一种基于第一性原理的金属表面Patch效应检测方法

    公开(公告)号:CN119274704A

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202411241106.0

    申请日:2024-09-05

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于第一性原理的金属表面Patch效应检测方法。本发明包括获取目标金属表面的实际原胞晶体结构并获取对应的原胞晶体结构数据文件;基于金属原胞文件建立slab模型,结构优化后计算得出晶面各向异性导致的功函数差异;建立目标晶面的晶界模型得出晶界的存在对功函数的影响;并在稳定构型的slab结构模型基础上建立吸附模型和缺陷模型,结构优化后而得到功函数变化,最终实现对金属表面Patch效应的检测。本发明减少了实验设备和实验材料带来的高昂运行成本,过程操作简便,能够揭示金属表面Patch效应的根本原因。

    基于双向反射分布函数的测量材料表面反射特性的测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN119198643A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411402222.6

    申请日:2024-10-09

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明提供了一种基于双向反射分布函数的测量材料表面反射特性的测试装置及测试方法。本发明的待测样品设置在样品承载台中间,本发明装置中的光源系统产生的探测光照射到所述材料表面,经待测样品表面反射后,由数据采集系统控制光电探测器转动至不同的天顶角及方位角完成数据采集;本发明通过调节任意入射角度、天顶角及方位角获得整个2π空间范围内待测样品表明反射光辐射亮度值,并根据所采集的数据和双向反射分布函数的计算公式进行计算,最终获得待测样品的表面反射特性。

    一种新型薄膜量子产率测试装置及其量子产率测试方法

    公开(公告)号:CN117030797A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202311058628.2

    申请日:2023-08-22

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明提供了一种新型薄膜量子产率测试装置及其量子产率测试方法,该装置和方法以光电效应为基础,在超高真空的环境下,通过LED光源发射紫外光照射样品表面,利用光学积分球收集光电子并转化为电信号输出,使用静电计实现高分辨率电信号的采集和处理,并通过积分球和静电计之间的源表施加偏置电压来调控光电流的大小,最后由光电流降低到零时所需的正偏压得到样品表面的功函数,根据外加偏置电压作用下的饱和光电流以及标定的表面紫外光强度得到样品的量子产率。本发明实现超高真空环境下光电流的精密测量,能够很好地满足薄膜表面量子产率精准测量的需求,具有很强的实际应用价值。

    一种简易可编程微弱应力施加装置

    公开(公告)号:CN105890841B

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201410686895.9

    申请日:2014-11-26

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 种简易可编程微弱应力施加装置,它涉及传感器件和纳米压电发电机测试技术领域,竖直支架设置在测试平台底座的端,水平支架的端与竖直支架连接,高频高灵敏度压力传感器与控制与数据采集电脑连接,控制与数据采集电脑与可编程电流信号发生器连接,可编程电流信号发生器与轻质电感线圈连接,轻质电感线圈与轻质悬挂弹簧连接,永久磁铁设置在磁力升降平台的底部,它运用了手动两级逼近装置结合电磁控制轻质悬浮平台实现了对样品的接触,其操作简单,制造成本低廉,维护简便。

    一种连续离子层吸附沉积法量子点制备装置及其方法

    公开(公告)号:CN107245752A

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201710271260.6

    申请日:2017-04-24

    Applicant: 兰州大学

    CPC classification number: C25D21/12 B82Y30/00 B82Y40/00

    Abstract: 本发明公开了一种连续离子层吸附沉积法量子点制备装置及其方法,包括控制盒、固定螺杆、固定盖、旋转轴、盛液烧杯、连接轴、升降电机、升降杆、基片夹具;采用可编程步进电动机和单片机对实验过程中的关键参数如基底下降速度、浸渍时间、提拉时间、样品烘干速度、烘干温度、以及沉积次数等进行精确控制,连续可调;为高效率、大面积、均匀沉积量子点提供可行方案。本发明所述的连续离子层吸附沉积法量子点制备装置实现了量子点的高效、可靠、大面积制备。该技术将在实验室甚至工业生产中产生重要的影响和推动。

