-
公开(公告)号：CN115046633A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210532621.9
申请日：2022-05-10
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明涉及一种自参考太赫兹双光梳系统，包括：第一光频梳、第二光频梳、T型偏置器和分波器；第一光频梳发出的光信号经过自由空间耦合进入第二光频梳的谐振腔中，并与第二光频梳拍频产生双光梳信号；T型偏置器用于获取由第二光频梳的自探测机制得到的双光梳信号；分波器用于将双光梳信号分成两路双光梳信号，第一路双光梳信号通过梳齿提取装置提取出一根梳齿后进入混频器的LO端口，第二路双光梳信号直接进入混频器的RF端口；混频器用于将双光梳信号与提取出的一根梳齿进行混频，并向频谱分析仪输出混频后的自参考双光梳信号；频谱分析仪用于实时检测得到的自参考双光梳信号。本发明能够获得高稳定的双光梳光谱。
-
公开(公告)号：CN115266040B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202210953628.8
申请日：2022-08-10
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种量子级联激光器调制带宽测试系统和方法，其中，测试系统包括探测用量子级联激光器、第一T型偏置器、第二T型偏置器、射频源和频谱分析仪；所述待测量子级联激光器与所述探测用量子级联激光器实现光耦合，使得所述待测量子级联激光器的本征频率与所述探测用量子级联激光器的光频梳频率线混频产生拍频信号；所述射频源用于产生调制信号，并以预设频率为间距调整调制频率，使得所述待测量子级联激光器产生调制边带；所述频谱分析仪用于记录所述调制边带与所述光频梳频率线的拍频信号。本发明能够对量子级联激光器调制带宽准确表征。
-
公开(公告)号：CN115046633B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202210532621.9
申请日：2022-05-10
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明涉及一种自参考太赫兹双光梳系统，包括：第一光频梳、第二光频梳、T型偏置器和分波器；第一光频梳发出的光信号经过自由空间耦合进入第二光频梳的谐振腔中，并与第二光频梳拍频产生双光梳信号；T型偏置器用于获取由第二光频梳的自探测机制得到的双光梳信号；分波器用于将双光梳信号分成两路双光梳信号，第一路双光梳信号通过梳齿提取装置提取出一根梳齿后进入混频器的LO端口，第二路双光梳信号直接进入混频器的RF端口；混频器用于将双光梳信号与提取出的一根梳齿进行混频，并向频谱分析仪输出混频后的自参考双光梳信号；频谱分析仪用于实时检测得到的自参考双光梳信号。本发明能够获得高稳定的双光梳光谱。
-
公开(公告)号：CN116008218A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211599835.4
申请日：2022-12-14
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01 , H01S5/34
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹双光梳成像系统，包括：第一量子级联激光器、第二量子级联激光器、第一光路、第二光路和频谱分析仪；所述第一量子级联激光器以光频梳模式工作，作为采样光频梳源，用于发出太赫兹光；所述第一光路用于将所述太赫兹光汇聚至待测样品上，得到采样光频梳信号；所述第二光路用于将透过所述待测样品的采样光频梳信号耦合到所述第二量子级联激光器的谐振腔内；所述第二量子级联激光器以光频梳模式工作，作为本征光频梳，用于实现采样光频梳信号和本征光频梳信号的多外差拍频得到双光梳信号；所述频谱分析仪用于对双光梳信号进行分析记录。本发明可以同时实现样品成像与光谱特性分析。
-
公开(公告)号：CN115032844A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210309420.2
申请日：2022-03-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G02F1/35
