

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 横向外延生长高质量氮化镓薄膜的方法,用MOCVD、MBE或其他方法生长GaN籽晶层;在GaN籽晶层上沉积SiO2、Si3N4、W等薄膜,利用光刻方法蚀刻出一定的图形,对于平行长条状,掩摸区宽度2-20μm,GaN窗口区宽度0.2-20μm,平行长条状的开口方向是沿GaN的[1100]取向;对于正六边形的开口,使GaN的[1100]取向垂直于正六边形的边,然后用MOCVD或HVPE方法外延生长GaN,直至掩模层被GaN铺满,继续生长得到低位错密度氮化镓薄膜。HVPE生长速率很快。由于在远离界面处位错密度比较低,所以在横向外延薄膜上HVPE厚膜外延,可得到位错密度更低的GaN薄膜。

    横向外延生长高质量氮化镓薄膜的方法

    公开(公告)号:CN1174470C

    公开(公告)日:2004-11-03

    申请号:CN02113084.1

    申请日:2002-05-31

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 横向外延生长高质量氮化镓薄膜的方法,用MOCVD、MBE或其他方法生长GaN籽晶层;在GaN籽晶层上沉积SiO2、Si3N4、W等薄膜,利用光刻方法蚀刻出一定的图形,对于平行长条状,掩摸区宽度2-20μm,GaN窗口区宽度0.2-20μm,平行长条状的开口方向是沿GaN的[1T00]取向;对于正六边形的开口,使GaN的[1T00]取向垂直于正六边形的边,然后用MOCVD或HVPE方法外延生长GaN,直至掩模层被GaN铺满,继续生长得到低位错密度氮化镓薄膜。HVPE生长速率很快。由于在远离界面处位错密度比较低,所以在横向外延薄膜上HVPE厚膜外延,可得到位错密度更低的GaN薄膜。

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