柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片

    公开(公告)号:CN107634075B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201710746185.4

    申请日:2017-08-26

    Abstract: 柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片,涉及紫外焦平面探测器技术领域。在具有周期性纹理的聚酰亚胺柔性衬底上制备紫外探测器阵列,每个探测器作为感光像元。每个像元器件包括两个独立平行对称的ZnO薄膜,其上为金属电极薄膜。所述ZnO薄膜为ZnO纳米线生长的种子层。作为感光部分的纳米材料ZnO纳米线阵列在ZnO薄膜的侧壁自组织生长,桥接于两电极之间。紫外光由衬底背面入射。本发明以柔性材料为衬底,具有良好的柔韧性。同时,器件层结构简单,采用ZnO纳米材料,设计灵活,可实现高度的均匀性及探测效率。

    柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片

    公开(公告)号:CN107634075A

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201710746185.4

    申请日:2017-08-26

    Abstract: 柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片,涉及紫外焦平面探测器技术领域。在具有周期性纹理的聚酰亚胺柔性衬底上制备紫外探测器阵列,每个探测器作为感光像元。每个像元器件包括两个独立平行对称的ZnO薄膜,其上为金属电极薄膜。所述ZnO薄膜为ZnO纳米线生长的种子层。作为感光部分的纳米材料ZnO纳米线阵列在ZnO薄膜的侧壁自组织生长,桥接于两电极之间。紫外光由衬底背面入射。本发明以柔性材料为衬底,具有良好的柔韧性。同时,器件层结构简单,采用ZnO纳米材料,设计灵活,可实现高度的均匀性及探测效率。

    一种基于斜向ZnO纳米线/GaN pn结的LED及制备方法

    公开(公告)号:CN107342351B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201710481596.5

    申请日:2017-06-22

    Abstract: 一种基于斜向ZnO纳米线/GaN pn结的LED及制备方法,涉及半导体的技术领域。本发明通过在半极性GaN外延层上生长斜向ZnO纳米线阵列,提高LED的光取出率和发光面积,实现在蓝紫光波段的高效发光。其中,半极性面(11‑22)的GaN层包括生长在m面Al2O3衬底上未掺杂的GaN层和其上掺Mg的p型GaN层;ZnO纳米线阵列直接由水热法生长在半极性GaN面上,为n型掺杂,斜向生长,与生长平面的夹角为30~35度;将斜向ZnO纳米线阵列用聚合物填充后,再在其上一层制作导电薄膜,作为负极,而正极位于GaN层上。

    一种基于斜向ZnO纳米线阵列调制的AlGaN/GaN紫外探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN107039558B

    公开(公告)日:2018-08-31

    申请号:CN201710281827.8

    申请日:2017-04-26

    Abstract: 本发明提供了一种基于斜向ZnO纳米线阵列调制的AlGaN/GaN紫外探测器,包括无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管和生长在无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管栅极区域的斜向ZnO纳米线阵列;所述无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中的GaN外延层为半极性面(11‑22)的GaN层;所述GaN外延层包括GaN缓冲层、GaN沟道层和GaN帽层;所述GaN沟道层位于GaN缓冲层的上表面;所述斜向ZnO纳米线阵列与栅极区域的平面夹角为30~35°。本发明通过在无栅的高电子迁移率晶体管的栅极区域斜向生长ZnO纳米线阵列,提高探测器的探测效率,实现对紫外光强度的实时、精准、高效检测。

Patent Agency Ranking