装备质量的检测分析方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117493935A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311515299.X

    申请日:2023-11-14

    Abstract: 本发明涉及一种装备质量的检测分析方法,属于装备检测技术领域,解决了现有技术中识别模型功能单一且识别不准确的问题。所述检测分析方法包括:采集待检测分析装备的各个特性指标数据,并对各个特性指标数据进行预处理,得到特性指标集合;将预处理后的特性指标集合输入至预先训练完成的质量缺陷类别识别模型,获取待检测分析装备的缺陷类别;根据缺陷类别从预先设置的原因解决方案数据库中查找该缺陷类别对应的多个原因解决方案;依次比较预处理后的特性指标集合和各个原因解决方案的标准特性指标集合,根据比较结果确定待检测分析装备最终的原因解决方案。实现了对待检测分析装备的精准识别和提供原因解决方案。

    一种质量数据分析方法及系统

    公开(公告)号:CN116049157B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202310007166.5

    申请日:2023-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种质量数据分析方法及系统,属于数据分析技术领域,解决了现有技术中因校验特性指标冗余且存在异常数据导致质量分析不准确的问题。包括:获取生产过程中的质量数据和校验特性指标,根据质量数据和相关系数,去除冗余的检验特性指标,得到待分析的检验特性指标;根据统计分析和变分自编码器,去除各个待分析的检验特性指标的质量数据的异常数据,得到待分析数据;根据待分析的检验特性指标和待分析数据,计算生产过程中的各个PPM值,并分别与对应的PPM阈值范围进行比较,对不在PPM阈值范围内的待分析数据,进行数据包络分析。实现了准确的质量数据分析。

    一种质量数据分析方法及系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116049157A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310007166.5

    申请日:2023-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种质量数据分析方法及系统,属于数据分析技术领域,解决了现有技术中因校验特性指标冗余且存在异常数据导致质量分析不准确的问题。包括:获取生产过程中的质量数据和校验特性指标,根据质量数据和相关系数,去除冗余的检验特性指标,得到待分析的检验特性指标;根据统计分析和变分自编码器,去除各个待分析的检验特性指标的质量数据的异常数据,得到待分析数据;根据待分析的检验特性指标和待分析数据,计算生产过程中的各个PPM值,并分别与对应的PPM阈值范围进行比较,对不在PPM阈值范围内的待分析数据,进行数据包络分析。实现了准确的质量数据分析。

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