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公开(公告)号：CN106840217B
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201510882184.3
申请日：2015-12-03
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的信号处理方法，包括：激光器发射出的激光经衰减后照射在PSD传感器单元的光敏面上，PSD传感器单元输出检测电流信号；对检测电流信号进行预处理，并基于PSD传感器的电流‑位置坐标计算公式，计算PSD传感器单元的光敏面上的激光位置坐标。本发明的基于PSD的信号处理方法，通过软件方式实现加、减、除的运算，可以简化硬件电路，减小装置体积，能有效减少由于模拟器件带来的噪声和温漂，提高测量精度，检测结果更精确，更可靠，精度更高，可适用于各种环境下。
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公开(公告)号：CN107738254A
公开(公告)日：2018-02-27
申请号：CN201710743278.1
申请日：2017-08-25
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明提供一种机械臂坐标系的转换标定方法与系统，所述方法包括：S1，基于目标机械臂工作范围内布置的跟踪测量装置，利用末端坐标系平移运动法，获取末端工具坐标系相对测量参考坐标系的坐标旋转变换关系；S2，利用基于所述末端工具坐标系的单轴旋转法和相对机械臂基坐标系的运动学变换，获取所述末端工具坐标系相对所述机械臂基坐标系的坐标齐次变换关系；S3，基于选定标定采样点的坐标，分别利用多点重心求解法、重心化处理法和罗德里格矩阵变换求解法，获取所述机械臂基坐标系与所述测量参考坐标系的坐标齐次变换关系。本发明标定流程简单，标定算法无迭代过程，能够有效减少坐标系标定耗时，提高坐标系标定精度。
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公开(公告)号：CN106772415A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710035168.X
申请日：2017-01-17
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01S17/36
Abstract: 本发明公开了一种相位测距装置及其测距方法，包括激光器、光环形器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜、反射镜和探测器，所述激光器发出的光依次经过光环行器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜和反射镜，并经所述反射镜反射后，依次经过扩束镜、光纤准直镜、马赫曾德尔调制器、光环行器和探测器。本发明利用马赫曾德尔调制器对激光器发出的测量光进行线性强度调制，对调制信号进行扫频，并对第二次调制后的信号进行处理求得待测距离，提高了测距精度。
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公开(公告)号：CN107421515A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710507437.8
申请日：2017-06-28
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01C15/00
CPC classification number: G01C15/00
Abstract: 本发明涉及一种多功能几何量精密智能测量装置及方法，包括：设计适合无合作目标和带合作目标两种测量模式的测量装置，无合作目标模式下使用软件控制转台自动扫描被测目标表面，获取仪器到被测目标的距离，记录二维角度值，最后计算出被测目标的坐标；带合作目标模式下通过视觉识别和自动照准系统测量目标点的精确坐标，或通过预输入被测目标坐标的方法，同时进行激光测距，获取被测目标的精确位置。通过本发明的测量装置和方法，可以在60米范围内对被测目标进行非接触无合作目标和带合作目标两种测量模式的三维多功能坐标测量。
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公开(公告)号：CN106840217A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201510882184.3
申请日：2015-12-03
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的信号处理方法，包括：激光器发射出的激光经衰减后照射在PSD传感器单元的光敏面上，PSD传感器单元输出检测电流信号；对检测电流信号进行预处理，并基于PSD传感器的电流-位置坐标计算公式，计算PSD传感器单元的光敏面上的激光位置坐标。本发明的基于PSD的信号处理方法，通过软件方式实现加、减、除的运算，可以简化硬件电路，减小装置体积，能有效减少由于模拟器件带来的噪声和温漂，提高测量精度，检测结果更精确，更可靠，精度更高，可适用于各种环境下。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106840044A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710010977.5
申请日：2017-01-06
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种双面反射镜平行度测量装置及其测量方法，包括自准直仪、第一单面反射镜和第二单面反射镜，所述自准直仪发出的光依次通过第一单面反射镜、第二单面反射镜，并经第二单面反射镜将光折返至所述自准直仪，所述第一单面反射镜、第二单面反射镜使自准直仪的出射光轴与折返光轴平行。本发明通过两个单面平面反射镜进行光路折转，实现双面反射镜中的一面自准直，再通过自准直仪测量双面反射镜的另一面的失准角度值，从而确定双面反射镜的平行度误差。由此可见，本发明可以根据需求随时测量双面反射镜的平行度误差，而且所测的平行度误差包含镀膜对平行度的影响，消除膜层误差。
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公开(公告)号：CN106839992A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201510882787.3
申请日：2015-12-03
Applicant: 中国科学院光电研究院
CPC classification number: G01B11/02 , H03M1/1245 , H03M2201/192
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的激光微位移检测装置，包括：激光器单元发射出的激光经衰减后照射在PSD传感器单元的光敏面上，PSD传感器单元输出的电流信号经PSD信号处理单元、数据采集单元进行采样、模数转换处理，并将处理后的数据发送到数据分析单元进行分析，将分析的结果发送至上位机单元进行显示。本发明的基于PSD的激光微位移检测装置，通过模拟电路实现I/V转换、放大及电平移位，通过软件方式实现加、减、除的运算，可以简化硬件电路，减小装置体积，能有效减少由于模拟器件带来的噪声和温漂，提高测量精度，可以实现高速动态测量，成本低，应用范围广，检测结果更精确，更可靠，精度更高，可适用于各种环境下。
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公开(公告)号：CN106679936A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201710061546.1
申请日：2017-01-26
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及仪器检测技术领域，尤其涉及一种激光跟踪仪跟踪能力测试装置及方法，其装置包括一维跟踪能力测试模块，所述一维跟踪能力测试模块包括长直线电机平台和短直线电机平台，所述长直线电机平台上设有长直线导轨，所述长直线导轨上滑动连接所述短直线电机平台，所述短直线电机平台上设有与所述长直线导轨垂直的短直线导轨，所述短直线导轨上滑动连接设有靶球的固定座；所述长直线电机平台和所述短直线电机平台均与控制单元连接。本发明可以产生不同半径的标准圆弧，在进行一维跟踪能力测试过程中，实现合作目标可变半径的标准圆弧轨迹，为评价激光跟踪仪提供更加有效的决策数据。
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公开(公告)号：CN106679936B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN201710061546.1
申请日：2017-01-26
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及仪器检测技术领域，尤其涉及一种激光跟踪仪跟踪能力测试装置及方法，其装置包括一维跟踪能力测试模块，所述一维跟踪能力测试模块包括长直线电机平台和短直线电机平台，所述长直线电机平台上设有长直线导轨，所述长直线导轨上滑动连接所述短直线电机平台，所述短直线电机平台上设有与所述长直线导轨垂直的短直线导轨，所述短直线导轨上滑动连接设有靶球的固定座；所述长直线电机平台和所述短直线电机平台均与控制单元连接。本发明可以产生不同半径的标准圆弧，在进行一维跟踪能力测试过程中，实现合作目标可变半径的标准圆弧轨迹，为评价激光跟踪仪提供更加有效的决策数据。
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公开(公告)号：CN106772415B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201710035168.X
申请日：2017-01-17
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01S17/36
Abstract: 本发明公开了一种相位测距装置及其测距方法，包括激光器、光环形器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜、反射镜和探测器，所述激光器发出的光依次经过光环行器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜和反射镜，并经所述反射镜反射后，依次经过扩束镜、光纤准直镜、马赫曾德尔调制器、光环行器和探测器。本发明利用马赫曾德尔调制器对激光器发出的测量光进行线性强度调制，对调制信号进行扫频，并对第二次调制后的信号进行处理求得待测距离，提高了测距精度。
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