颗粒状物质的测量装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105074148B

    公开(公告)日:2017-11-07

    申请号:CN201480016702.7

    申请日:2014-02-18

    Abstract: 一种颗粒状物质的测量装置,通过实现电极配置的最优化,有效地增加在电极间形成的电容器数。具备:DPF(16),将由多孔质性的间隔壁划分的多个栅格单元的上游侧和下游侧交替地封闭;一对第一电极(A),被插入到隔着中心栅格单元(1)配置在对角上的一对第一电极用栅格单元(2);一对第二电极(B),被插入到隔着中心栅格单元(1)配置在对角上的一对第二电极用栅格单元(3);第一连接部件(A1),将第一电极(A)相互连接;第二连接部件(B1),将第二电极(B)相互连接;以及PM堆积量计算部(21、22),基于电极(A、B)间的静电电容,计算由DPF(16)捕获的PM堆积量,将经由间隔壁与中心栅格单元(1)的周围邻接、并且夹在第一电极用栅格单元(2)和第二电极用栅格单元(3)之间的四个栅格单元(4)作为测量用栅格单元。

    PM传感器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103502588A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201280022122.X

    申请日:2012-04-27

    Abstract: 提供一种PM传感器,能够检测DPF整体的平均PM堆积量,且能够确保对于检测为足够的大小的静电电容。该PM传感器(4)为,在通过由多孔质材料形成的壁(2)来包围纵横的四面的多个单元(3)被纵横地层叠、单元(3)的端面被纵横交替封闭而成的DPF(1)中,设置第一、第二电极(5、6),通过由第一、第二电极(5、6)形成的电容器的静电电容来检测DPF(1)的PM堆积量,其中,在开放单元(3b)中、在对角方向排成一列的多个开放单元(3b)内插入第一电极,在包括从插入有第一电极(5)的各开放单元(3b)起为第二个相邻接的开放单元(3b)在内的、在对角方向排成一列的多个开放单元(3b)内插入第二电极(6)。

    电抗测量装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108369251B

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN201680071961.9

    申请日:2016-12-07

    Inventor: 野田正文

    Abstract: 电抗测量装置(10)包括:串联电路(30),其具有包含第1电阻器(311)的第1电路(31)、和保护电抗元件的第2电路(32);第1电压生成部(21),其生成第1交流电压(V1)并施加给串联电路(30);第2电压生成部(22),其生成相对于第1交流电压(V1)具有预定的相位差(α)的第2交流电压(V2);乘法部(41),其将第2交流电压(V2)和第2电路电压(VL)相乘从而生成乘积电压(VX);测量部(42),其测量乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压;相位偏移量计算部(431),其基于第2交流电压(V2)相对于第1交流电压(V1)的相位差(α)与乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压的关系来计算相位偏移量(θ);以及电抗计算部(432),其基于相位偏移量(θ)来计算电抗元件的电抗。

    颗粒状物质的测量装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105074148A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201480016702.7

    申请日:2014-02-18

    Abstract: 一种颗粒状物质的测量装置,通过实现电极配置的最优化,有效地增加在电极间形成的电容器数。具备:DPF(16),将由多孔质性的间隔壁划分的多个栅格单元的上游侧和下游侧交替地封闭;一对第一电极(A),被插入到隔着中心栅格单元(1)配置在对角上的一对第一电极用栅格单元(2);一对第二电极(B),被插入到隔着中心栅格单元(1)配置在对角上的一对第二电极用栅格单元(3);第一连接部件(A1),将第一电极(A)相互连接;第二连接部件(B1),将第二电极(B)相互连接;以及PM堆积量计算部(21、22),基于电极(A、B)间的静电电容,计算由DPF(16)捕获的PM堆积量,将经由间隔壁与中心栅格单元(1)的周围邻接、并且夹在第一电极用栅格单元(2)和第二电极用栅格单元(3)之间的四个栅格单元(4)作为测量用栅格单元。

    电抗测量装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108369251A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680071961.9

    申请日:2016-12-07

    Inventor: 野田正文

    Abstract: 电抗测量装置(10)包括:串联电路(30),其具有包含第1电阻器(311)的第1电路(31)、和保护电抗元件的第2电路(32);第1电压生成部(21),其生成第1交流电压(V1)并施加给串联电路(30);第2电压生成部(22),其生成相对于第1交流电压(V1)具有预定的相位差(α)的第2交流电压(V2);乘法部(41),其将第2交流电压(V2)和第2电路电压(VL)相乘从而生成乘积电压(VX);测量部(42),其测量乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压;相位偏移量计算部(431),其基于第2交流电压(V2)相对于第1交流电压(V1)的相位差(α)与乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压的关系来计算相位偏移量(θ);以及电抗计算部(432),其基于相位偏移量(θ)来计算电抗元件的电抗。

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