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹双光梳光谱稳定系统，包括：光学回路，用于将第一光频梳信号和第二光频梳信号进行耦合；混频器，用于将耦合后的第一光频梳信号和第二光频梳信号进行混频，产生双光梳信号；所述混频器的本振信号端连接有多级倍频链路，所述多级倍频链路用于对射频信号进行倍频处理，再通过所述混频器倍频产生太赫兹波段的本征信号，所述太赫兹波段的本征信号分别与所述第一光频梳信号和第二光频梳信号在所述混频器中混频，在微波波段产生两个下变频光频梳信号；分别锁定两个下变频光频梳信号的梳齿以锁定载波偏移频率，从而得到稳定的双光梳光谱。本发明能够在不引入飞秒激光器的情况下对载波偏移频率进行锁定。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118431877A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410438304.X
申请日：2024-04-12
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于法里分数的太赫兹光频梳频率锁定方法及装置。其中，光频梳频率锁定方法包括以下步骤：利用光频梳源生成光梳信号；向所述光频梳源注入射频信号；通过调节所述射频信号的注入频率和注入功率锁定所述光梳信号的重复频率，所述注入频率与锁定后的所述光梳信号的重复频率的比值为法里分数。本发明能够基于不同法里分数实现灵活地射频注入频率锁定，产生重复频率稳定和低相位噪声的太赫兹光频梳源。
-
公开(公告)号：CN118232165A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410290057.3
申请日：2024-03-14
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种双光梳信号锁定系统及方法。其中，系统包括用来生成第一、二光梳信号的两个光频梳，以及用来将上述光梳信号进行拍频获得双光梳信号的探测激光器；所述探测激光器还用来生成本征信号，并利用所述本征信号分别对两个光梳信号进行下变频操作；经下变频操作后的光梳信号的相对载波频率分别被所述第一锁相模块和所述第二锁相模块锁定；所述系统还包括射频注入系统，用来对两个光频梳信号的重复频率分别进行锁定。本发明能够摆脱现有双光梳稳频系统对太赫兹高稳定本征信号、高速混频器、探测器的依赖，完全锁定两个光频梳的重复频率和相对载波频率，从而极大地提升双光梳信号的稳定性。
-
公开(公告)号：CN116222778A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310155170.6
申请日：2023-02-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种集成型太赫兹双光梳成像系统，其中，两个自由运行的太赫兹量子级联激光器光频梳安装在同一个冷头上，共享温度和机械振动噪声，采样光频梳发出的太赫兹光经离轴抛物面镜收集并汇聚于焦点处，样品放置在焦平面上，经过样品的透射光由离轴抛物面镜收集并汇聚到本征光频梳，通过激光自探测得到多外差拍频的射频双光梳信号，样品的不同位置对应各自的双光梳谱，对所有双光梳谱综合分析可实现样品的高精度成像。本发明可以进一步减小设备体积，并确保双光梳信号的稳定性。
-
公开(公告)号：CN114361940B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202111536964.4
申请日：2021-12-13
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种超表面结构调控太赫兹量子级联激光器色散的方法，在所述太赫兹量子级联激光器的谐振腔的一端形成超表面，所述超表面作为所述太赫兹量子级联激光器的谐振腔体的有效端面；所述超表面为多个亚波长单元在二维平面上排列而成；通过对所述亚波长单元的结构参数进行调整实现所述超表面在亚波长尺度下对电磁波参数进行自由调制，从而实现调节所述太赫兹量子级联激光器的腔内损耗，进而实现对色散曲线的修正。
-
公开(公告)号：CN117492307A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311757695.3
申请日：2023-12-20
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种三光梳信号生成装置及方法。所述装置包括用来生成光梳信号的第一光频梳、第二光频梳和第三光频梳，所述第三光频梳还用来探测所述第一光频梳和所述第二光频梳生成的光梳信号，并将探测获得的光梳信号与自身生成的光梳信号两两拍频获得三个双光梳信号，所述双光梳信号的频率在所述第三光频梳的探测带宽之内，所述第三光频梳探测获得所述双光梳信号并将所述双光梳信号两两拍频获得三光梳信号。本发明能够生成稳定的三光梳信号，且生成的信号保留了双光梳的优点。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
15
records
(took 0.027 seconds)
