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公开(公告)号：CN109448055B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201811102499.1
申请日：2018-09-20
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G06T7/73
Abstract: 本发明实施例提供了一种单目视觉姿态确定方法及系统，采用每个特征单元的世界坐标以及像素坐标作为初始信息，基于EPNP算法确定合作立体靶标的初始位姿信息，可以使得到的初始位姿信息更加接近得到的实时位姿信息，此时再将初始位姿信息作为迭代初值，通过SoftPOSIT算法确定合作立体靶标的实时姿态信息，可以使得到的实时位姿信息更加准确，能够有效避免SoftPOSIT算法发散或者收敛到错误的姿态，提高了姿态解算的收敛性能和精度，且能够实现实时姿态测量，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN107421515A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710507437.8
申请日：2017-06-28
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01C15/00
CPC classification number: G01C15/00
Abstract: 本发明涉及一种多功能几何量精密智能测量装置及方法，包括：设计适合无合作目标和带合作目标两种测量模式的测量装置，无合作目标模式下使用软件控制转台自动扫描被测目标表面，获取仪器到被测目标的距离，记录二维角度值，最后计算出被测目标的坐标；带合作目标模式下通过视觉识别和自动照准系统测量目标点的精确坐标，或通过预输入被测目标坐标的方法，同时进行激光测距，获取被测目标的精确位置。通过本发明的测量装置和方法，可以在60米范围内对被测目标进行非接触无合作目标和带合作目标两种测量模式的三维多功能坐标测量。
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公开(公告)号：CN106840044A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710010977.5
申请日：2017-01-06
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种双面反射镜平行度测量装置及其测量方法，包括自准直仪、第一单面反射镜和第二单面反射镜，所述自准直仪发出的光依次通过第一单面反射镜、第二单面反射镜，并经第二单面反射镜将光折返至所述自准直仪，所述第一单面反射镜、第二单面反射镜使自准直仪的出射光轴与折返光轴平行。本发明通过两个单面平面反射镜进行光路折转，实现双面反射镜中的一面自准直，再通过自准直仪测量双面反射镜的另一面的失准角度值，从而确定双面反射镜的平行度误差。由此可见，本发明可以根据需求随时测量双面反射镜的平行度误差，而且所测的平行度误差包含镀膜对平行度的影响，消除膜层误差。
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公开(公告)号：CN106839992A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201510882787.3
申请日：2015-12-03
Applicant: 中国科学院光电研究院
CPC classification number: G01B11/02 , H03M1/1245 , H03M2201/192
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的激光微位移检测装置，包括：激光器单元发射出的激光经衰减后照射在PSD传感器单元的光敏面上，PSD传感器单元输出的电流信号经PSD信号处理单元、数据采集单元进行采样、模数转换处理，并将处理后的数据发送到数据分析单元进行分析，将分析的结果发送至上位机单元进行显示。本发明的基于PSD的激光微位移检测装置，通过模拟电路实现I/V转换、放大及电平移位，通过软件方式实现加、减、除的运算，可以简化硬件电路，减小装置体积，能有效减少由于模拟器件带来的噪声和温漂，提高测量精度，可以实现高速动态测量，成本低，应用范围广，检测结果更精确，更可靠，精度更高，可适用于各种环境下。
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公开(公告)号：CN106679936A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201710061546.1
申请日：2017-01-26
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及仪器检测技术领域，尤其涉及一种激光跟踪仪跟踪能力测试装置及方法，其装置包括一维跟踪能力测试模块，所述一维跟踪能力测试模块包括长直线电机平台和短直线电机平台，所述长直线电机平台上设有长直线导轨，所述长直线导轨上滑动连接所述短直线电机平台，所述短直线电机平台上设有与所述长直线导轨垂直的短直线导轨，所述短直线导轨上滑动连接设有靶球的固定座；所述长直线电机平台和所述短直线电机平台均与控制单元连接。本发明可以产生不同半径的标准圆弧，在进行一维跟踪能力测试过程中，实现合作目标可变半径的标准圆弧轨迹，为评价激光跟踪仪提供更加有效的决策数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104316002A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410531483.8
