一种保偏光纤压力传感器及其测试方法

    公开(公告)号:CN109682512B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN201811610016.9

    申请日:2018-12-27

    IPC分类号: G01L1/24 G01L11/02

    摘要: 本发明公开了一种保偏光纤压力传感器及其测试方法,包含光纤起偏器、壳体、保偏光纤、压力敏感材料、轻质弹簧和光纤检偏器,光纤起偏器的一端与保偏光纤一端熔接,保偏光纤另一端与光纤检偏器一端熔接,光纤起偏器的偏振化方向与保偏光纤主轴成45°角,光纤检偏器与光纤起偏器的偏振化方向相同,光纤起偏器、保偏光纤和光纤检偏器固定设置在壳体内,壳体上侧面开有与压力敏感材料匹配的凹口,压力敏感材料设置在该凹口内并且能够沿着凹口内壁上下滑动,轻质弹簧竖直设置在凹口内并且轻质弹簧下端固定在保偏光纤上,轻质弹簧上端固定在压力敏感材料下侧。本发明将波长检测改为光强检测,减小检测难度及费用。

    光纤及其应用
    4.
    发明公开
    光纤及其应用 审中-实审

    公开(公告)号:CN116299843A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310002964.9

    申请日:2023-01-03

    IPC分类号: G02B6/028 G02B6/036

    摘要: 本发明提供了一种光纤及其应用。该光纤由内到外依次包括芯层、过渡层、凹陷层和外包层;芯层材料的相对折射率差为△1,过渡层中的最大相对折射率差为△2max,凹陷层材料的相对折射率差为△3,且△1>△2max≥△3;r表示过渡层中某个位置距离光纤中心的径向距离,△2(r)表示过渡层中距离中心r处的材料的相对折射率差,△2(r)与△2max和△3满足如下关系式(1),其中,R0表示芯层的半径,R1表示过渡层与凹陷层的接触界面距离光纤中心的径向距离;外包层为二氧化硅层。通过特定的光纤折射率剖面设计能够调节光纤衰减系数,约束光纤导波传输,提升光纤抗弯曲能力,从而能够保证光纤具有较小的宏弯曲损耗。

    一种光纤扭曲度测试装置及方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110514145A

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:CN201810487826.3

    申请日:2018-05-21

    IPC分类号: G01B11/26

    摘要: 本发明公开了一种光纤扭曲度测试装置及方法,属于光纤测试技术领域。所述装置包括测试平台、放纤支架、光纤夹持件、驱动电机,所述测试平台水平位置上设有滑轨,所述光纤夹持件可滑动地安装在所述滑轨上,所述测试平台、放纤支架、滑轨、光纤夹持件与所述驱动电机相连,其特征在于,所述装置还包括光电探测装置,该光电探测装置用于探测并记录设于待测光纤的标识件的出现次数,以获取所述待测光纤的光纤扭曲度。本发明基本上实现了通过驱动电机自动控制大部分测试操作,一人即可完成,操作简便,减少了人工成本,并且测试结果较为准确,可广泛应用于光纤扭曲度测试领域。

    超低损耗光纤及其制备方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116626805A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310905845.4

    申请日:2023-07-24

    摘要: 本申请提供一种超低损耗光纤及其制备方法。光纤包括:芯层的半径宽度R0的范围为4.2μm至4.8μm,芯层的最大相对折射率差△1max的范围为0.2%至0.3%;内包层包覆于芯层的外侧,内包层的外半径为R1,内包层的宽度R1‑R0的范围为4.0μm至4.3μm,内包层的最小相对折射率差△2min的范围为‑0.25%至‑0.3%;凹陷包层的宽度范围为30μm至40μm,凹陷台阶层的宽度大于深凹陷层的宽度,凹陷平台层的宽度大于凹陷台阶层的宽度;外包层包覆于凹陷包层的外侧。超低损耗光纤对应的1550nm波长衰减系数小于或等于0.170dB/km,超低损耗光纤对应的1480nm波长衰减系数小于或等于0.210dB/km。本申请的超低损耗光纤具有不大于1400nm的光缆截止波长,满足G.654.C光纤标准,优选光缆截止波长≤1260nm,满足G.652光纤标准。