    一种基于垂直电场调控的Ga2O3薄膜的氧空位调控方法

    公开(公告)号:CN119997644A

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202411989936.1

    申请日:2024-12-31

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于垂直电场调控的Ga2O3薄膜的氧空位调控方法,属于光电转换半导体材料领域。方法包括:1)Ga2O3薄膜及器件制备,2)离子液体滴加,3)施加垂直电场调控。本发明通过强电场作用实现Ga2O3薄膜的氧空位位置调节,加深了对Ga2O3薄膜光电转换性能的调控能力,为Ga2O3薄膜光电探测器件的构建与应用展示了新的可能。本发明不但为解决目前Ga2O3薄膜响应频率低、静态功耗高的难点提供了新思路与新方向,并且可控性强,调控效率高且可量化,具有较强的推广性。

    一种新型高速氧化镓日盲紫外光电探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN119815939A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510098103.4

    申请日:2025-01-22

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明涉及一种新型高速氧化镓日盲紫外光电探测器及其制备方法,其中探测器包括非晶氧化镓薄膜层,所述非晶氧化镓薄膜层具有垂直分层的晶体结构;所述垂直分层的晶体结构包括顶层、中间层和底层,所述顶层的厚度为3~5nm,结晶度指数为70~80%;所述中间层的厚度为0.1~0.3nm,结晶度指数为50~60%;所述底层的厚度为95~97nm,结晶度指数为20~25%。探测器为一种具有空间隔离载波生成和传输信道的设备,解决了“响应速度(RS)困境”。能够同时满足上升时间≤2.2 ms,且衰减时间≤40μs,且光谱响应率≥312.6 A·W‑1,且探测率≥1.7×1014Jones的探测器。

    一种超声喷雾热解旋转镀膜机及其镀膜方法

    公开(公告)号:CN115463777A

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211021612.X

    申请日:2022-08-24

    Applicant: 兰州大学

    Inventor: 张泽民 余凯

    Abstract: 本发明公开了一种新型的超声喷雾热解旋转镀膜机,通过超声雾化的方式将含有膜成分的前驱体溶液分散成尺寸均匀的微米级微粒,利用压缩气体作为载气,将前驱体微粒喷洒到高速旋转的基底上,在离心力作用下微粒变成纳米级液膜,后经热解成薄膜。本发明巧妙结合了喷雾热解和高速旋涂两种制膜方法的优势,制备的薄膜具有尺寸可调,大面积均匀,致密度高等特点,能够满足诸多领域对于高质量薄膜的要求。本发明不仅功能强大还结构简单、成本低廉,能够广泛应用到各种工业和实验室镀膜环境中,提高镀膜效率和质量。

    一种适用于薄膜样品的光电催化反应池

    公开(公告)号:CN115323404A

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202210961533.0

    申请日:2022-08-11

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明属于光电化学反应领域,公开一种适用于薄膜样品的光电催化反应池,所述适用于薄膜样品的光电催化反应池包括:利用质子隔膜分离,用于加入不同的电解液同时进行光催化反应的不同主腔体;一端主腔体内表面沉积Pt作为对电极降低体系过电位;所述主腔体上外加有用于保证样品测试过程中电解液温度恒定的循环水系统。本发明体量小,有效缩短电极间距,大大提高反应过程中的电流,利于催化反应的进行,提高了光催化效率。本发明结构简单,安装和拆卸方法简单灵活,便于清洗,同时耐酸碱,适用于各种电解液体系中的测试。并且组装后结构紧密,不会出现漏液的现象,同时能够保证电解液的纯净,避免来自反应池的污染。

    一种新型多功能光电化学反应池

    公开(公告)号:CN112903792A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN202110111365.1

    申请日:2021-01-27

    Applicant: 兰州大学

    Abstract: 本发明公开了一种新型多功能光电化学反应池,可实现双面、单面导通的半导体薄膜光电极的光电化学性能测试。同时也可以作为原位Raman光谱学研究的反应池。通过准确控制工作电极的工作面积、与对电极的距离,实现样品光电化学性能的精准测试,并通过正反面入射光测试,实现载流子传输距离的测试分析。本发明不仅结构简单、成本低廉,而且还能保证样品性能测试的准确性,提高研究质量。

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