申请日：2014-10-10
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/27
Abstract: 一种激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测装置，包括套筒(12)、显微系统(01)、光电探测器(17)以及成像系统(19)，其中所述显微系统(01)可以与成像系统(19)配合将所述激光跟踪仪发射的激光相对于光轴的偏移量放大。以及一种激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测方法。本发明的检测装置和方法可对平移量进行高精度检测，测量的结果可用于激光跟踪仪光轴调整和误差修正，也可用于提高激光跟踪仪的角度测量误差精度。本发明的装置具有设计简洁、结构简单、测量精度高、成本低廉、便于携带等特点。
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公开(公告)号：CN104296694A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410508229.6
申请日：2014-09-28
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种激光跟踪仪光轴与机械转轴夹角的检测装置，包括套筒(09)，聚焦透镜(01)以及光电探测器(11)，其中聚焦透镜(01)的焦距在200～500mm范围之间。以及一种激光跟踪仪光轴与机械转轴夹角的检测力法。本发明的检测装置和方法可对激光跟踪仪的光轴与机械转轴间的夹角进行高精度检测，可提高激光跟踪仪的角度测量误差精度。本发明的装置具有设计简洁、结构简单、测量精度高、成本低廉、便于携带等特点。
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公开(公告)号：CN106249222B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201610533796.6
申请日：2016-07-07
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明公开了一种飞秒激光跟踪仪光轴几何误差标定装置，包括聚焦透镜、光电探测器和处理机构，所述聚焦透镜用于将飞秒激光跟踪仪发出的激光光束聚焦到所述光电探测器上，所述处理机构用于计算激光光轴与机械轴的倾斜量和平移量。本发明提供的飞秒激光跟踪仪光轴几何误差标定装置是基于旋转成像和图像处理法进行检测，从而实现激光光轴与机械轴偏移量(包括倾斜与平移)的高精度测量。而且，本发明可以采用同一套标定装置对激光光轴与机械轴的倾斜与平移量进行检测，从而减小了测量误差以及简化了标定装置的整体结构。另外，本发明实现方便、结构简单，具有较高的测量精度。
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公开(公告)号：CN104296694B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201410508229.6
申请日：2014-09-28
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种激光跟踪仪光轴与机械转轴夹角的检测装置，包括套筒(09)，聚焦透镜(01)以及光电探测器(11)，其中聚焦透镜(01)的焦距在200～500mm范围之间。以及一种激光跟踪仪光轴与机械转轴夹角的检测力法。本发明的检测装置和方法可对激光跟踪仪的光轴与机械转轴间的夹角进行高精度检测，可提高激光跟踪仪的角度测量误差精度。本发明的装置具有设计简洁、结构简单、测量精度高、成本低廉、便于携带等特点。
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公开(公告)号：CN105444700B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201510996675.0
申请日：2015-12-25
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明公开了一种多波长多光轴平行度检测装置及检测方法，包括第一离轴抛物面反射镜、第一平面反射镜、第一分色镜、第一衰减片、第二平面反射镜、第三平面反射镜、第一倍频晶体、第二分色镜和可见光电探测器，第一离轴抛物面反射镜用于将光束反射至第一平面反射镜，第一平面反射镜用于将光束反射至第一分色镜，第一分色镜用于将短波长光束反射至第一衰减片。本发明可以探测可见到短波红外波段激光光束，可对飞秒激光跟踪仪的多波长多光束的空间夹角进行高精度检测，其测量结果可用于飞秒激光跟踪仪光轴调整和误差修正，可提高飞秒激光跟踪仪多光轴间的角度测量误差。该装置具有设计简洁，结构简单，测量精度高，成本低廉等优点。
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