可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法

    公开(公告)号:CN109358001B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN201811251434.3

    申请日:2018-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置,该固定装置包括:第一夹具组件和第二夹具组件,其中第一夹具组件至少包括第一固定夹,第二夹具组件至少包括第二固定夹,第一固定夹和第二固定夹被设置为:分别夹持待测样品的第一端和第二端,第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动,以弯曲所述待测样品。此外,本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法,测量方法采用测量系统进行测量,包括步骤:采用固定装置将待测样品夹持固定,并根据需要调整待测样品弯曲度;采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号,采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号,并进行分析。

    基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法

    公开(公告)号:CN109358001A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811251434.3

    申请日:2018-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置,该固定装置包括:第一夹具组件和第二夹具组件,其中第一夹具组件至少包括第一固定夹,第二夹具组件至少包括第二固定夹,第一固定夹和第二固定夹被设置为:分别夹持待测样品的第一端和第二端,第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动,以弯曲所述待测样品。此外,本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法,测量方法采用测量系统进行测量,包括步骤:采用固定装置将待测样品夹持固定,并根据需要调整待测样品弯曲度;采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号,采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号,并进行分析。

    基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置和测量系统

    公开(公告)号:CN209280545U

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201821735116.X

    申请日:2018-10-25

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置,该固定装置包括:第一夹具组件和第二夹具组件,其中第一夹具组件至少包括第一固定夹,第二夹具组件至少包括第二固定夹,第一固定夹和第二固定夹被设置为:分别夹持待测样品的第一端和第二端,第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动,以弯曲所述待测样品。此外,本实用新型还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统。本实用新型所述的固定装置克服了现有技术的不足,可以对可弯曲的待测样品进行测试,且可以自由方便地调节待测样品在空间内的相对位置,从而控制样品的弯曲程度,大大地增加了待测样品的可测量范围。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    基于二维封闭式光子晶体结构的二阶以上窄带通滤波器

    公开(公告)号:CN116136614B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202111356091.9

    申请日:2021-11-16

    Abstract: 本发明提供一种基于二维封闭式光子晶体结构的二阶以上窄带通滤波器,包括:第一金属板、金属柱阵列及第二金属板,金属柱阵列包括周围金属柱及缺陷金属柱;周围金属柱呈行和列等间距排布;缺陷金属柱呈列排布;缺陷金属柱两侧均与周围金属柱相邻;缺陷金属柱与相邻的周围金属柱之间的间距与两相邻周围金属柱之间的间距相等;缺陷金属柱包括第一缺陷金属柱至第N缺陷金属柱,N≥2,且以第一缺陷金属柱至第N缺陷金属柱为缺陷金属柱周期依次呈列排布,相邻两个所述缺陷金属柱周期之间具有间隔,间隔为相邻两缺陷金属柱之间间距的两倍。可解决二阶以上带通滤波器频带宽,频带工作效率相差大且频带内振荡明显的问题。

    一种太赫兹量子级联激光器的耦合输出结构及其封装方法

    公开(公告)号:CN111952837B

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202010800920.7

    申请日:2020-08-11

    Inventor: 谭智勇 曹俊诚

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹量子级联激光器的耦合输出结构,包括太赫兹量子级联激光器、第一离轴抛物面反射镜、第二离轴抛物面反射镜,所述第一离轴抛物面反射镜的焦点位于所述太赫兹量子级联激光器的前端面内,用以收集和准直所述太赫兹量子级联激光器发出的激光,并形成第一准平行光束;所述第二离轴抛物面反射镜位于所述太赫兹量子级联激光器的后端面内,用以收集和准直所述太赫兹量子级联激光器发出的激光,并形成第二准平行光束。本发明还涉及一种太赫兹量子级联激光器的耦合输出结构的封装方法。本发明能够实现双端面的激光高效耦合输出。

    一种太赫兹量子级联激光器双光梳完全锁相系统

    公开(公告)号:CN114039268B

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202111208078.9

    申请日:2021-10-18

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹量子级联激光器双光梳完全锁相系统,包括第一太赫兹量子级联激光器光频梳、第二太赫兹量子级联激光器光频梳、环形器、滤波装置和锁相装置,所述第一太赫兹量子级联激光器光频梳与第一射频注入装置相连,所述第一射频注入装置用于锁定所述第一太赫兹量子级联激光器光频梳的重复频率,所述第二太赫兹量子级联激光器光频梳与第二射频注入装置相连,所述第二射频注入装置用于锁定所述第二太赫兹量子级联激光器光频梳的重复频率并提取所述双光梳信号;所述双光梳信号依次经过所述环形器、滤波装置和锁相装置,所述锁相装置用于对提取出的梳齿进行锁定。本发明能够大幅提高太赫兹量子级联激光器双光梳的稳定性。

    一种厚度测量装置及方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118189831A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410182609.9

    申请日:2024-02-19

    Abstract: 本发明涉及一种厚度测量装置及方法。所述装置包括:光源,用来发射太赫兹光束;测量模块,用来将所述太赫兹光束转化为参考光束和探测光束,进而引导所述探测光束穿过可转动的被测样品后与所述参考光束合束形成干涉光束;计算模块,用来对所述被测样品转动过程中所述干涉光束的强度分布变化进行分析,获得所述探测光束相对所述参考光束的相位变化值,并记录所述相位变化值对应的所述被测样品的旋转角度,进而根据所述相位变化值和所述旋转角度利用相位角度公式计算得到所述被测样品的厚度。本发明能够精确测量太赫兹光可穿透样品的厚度。

    一种太赫兹准高斯平行激光束的实现装置及实现方法

    公开(公告)号:CN107807454B

    公开(公告)日:2024-04-23

    申请号:CN201711262291.1

    申请日:2017-12-04

    Inventor: 谭智勇 曹俊诚

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹准高斯平行激光束的实现装置,包括太赫兹量子级联激光器与驱动电源连接并发出太赫兹发散激光;可移动地安装在低温样品架上的调节系统;安装于调节系统上的离轴抛物面反射镜,其收集太赫兹发散激光并输出太赫兹准平行激光束;设置于低温杜瓦外部的可移动的可变孔径光阑,其对太赫兹准平行激光束进行光束优选以形成太赫兹准高斯平行激光束;以及设置于低温杜瓦外部的可移动的太赫兹阵列探测器,其对太赫兹准平行激光束的二维能量分布进行表征并校准太赫兹准平行激光束的准直性。本发明还涉及一种太赫兹准高斯平行激光束的实现方法。本发明的实现装置和实现方法能够获得稳定可靠、光束质量优异的太赫兹准高斯平行激光束。

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