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公开(公告)号:CN100338734C
公开(公告)日:2007-09-19
申请号:CN02827641.8
申请日:2002-11-27
Applicant: 信越半导体株式会社
IPC: H01L21/205
CPC classification number: C30B25/12 , C23C16/4405 , C23C16/4583
Abstract: 本发明是在气相生长时支撑半导体衬底(W)的基座(10),在上表面上形成了在内部配置半导体衬底(W)的镗孔(11)。镗孔(11)形成具有支撑半导体衬底(W)的外周边缘部的上段镗孔部(11a)和与该上段镗孔部(11a)相比在中心侧下段形成的下段镗孔部(11b)的二段结构,在下段镗孔部(11b)中形成了贯通背面并在气相生长时也呈开放状态的孔部(12)。
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公开(公告)号:CN1618117A
公开(公告)日:2005-05-18
申请号:CN02827641.8
申请日:2002-11-27
Applicant: 信越半导体株式会社
IPC: H01L21/205
CPC classification number: C30B25/12 , C23C16/4405 , C23C16/4583
Abstract: 本发明是在气相生长时支撑半导体衬底(W)的基座(10),在上表面上形成了在内部配置半导体衬底(W)的镗孔(11)。镗孔(11)形成具有支撑半导体衬底(W)的外周边缘部的上段镗孔部(11a)和与该上段镗孔部(11a)相比在中心侧下段形成的下段镗孔部(11b)的二段结构,在下段镗孔部(11b)中形成了贯通背面并在气相生长时也呈开放状态的孔部(12)。
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