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公开(公告)号：CN119718864A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411831584.7
申请日：2024-12-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/34 , G06N3/0464 , G06N3/045 , G06N3/08 , G06N5/04
Abstract: 本发明一种面向宇航通信领域的宇航用AI芯片性能测评方法，包括：设计并训练神经网络CABNet；所述神经网络CABNet包含三个模块，均使用组合操作，第一个模块包括卷积、批归一化；第二个模块包括两个残差通道模块；第三个模块包括卷积、整流线性单元；通过神经网络CABNet对AI芯片进行测评，得到AI芯片性能测评指标。本发明解决了宇航用AI芯片典型通信场景下性能指标测评方法欠缺的问题。
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公开(公告)号：CN114818415B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202210333444.1
申请日：2022-03-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/23 , H01L21/67 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 一种SiP工艺可靠性评估试验载体的特性表征方法，通过PFMECA分析SiP产品的关键工艺，根据风险要素分析关键结构，从而确定试验载体的需要包含的工艺域，再基于失效物理方法或定性分析方法确定试验载体的特性表征参数数值，能够通过制造用于验证SiP生产工艺的试验载体，代替用于考核验证的SiP样品，以减少生产远大于需求量的SiP样品的花费，从而降低SiP产品的成本。
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公开(公告)号：CN117929956A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311783928.7
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种浪涌测试电路，包括浪涌电流单元和阻断测试单元；浪涌电流单元用于向待测二极管输出正向浪涌电信号；阻断测试单元用于向待测二极管输出反向阻断测试电压，并采集待测二极管在正向浪涌电信号和反向阻断测试电压作用下的电流值，根据电流值评估待测二极管是否失效。本发明还公开了一种包含上述电路的浪涌测试装置。本发明可以实现正弦波浪涌与方波浪涌、直流阻断、交流阻断等多功能与一体的浪涌电流测试。
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公开(公告)号：CN112528230A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011455202.7
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置，所述方法包括：抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据；计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度；对处于预设范围内的精密度对应的参数进行批次修正。本发明适用范围更广，可以有效识别各种分布类型的元器件参数离群值，控制限与参数本征分布边缘更加贴近，最大程度避免由于非正态分布造成的误检和漏检。
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公开(公告)号：CN107064783B
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201611124333.0
申请日：2016-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法，所述FPGA芯片包括N个可配置逻辑块，每个所述可配置逻辑块包含两个切片，两个切片中均具有M个查找表，其中一个切片为被测电路，另一个切片为检测电路，所述检测电路包括：控制信号电路，发送控制信号；多个选择器，接收所述控制信号，连接被测电路中平级的查找表，或者连接SR_IN端口或上一级的触发器；时钟信号电路，发送时钟信号；以及多个所述触发器，接收所述时钟信号，所述触发器与检测电路中平级的选择器连接，且最下级的触发器与SR_OUT端口连接。本发明具有运行速度快、时序收敛、测试结果稳定可靠等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108627760A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810462117.X
申请日：2018-05-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种FPGA芯片自激励变频动态老炼电路，包括第一时钟自激励产生电路、第二时钟自激励产生电路、结温检测电路、时钟频率控制电路、老炼功能测试电路，第一时钟自激励产生电路，用于产生频率为fH的时钟信号Clk_H；第二时钟自激励产生电路，用于产生频率为fL的时钟信号Clk_L；结温检测电路，用于监测FPGA的结温状态，输出超温报警信号OT至时钟变频控制电路；时钟变频控制电路，根据超温报警信号OT选择频率时钟信号Clk_H或者CLK_L输出至老炼功能测试电路；老炼功能测试电路，用于验证FPGA内部逻辑资源在老炼测试环境下的功能。本发明FPGA可根据实际结温状态自动调节动态老炼时内部逻辑的工作频率，从而保护芯片不会超结温工作。
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公开(公告)号：CN104485297B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201410790981.4
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明的Pill封装光敏器件测试转换夹具，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)，通过定位孔与定位螺钉、押紧平垫与托板螺母的配合设计，将压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)四个板定位在一起。本发明通过四个板对被测器件的限位、压紧，将原来仅适用于带引脚光电器件的测试适配器整体转换为适用于pill封装的光电器件的测试适配器，解决了pill封装光电器件的测试问题，使现有专用测试设备可以继续使用，节省了大量的成本，同时，通过被测器件表面电极集电极c与簧片电极(15)的紧密接触，减少了接触电阻，提高了测试效果。
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公开(公告)号：CN103698682B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310714296.9
申请日：2013-12-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G05B19/042
CPC classification number: Y02P90/265
Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。
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公开(公告)号：CN119355486A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411469987.1
申请日：2024-10-21
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种全封闭式封装集成电路温度测试保温装置及测试方法，通过包括保温底座、全封闭金属罩的测试保温装置，上部采用全封闭金属罩，在隔绝空气的同时，能够进一步保温锁温，同时设置上下底座的组装结构，底座与金属罩组合成全封闭空间，能够将温度保持在一个稳定的状态，并解决了针对待测器件测温过程中“高温跑温”、“低温结霜”的问题，避免了测试过程中重复性操作。
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公开(公告)号：CN111025110B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN201911158149.1
申请日：2019-11-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R31/303
Abstract: 本发明提供了一种碳化硅器件单粒子效应的检测系统及方法。所述检测系统包括：BNC转接装置设置于真空罐之上，计算机分别与高阻表、直流源和第二DB9转接装置连接；高阻表的高压输出High端口与BNC转接装置连接；直流源的电压输出端口与第二DB9转接装置连接；BNC转接装置、第二DB9转接装置和第一DB9转接装置分别与检测装置连接；第一DB9转接装置和高阻表上的仪表输入High端口分别与保护装置连接；高阻表的高压输出Low端口与高阻表上的仪表输入Low端口内部连接；检测装置置于真空罐内，粒子束流通过加速器管道输送至检测装置上的辐照区域。本发明能精确检测出碳化硅器件发生单粒子效应的电压值。
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